【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种金属检测装置和金属检测方法。
技术介绍
1、检测金属的金属检测装置的技术作为现有技术而被知晓(例如，参照专利文献1)。在此，起因于外部噪声等，有时金属检测装置错误地检测金属(误检测)。专利文献1的金属检测装置通过预先利用白噪声波形信号将传感器线圈进行励磁，来减少来自外部的磁噪声的检测信号，防止起因于外部噪声的误检测(参照摘要)。
2、现有技术文献
3、专利文献
4、专利文献1：日本专利第6006901号公报
技术实现思路
1、专利技术要解决的问题
2、然而，专利文献1的技术虽然能够应对起因于来自外部的磁噪声的误检测，但难以防止起因于铁等金属材料在金属检测装置的外部活动(移动)的误检测。
3、本专利技术的目的在于提供一种实现起因于外部金属的误检测的减少的金属检测装置和金属检测方法。
4、用于解决问题的方案
5、为了解决上述问题，本专利技术的一个方式所涉及的金属检测装置具备第一磁体、第二磁体、搬送部、第一磁传感器、第二磁传感器、以及一个或多个处理器。第一磁体和第二磁体产生静态磁场。第二磁体与第一磁体相向地配置。搬送部沿着通过第一磁体与第二磁体之间的路径搬送检查对象物。第一磁传感器是输出与磁场的变动对应的第一信号的传感器，与第一磁体排列配置。第二磁传感器是输出与磁场的变动对应的第二信号的传感器，与第二磁体排列配置、或者隔着第一磁传感器与第一磁体排列配置。一个或多个处理器执行判定工序。在判
6、本专利技术的其它方式所涉及的金属检测方法包括以下工序：检查对象物在第一磁体与第二磁体之间通过；从第一磁传感器获取与磁场的变动对应的第一信号；从第二磁传感器获取与磁场的变动对应的第二信号；以及判定检查对象物是否包含金属。第一磁体和第二磁体产生静态磁场。第二磁体与第一磁体相向地配置。第一磁传感器与第一磁体排列配置。第二磁传感器与第二磁体排列配置、或者隔着第一磁传感器与第一磁体排列配置。所述检查对象物是否包含金属的判定基于第一信号的强度、以及第一信号与第二信号的相位差来进行。
7、专利技术的效果
8、根据本专利技术的一个方式，能够提供一种实现起因于外部金属的误检测的减少的金属检测装置和金属检测方法。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种金属检测装置，具备：
2.根据权利要求1所述的金属检测装置，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的金属检测装置，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的金属检测装置，其特征在于，
5.根据权利要求3所述的金属检测装置，其特征在于，
6.根据权利要求2所述的金属检测装置，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的金属检测装置，其特征在于，
8.根据权利要求6所述的金属检测装置，其特征在于，
9.根据权利要求6所述的金属检测装置，其特征在于，还具备：
10.根据权利要求1至9中的任一项所述的金属检测装置，其特征在于，
11.根据权利要求1至9中的任一项所述的金属检测装置，其特征在于，
12.根据权利要求2至9中的任一项所述的金属检测装置，其特征在于，
13.一种金属检测方法，包括以下工序：
【技术特征摘要】
1.一种金属检测装置，具备：
2.根据权利要求1所述的金属检测装置，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的金属检测装置，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的金属检测装置，其特征在于，
5.根据权利要求3所述的金属检测装置，其特征在于，
6.根据权利要求2所述的金属检测装置，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的金属检测装置，其特征在于，
...【专利技术属性】
技术研发人员：牧野良保，山田达也，加贺秀明，
申请(专利权)人：新东工业株式会社，
类型：发明
国别省市：
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