一种恒温测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种恒温测试装置，包括本体，所述本体上设有高温测试台和低温测试台；所述高温测试台设有陶瓷加热组件，所述低温测试台设有半导体制冷组件。本实施例通过本体上设置高温测试台和低温测试台，通过陶瓷加热组件的作用，能够使得高温测试台保持恒定的温度，而通过半导体制冷组件能够使得低温测试台保持恒定的温度，从而便于用户对产品在不同温度下的性能进行测试，简单便捷；本恒温测试装置体积小，便于移动携带，更便于使用。更便于使用。更便于使用。

【技术实现步骤摘要】
一种恒温测试装置


[0001]本技术实施例涉及恒温测试
，尤其涉及一种恒温测试装置。

技术介绍

[0002]现有的一些材料在生产完成后，对需要对材料本身在不同温度的情况下的性能进行测试，例如硬度、韧性等，但现有的测试装置都比较大，在使用时存在不便，不利于使用。

技术实现思路

[0003]本技术为解决上述
技术介绍
中提出的技术问题，提供了一种恒温测试装置。
[0004]本技术提供了一种恒温测试装置，包括本体，所述本体上设有高温测试台和低温测试台；所述高温测试台设有陶瓷加热组件，所述低温测试台设有半导体制冷组件。
[0005]进一步地，所述本体上还设有与本体罩合连接的罩体；所述罩体的一端转动连接于本体。
[0006]进一步地，所述罩体设有用于容纳高温测试台和低温测试台的容纳腔。
[0007]进一步地，所述陶瓷加热组件包块装设于高温测试台上的陶瓷加热片。
[0008]进一步地，所述半导体制冷组件包括半导体制冷片及装设于半导体制冷片热端的散热组件；所述半导体制冷片的冷端与低温测试台连接。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种恒温测试装置，其特征在于：包括本体，所述本体上设有高温测试台和低温测试台；所述高温测试台设有陶瓷加热组件，所述低温测试台设有半导体制冷组件；所述半导体制冷组件包括半导体制冷片及装设于半导体制冷片热端的散热组件；所述半导体制冷片的冷端与低温测试台连接。2.如权利要求1所述的恒温测试装置，其特征在于：所述本体上还设有与本体罩合连接的罩体；所述罩体的一端转动连接于本体。3.如权利要求2所述的恒温测试装置，其特征在于：所述罩体设有用于容纳高温测试台和低温测试台的容纳腔。4.如权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹康，梁浩，刘义刚，
申请(专利权)人：深圳市华晶温控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：