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本申请公开了一种参数化设计的验证方法、装置、设备及存储介质，方法包括：将与输入信号对应的接口例化为第一虚接口，并将与输出信号对应的接口例化为第二虚接口；随机生成选择信号；选择信号用于作为赋值参数指示多个待测设计中的目标待测设计；响应于选择信...
该专利属于苏州华太电子技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州华太电子技术股份有限公司授权不得商用。

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