【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电器温度控制领域，具体的说是一种在交流电工作下的温控器工作状态检测电路。
技术介绍
1、温控器是一种利用温度进行控制的装置，主要用于维持或调整特定系统的温度。其基本构造包括温度传感器、控制单元和执行装置三部分。温度传感器负责检测当前系统的温度并将其转化为可识别的信号，控制单元根据接收到的信号和预设的温度阈值进行比较，再通过执行装置进行相关操作，如开启或关闭加热元件，以维持或调整系统的温度。
2、由于其结构简单、体积小、安全可靠，以及易于安装和使用的特性，温控器被广泛应用在吹风筒、电暖气、电热水壶、饮水机等家用电器和各种加热设备中。它通过控制设备的工作温度，保证设备在预设的温度范围内运行，避免过热和过冷现象，从而保护设备及其内部元件的安全。
3、在现有的技术中，温控器主要通过对自身所处环境的温度监测来判断其工作状态。在设备正常运行时，若检测到过高的温度，温控器会自动断电，以保护设备不受过热损伤。然而，这种方式存在一定的局限性。
4、首先，当前的温控器更侧重于对环境温度的检测，而对于设备内部电机的状态，尤其是其运行时的散热情况并无直接监测。在一些特殊情况下，如吹风筒的进风口或出风口被堵塞，即使温控器已经因过热断电，电机却可能因无法得到有效的散热而继续高温运行。这种状态下，电机及其驱动控制器的寿命会大大降低，且有可能出现烧毁或其他严重的安全问题。
5、其次，尽管可以通过检测控制器内的智能功率模块（ipm）内部温度来判断设备是否堵风，但这种方法有一定的延时性。因为ipm内部的温度
6、此外，这种依赖于ipm内部温度变化的检测方法，并不能准确地反映出设备风口的堵塞情况。这意味着，用户可能无法及时了解到设备的异常状态，从而错过最佳的维护和修复时间。
7、此外，上当问题当中，看似仅需要通过在温控器及发热丝间额外增加引线，通过检测流过温控器回路电路来判断发热丝当前工作状态，存在成本高、生产难度大、电路空间浪费的情况。
8、因此，针对上述问题，开发出一种不直接通过检测温控器两端电压也回路电流也能够实时、准确地检测温控器工作状态的检测电路及其检测方法，以便更快速有效地识别设备风口堵塞情况，防止电机和驱动控制器的过热损坏，具有重要的实际意义和价值。
技术实现思路
1、本申请的目的旨在至少克服现有技术所存在的一点不足，提供一种通过识别温控器在交流电工作环境下工作状态实现对堵风状态，有效避免堵风情况下电机及驱动控制器长时间运行导致损坏的温控工作状态检测电路。
2、为实现上述目的，第一方面，本申请公开了一种温控器工作状态检测电路，该温控器工作状态检测电路与加热电路相连，所述加热电路受输入交流电供电工作，加热电路内包括根据温度控制加热电路开状态状态的温控器、起加热作用的加热丝以及根据控制信号控制加热电路工作的可控硅；温控器工作状态检测电路包括微处理器、与可控硅与微处理器连接配合的光耦偏置电路；与微处理器一输出引脚相接的与加热电路内的可控硅相接，向可控硅发送控制信号；所述微处理器通过一过零检测电路检测输入交流电的过零点位置；所述光耦偏置电路与加热电路内的可控硅的电路输入端及电路输出端相接，用于检测加热电路的导通状态，并将检测结构以及高低电平的形式输入至微处理器的输入引脚内，进而实现对加热电路内温控器的开闭状态的判断，
3、在一些实施例中，微处理器的输入引脚经由光耦隔离电路与可控硅的栅极相接，进而控制可控硅的工作并实现电器隔离。
4、在一些实施例中，微处理器中的输出引脚在输入交流电的过零位置输出高电平，使可控硅工作，进而控制加热电路工作加热。
5、在一引起实施例中，微处理器的输入引脚周期性的检测光耦偏置电路的输入，并根据光耦偏置电路的输入判断加热电路的导通状态，即检测加热电路内温控器的开闭状态，光耦偏置电路在加热电路导通时，输出低电平，在加热电路断路后输出高电平。
6、第二方面，为实现本申请的目的，本申请还公开了一种基于上述温控工作状态检测电路的温控器工作状态检测方法。包括以下步骤：
7、步骤一：微处理器通过过零检测电路检测输入交流电的过零点；
8、步骤二：微处理器调整输出引脚在输入交流电的过零点输出并控制可控硅工作，使加热电路工作；
9、步骤三；微处理器周期性的检测光耦偏置电路的输出，根据光耦偏置电路的输出判断加热电路内温控器的开闭状态。
10、本申请通过检测加热电路的导通状态进而检测温控器的工作状态，能够更快速有效地识别出设备进风口和出风口的堵塞情况。一旦温控器断电，就可以判断出设备的风口已经被堵塞。
11、这种方法可以避免在堵风情况下电机及驱动控制器长时间运行，进而避免因过热而损坏，大大增强了设备的使用寿命和安全性。此外，由于这种方法能够快速检测到风口堵塞，用户也可以及时采取措施，如清理或更换风口，避免设备的进一步损坏。这一技术对日常家用电器的稳定运行以及用户的安全使用带来显著的贡献。
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1.一种温控器工作状态检测电路，该温控器工作状态检测电路与加热电路相连，所述加热电路受输入交流电供电工作，加热电路内包括根据温度控制加热电路开状态状态的温控器、起加热作用的加热丝以及根据控制信号控制加热电路工作的可控硅，其特征在于：温控器工作状态检测电路包括微处理器、与可控硅与微处理器连接配合的光耦偏置电路；微处理器一输出引脚与加热电路内的可控硅相接，向可控硅发送控制信号；所述微处理器通过一过零检测电路检测输入交流电的过零点位置；所述光耦偏置电路与加热电路内的可控硅的电路输入端及电路输出端相接，用于检测加热电路的导通状态，并将检测结构以及高低电平的形式输入至微处理器的输入引脚内，进而实现对加热电路内温控器的开闭状态的判断。
2.如权利要求1中所述的一种温控器工作状态检测电路，其特征在于：微处理器的输入引脚经由光耦隔离电路与可控硅的栅极相接，进而控制可控硅的工作并实现电器隔离。
3.如权利要求1中所述的一种温控器工作状态检测电路，其特征在于：微处理器中的输出引脚在输入交流电的过零位置输出高电平，使可控硅工作，进而控制加热电路工作加热。
4.如权利
...【技术特征摘要】
1.一种温控器工作状态检测电路，该温控器工作状态检测电路与加热电路相连，所述加热电路受输入交流电供电工作，加热电路内包括根据温度控制加热电路开状态状态的温控器、起加热作用的加热丝以及根据控制信号控制加热电路工作的可控硅，其特征在于：温控器工作状态检测电路包括微处理器、与可控硅与微处理器连接配合的光耦偏置电路；微处理器一输出引脚与加热电路内的可控硅相接，向可控硅发送控制信号；所述微处理器通过一过零检测电路检测输入交流电的过零点位置；所述光耦偏置电路与加热电路内的可控硅的电路输入端及电路输出端相接，用于检测加热电路的导通状态，并将检测结构以及高低电平的形式输入至微处理器的输入引脚内，进而实现对加热电路内温控器的开闭状态的判...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙家广，罗荣，李侠，
申请(专利权)人：广东联首活力科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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