校正背景信号的方法和显微镜技术

本发明专利技术涉及一种用于校正模拟探测器(3)的捕获的测量值中的背景信号的方法，其中分析在参考时间段内捕获的对象的测量值，并确定捕获的背景信号的特征值。其特征在于，基于至少一个特征值并通过应用计算规范来确定阈值(Sw)；阈值(Sw)被应用于模拟探测器(3)的捕获的测量值，并且只有那些大于阈值(Sw)的测量值被用于后续的信号评估。本发明专利技术还涉及一种用于实施根据本发明专利技术的方法的显微镜(M)。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于校正模拟探测器的捕获测量值中的背景信号的方法，模拟探测器例如用于相关光谱学领域，特别是荧光相关光谱学(fcs)。

技术介绍

1、背景信号或背景噪声有各种原因；这些原因可能单独或共同存在，并以复杂的方式相互作用。在这方面，诸如暗噪声、光子噪声和读出噪声的影响以不同的比例对背景噪声做出贡献。

2、背景信号的其他原因可以是施加的暗电压和/或现有的暗电流。在本专利技术的描述过程中，术语背景信号和背景噪声被同义地使用。它们表示本质上由技术系统及其特性引起的信号(暗信号、暗噪声)。暗信号必须与由光子检测引起的信号(亮信号)区分开来。因此，在说明书的含义中，光子噪声不应被暗信号(背景信号)的概念涵盖。

3、scipioni等人的出版物(l.scipioni,l.lanzanò,a.diaspro,and e.gratton,2018,comprehensive correlation analysis for superresolution dynamicfingerprinting of cellular compartm本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于校正模拟探测器(3)的捕获测量值中的背景信号的方法，其中

2.根据权利要求1所述的方法，其中在所述参考时间段内捕获的测量值被转换成数字化形式，并且用于确定所述阈值(Sw)的特征值基于数字化的测量值来确定。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中

4.根据权利要求1所述的方法，其中捕获的背景信号的平均值及其标准差的倍数被用作特征值。

5.根据权利要求4所述的方法，其中所述计算规范以下式使用：Sw＝所述背景信号的捕获的测量值的平均值+n(所述背景信号的捕获的测量值的标准差)；其中n是实数，并且从n≥2到n≥6的范围中选择。

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【技术特征摘要】

1.一种用于校正模拟探测器(3)的捕获测量值中的背景信号的方法，其中

2.根据权利要求1所述的方法，其中在所述参考时间段内捕获的测量值被转换成数字化形式，并且用于确定所述阈值(sw)的特征值基于数字化的测量值来确定。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中

4.根据权利要求1所述的方法，其中捕获的背景信号的平均值及其标准差的倍数被用作特征值。

5.根据权利要求4所述的方法，其中所述计算规范以下式使用：sw＝所述背景信号的捕获的测量值的平均值+n(所述背景信号的捕获的测量值的标准差)；其中n是实数，并且从n≥2到n≥6的范围中选择。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中多通道探测器被用作模拟探测器(3)，并且对每个通道或探测器元件(3.m)单独执行所述背景信号的校正。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：S·卡利宁，D·胡塞，
申请(专利权)人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司，
类型：发明
国别省市：