【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试台，尤其涉及一种半导体恒温测试台。
技术介绍
1、半导体是指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。
2、经检索，专利公告号为：cn216719872u公开了一种半导体恒温测试台，属于半导体
，包括工作台，所述工作台的顶部固定有自动温控部件，所述自动温控部件的顶部设置有铝制加热台，所述工作台的顶部设置有滑轨，所述滑轨的表面滑动连接有活动块，所述活动块相向的一侧设置有探针模组件，所述活动块远离探针模组件的一侧设置有推手，本技术通过自动温控部件中的加热丝方便将铝制加热台加热升高温度，对检测芯片的检测温度进行升高，同时通过温度传感器可对铝制加热台表面的温度进行检测，控制加热丝的断与开，同时对铝制加热台的温度进行自动补偿，保障铝制加热台温度的稳定，使测试充分稳定，解决了传统半导体检测台无法保持恒温环境进行检测的问题。
3、然而该结构在对半导体进行温度测试时，其通过对铝制加热台加热从而达到对半导体进行温度测试的目的，然而铝制加热台在加热过程中呈裸露状态，在此情况下使得加热台加热的热量呈现高效率的散发状态，容易导致温度测试过程中出现高温快速降低的现象，并在重复加热的情况下容易造成设备的损耗。为此，亟需提出改进方案用于解决上述问题。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体恒温测试台，可使得半导体处于恒温的状态进行测试，同时在测试过程中可降低热量的散发效率，有利于保持半导体测试效果的同时减少设备本身的损耗。p>
2、为达到以上目的，本技术采用的技术方案为：一种半导体恒温测试台，包括测试箱，所述测试箱的内底面设有加热板，所述测试箱两侧内壁的上部均设有呈相反状设置的半导体制冷片，所述测试箱外表面的前端下部设有控制器，所述测试箱外表面的前端上部设有温控组件，所述测试箱外表面的前端中部开设有开口，所述控制器与半导体制冷片和加热板以及温控组件之间均通过电性连接。
3、所述测试箱通过开口的内表面插设有抽板，所述抽板的下表面中部设有隔离网，所述抽板的后端设有折叠隔板，所述测试箱的上表面覆盖有箱盖，所述箱盖的上表面中部设有控制电脑，所述控制电脑下表面的两侧均贯穿箱盖设有测试探针，所述控制电脑与测试探针之间通过电性连接。
4、优选的，所述测试箱下表面的四角均设有脚垫。
5、优选的，所述测试箱两侧内壁的中部均设有限位槽，所述测试箱内表面的后端中部开设有收纳槽。
6、优选的，所述抽板的前端中部设有把手。
7、优选的，所述测试箱两侧的下部与箱盖的两侧均设有固定耳，所述固定耳之间共同设有电动推杆。
8、优选的，所述温控组件包括温度监测探头与温度显示盘，所述温度监测探头插设至测试箱内。
9、与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：
10、本技术方案在应用的过程中，在针对半导体进行温度测试的过程中，此测试台可使得半导体处于恒温的状态进行测试，同时在测试过程中可降低热量的散发效率，从而减少温度快速较低需要重复加热的现象，有利于保持半导体测试效果的同时减少设备本身的损耗。
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1.一种半导体恒温测试台，其特征在于，包括测试箱(1)，所述测试箱(1)的内底面设有加热板(3)，所述测试箱(1)两侧内壁的上部均设有呈相反状设置的半导体制冷片(6)，所述测试箱(1)外表面的前端下部设有控制器(7)，所述测试箱(1)外表面的前端上部设有温控组件(8)，所述测试箱(1)外表面的前端中部开设有开口(9)，所述控制器(7)与半导体制冷片(6)和加热板(3)以及温控组件(8)之间均通过电性连接；
2.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于，所述测试箱(1)下表面的四角均设有脚垫(2)。
3.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于，所述测试箱(1)两侧内壁的中部均设有限位槽(4)，所述测试箱(1)内表面的后端中部开设有收纳槽(5)。
4.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于，所述抽板(12)的前端中部设有把手(15)。
5.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于，所述测试箱(1)两侧的下部与箱盖(16)的两侧均设有固定耳(10)，所述固定耳(10)之间共同设有电动推杆
6.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于，所述温控组件(8)包括温度监测探头与温度显示盘，所述温度监测探头插设至测试箱(1)内。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体恒温测试台，其特征在于，包括测试箱(1)，所述测试箱(1)的内底面设有加热板(3)，所述测试箱(1)两侧内壁的上部均设有呈相反状设置的半导体制冷片(6)，所述测试箱(1)外表面的前端下部设有控制器(7)，所述测试箱(1)外表面的前端上部设有温控组件(8)，所述测试箱(1)外表面的前端中部开设有开口(9)，所述控制器(7)与半导体制冷片(6)和加热板(3)以及温控组件(8)之间均通过电性连接；
2.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试台，其特征在于，所述测试箱(1)下表面的四角均设有脚垫(2)。
3.根据权利要求1所述的一种半导体恒温测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：尹康，梁浩，熊茂林，
申请(专利权)人：深圳市华晶温控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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