【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本说明书中的公开涉及测定到对象物体为止的距离的测距装置以及测距方法。
技术介绍
1、作为测距装置，有使用光脉冲，基于光脉冲的飞行时间(tof)测定到对象物体为止的距离的技术。具体而言，从测距装置的光源射出的光的一部分在对象物体进行反射并返回到测距装置的检测器，所以能够基于从光脉冲的射出到检测器检测到反射光为止的时间，估计到对象物体为止的距离(例如参照专利文献1)。
2、专利文献1：日本特开2017－173298号公报
3、在上述的专利文献1所记载的测距装置中，例如在对象物体为近距离的情况下、以及对象物体为高亮度反射物体的情况下，有反射光脉冲的光强度过大，而超过受光元件的检测范围的情况。若反射光脉冲的强度超过受光元件的检测范围，则不明确反射光脉冲的峰值的位置，所以有距离的测定精度降低这样的问题。
技术实现思路
1、因此，公开的目的是鉴于上述的问题点而完成的，目的在于提供测定精度优异的测距装置以及测距方法。
2、本公开为了实现上述的目的而采用以下的技术手段。
3、这里公开的测距装置是朝向对象区域照射光，测定到位于对象区域的对象物体为止的距离的测距装置，包含：发光控制部，控制朝向对象区域照射光的发光部；检测信息获取部，获取检测来自对象区域的光的受光部得到的检测信息；以及距离计算部，使用检测信息计算到对象物体为止的距离，发光控制部控制为发光部在每个单位测定时间以不同的发光时间照射多个具有不同的发光强度的光脉冲，距离计算部使用由于多个光脉冲在对
4、这里公开的测距方法是用于测定到位于对象区域的对象物体为止的距离的测距方法，在通过至少一个处理器执行的处理包含：控制为发光部在每个单位测定时间以不同的发光时间朝向对象区域照射多个具有不同的发光强度的光脉冲；获取检测来自对象区域的光的受光部得到的检测信息；以及使用检测信息所包含的由于光脉冲在对象物体进行反射而产生的多个响应脉冲的检测定时来计算到对象物体为止的距离。
5、根据这样的测距装置以及测距方法，由于光脉冲在每个单位测定时间具有多个不同的发光强度以及不同的发光时间，所以若有来自对象物体的反射，则能够通过受光部得到多个响应脉冲。因此能够使用检测信息所包含的多个响应脉冲的检测定时，计算距离。例如即使在一个响应脉冲的检测定时由于饱和以及噪声等而不明确的情况下，若其它的响应脉冲的检测定时明确，则能够使用其它的响应脉冲测定距离。由此能够实现测定精度优异的测距装置以及测距方法。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种测距装置，是朝向对象区域照射光来测定到位于上述对象区域的对象物体(101)为止的距离的测距装置(100)，其中，包含：
2.根据权利要求1所述的测距装置，其中，
3.根据权利要求1所述的测距装置，其中，
4.根据权利要求2或者3所述的测距装置，其中，
5.根据权利要求1～4中任意一项所述的测距装置，其中，
6.根据权利要求1～5中任意一项所述的测距装置，其中，
7.根据权利要求1～5中任意一项所述的测距装置，其中，
8.根据权利要求1～7中任意一项所述的测距装置，其中，
9.根据权利要求1～7中任意一项所述的测距装置，其中，
10.根据权利要求1～9中任意一项所述的测距装置，其中，
11.根据权利要求1～9中任意一项所述的测距装置，其中，
12.根据权利要求1～11中任意一项所述的测距装置，其中，
13.一种测距方法，是用于测定到位于对象区域的对象物体(101)为止的距离的测距方法，其中，
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种测距装置，是朝向对象区域照射光来测定到位于上述对象区域的对象物体(101)为止的距离的测距装置(100)，其中，包含：
2.根据权利要求1所述的测距装置，其中，
3.根据权利要求1所述的测距装置，其中，
4.根据权利要求2或者3所述的测距装置，其中，
5.根据权利要求1～4中任意一项所述的测距装置，其中，
6.根据权利要求1～5中任意一项所述的测距装置，其中，
7.根据权利要求1～5中任意一项...
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