一种原位共焦显微三维形貌畸变矫正方法技术

技术编号:40501032 阅读:25 留言:0更新日期:2024-02-26 19:28
一种原位共焦显微三维形貌畸变矫正方法,它涉及一种三维形貌畸变矫正方法。本发明专利技术为了解决原位显微测量中三维形貌畸变的问题。本发明专利技术的步骤包括步骤一、建立三维振动畸变矫正模型;步骤二、扫描获取理想采样点集;步骤三、以最小二乘法拟合采样点位置;步骤四、通过对所有采样格点数据进行校正,最终可以获得校正后的三维形貌。本发明专利技术属于图像处理技术领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种三维形貌畸变矫正方法,属于图像处理。


技术介绍

1、高能激光实验中存在着大量的高功率光学元件,光学元件是限制实验功率的关键因素。随着高能激光实验功率的不断提升,对元件口径的要求也越来越大;然而,实验功率的提升也会带来相应的问题,如光学元件无法承受过高的功率从而产生损伤,影响实验安全;因此,对大口径光学元件的检测是制约实验功率提升的关键因素;在传统检测方式中,存在搬运元件及调整元件位姿的环节,不仅容易对元件造成二次损伤,而且极易引入测量误差;因此需要发展原位显微测量技术;以六自由度机械臂承载共焦显微测头的原位显微测量方式,能够解决上述问题;但由于机械臂本身固有的振动,使共焦显微在成像过程中待测元件与显微测头之间发生相对位移,从而使显微成像带有振动畸变。


技术实现思路

1、本专利技术为解决原位显微测量中三维形貌畸变的问题,进而提出一种原位共焦显微三维形貌畸变矫正方法

2、本专利技术为解决上述问题采取的技术方案是:本专利技术的步骤包括:

3、步骤一、建立三维振动畸变矫正模本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种原位共焦显微三维形貌畸变矫正方法,其特征在于:所述一种原位共焦显微三维形貌畸变矫正方法的步骤包括:

2.根据权利要求1所述的一种原位共焦显微三维形貌畸变矫正方法,其特征在于:步骤一中对于理想扫描点集:

3.根据权利要求1所述的一种原位共焦显微三维形貌畸变矫正方法,其特征在于:步骤三中将最小二乘法拟合的采样点位置作为三维重构的XY格点位置:

【技术特征摘要】

1.一种原位共焦显微三维形貌畸变矫正方法,其特征在于:所述一种原位共焦显微三维形貌畸变矫正方法的步骤包括:

2.根据权利要求1所述的一种原位共焦显微三维形貌畸变矫正方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘辰光由小玉刘俭徐振龙
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1