尤其用于荧光相关光谱的显微镜方法和显微镜技术

技术编号:40501025 阅读:37 留言:0更新日期:2024-02-26 19:28
本发明专利技术涉及一种显微镜方法,其中将激发辐射(AS)的聚焦光束导向待检查对象(7)的检查位置(17),在对象(7)中产生激发体积。概观图像用于识别对象(7)的至少一个结构(15)并且将所识别的结构(15)中的至少一个定义为参考结构(16)。定义检查位置(17)和参考结构(16)的位置之间的空间关系。在总测量持续时间内采集来自激发体积的检测辐射(DS)作为测量值,该总测量持续时间被细分为多个测量间隔。在至少每第二个测量间隔之前,将聚焦光束的当前位置与检查位置(17)的当前位置进行比较。在当前位置存在不可接受的偏差的情况下,校正该聚焦光束的定位。本发明专利技术还涉及一种用于实施该方法的显微镜(M)。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种尤其可用于荧光相关光谱领域的显微镜方法。


技术介绍

1、荧光相关光谱(fcs)是共焦扫描显微镜领域、特别是共焦激光扫描显微镜领域中的一种方法,其已经证明了其例如用于检查细胞中分子行为动力学的价值。

2、举例来说,当使用激光扫描显微镜(lsm)时,可以确定荧光标记分子或自发荧光分子扩散进入lsm的共焦体积(confocal volume)以及从其扩散而出。共焦体积在下文中也被称为激发体积,其是借助于被聚焦并指向待检查对象的激发辐射束、与所谓的小孔相配合而创建的。在这种情况下,激发体积具有围绕光轴的范围,激发辐射沿着该光轴(照明轴线)辐射。此外,激发体积沿着沿该光轴(z方向;z轴的方向)的特定路径具有相应范围。

3、在荧光相关光谱的范围内检测和评估位于激发体积中或穿过激发体积的荧光分子的运动和光学行为。在这种情况下,激发体积的位置(检查位置)在fcs测量的整个时间段内相对于样品保持恒定。

4、然而,典型的fcs测量需要几秒钟,有时甚至几分钟。由于fcs测量通常是在活体样品上进行的,因此该样品或待检查样品中的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种显微镜方法,其中

2.如权利要求1所述的显微镜方法,其中,每个测量间隔具有至少0.5秒的持续时间。

3.如权利要求1所述的显微镜方法,其中,每个测量间隔具有至少一秒的持续时间。

4.如前述权利要求中任一项所述的显微镜方法,其中,所述对象(7)的结构(15)的识别以及可选地所述参考结构(16)的定义是借助于图像评估方法以自动化方式实现的。

5.如前述权利要求中任一项所述的显微镜方法,其中,所述聚焦光束的当前位置与所述检查位置(17)的当前位置的比较是基于概观图像来执行的。

6.如前述权利要求中任一项所述的显微镜方法,其中,...

【技术特征摘要】

1.一种显微镜方法,其中

2.如权利要求1所述的显微镜方法,其中,每个测量间隔具有至少0.5秒的持续时间。

3.如权利要求1所述的显微镜方法,其中,每个测量间隔具有至少一秒的持续时间。

4.如前述权利要求中任一项所述的显微镜方法,其中,所述对象(7)的结构(15)的识别以及可选地所述参考结构(16)的定义是借助于图像评估方法以自动化方式实现的。

5.如前述权利要求中任一项所述的显微镜方法,其中,所述聚焦光束的当前位置与所述检查位置(17)的当前位置的比较是基于概观图像来执行的。

6.如前述权利要求中任一项所述的显微镜方法,其中,所述聚焦光束的当前位置与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:D·胡塞S·卡利宁
申请(专利权)人:卡尔蔡司显微镜有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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