【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及直接液冷芯片的强化沸腾传热表面的制备,特别是关于一种可降低成 本的强化沸腾传热表面的制备方法和技术。
技术介绍
随着微电子技术的快速发展,芯片上大规模集成电路的密集化和电子器件的微型 化已成为现代电子设备发展的主流趋势。这将直接导致芯片的散热量高速增加。如果芯片 的性能继续以目前的高速度发展,耗能和散热将成为横在其前进路上最大的绊脚石。能否 解决这两个问题,将成为整个信息产业甚至全球经济性命交关的大问题。高效芯片散热技 术的研究已成了制约芯片新一代产品开发的关键。风冷技术是冷却芯片降低芯片温度的重要手段,但是具有较为明显的缺点1向大体积和超重量发展;2噪音上升;3散热能力有限。液冷技术是冷却芯片的另一有效手段。它的优点是1散热效率高;2噪音小。缺点是安全性和稳定性差。与光滑沸腾加热面相比,通过机械加工、化学腐蚀、气相沉积、激光钻孔等方法改 变表面结构可有效提高电子器件的沸腾性能。但这些微结构都未能有效改善高热流密度区 的沸腾换热性能,且制备设备、方法价格昂贵。为解决上述问题,本专利技术提供了一种廉价的强化沸腾表面制备方法,可制备出在 管道式的自然循 ...
【技术保护点】
一种新的直接液冷芯片强化传热表面制备方法,其特征为,包括以下步骤:a、使用LB膜法、自组装法、旋涂法或者竖片生长法在基体上制备出具有规则结构的模板;b、使用溶胶-凝胶法填充由步骤a中制成的模板;c、使用煅烧或溶解方法去除所述模板,获得带有表面微结构的强化传热表面。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:王育人,曹鹤,
申请(专利权)人:中国科学院力学研究所,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]