【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体,具体涉及一种集成柱形沟槽源极控制续流通道sicumos及制备方法。
技术介绍
1、第三代半导体材料碳化硅具有带隙宽、击穿场强高、热导率高、饱和电子迁移速率高、物理化学性能稳定等特性,可适用于高温,高频,大功率和极端环境。碳化硅具有更大的禁带宽度和更高的临界击穿场强。相比同等条件下的硅功率器件,碳化硅器件的耐压程度约为硅材料的10倍。另外,碳化硅器件的电子饱和速率较高、正向导通电阻小、功率损耗较低,适合大电流大功率运用,降低对散热设备的要求。相对于其它第三代半导体(如gan)而言,碳化硅能够较方便的通过热氧化形成二氧化硅。sic具有独特的物理、化学及电学特性,是在高温、高频、大功率及抗辐射等极端应用领域极具发展潜力的半导体材料。而sic功率器件具有输入阻抗高、开关速度快、工作频率高耐高压等一系列优点,在开关稳压电源、高频以及功率放大器等方面取得了广泛的应用。
2、使用碳化硅材料制作的mos场效应晶体管功率器件比si器件能够承受更高的电压和更快的开关速度。对于常规si mos而言,其体二极管开启电压仅为0.
...【技术保护点】
1.一种集成柱形沟槽源极控制续流通道SiC UMOS,其特征在于,包括:至少一个源极沟槽;
2.根据权利要求1所述的一种集成柱形沟槽源极控制续流通道SiC UMOS,其特征在于,多个所述源极沟槽沿第一方向依次排列。
3.根据权利要求1所述的一种集成柱形沟槽源极控制续流通道SiC UMOS,其特征在于,还包括:P+屏蔽层;
4.根据权利要求1所述的一种集成柱形沟槽源极控制续流通道SiC UMOS,其特征在于,所述源极氧化层的厚度为50-100nm。
5.根据权利要求1所述的一种集成柱形沟槽源极控制续流通道SiC UMOS,
...【技术特征摘要】
1.一种集成柱形沟槽源极控制续流通道sic umos,其特征在于,包括:至少一个源极沟槽;
2.根据权利要求1所述的一种集成柱形沟槽源极控制续流通道sic umos,其特征在于,多个所述源极沟槽沿第一方向依次排列。
3.根据权利要求1所述的一种集成柱形沟槽源极控制续流通道sic umos,其特征在于,还包括:p+屏蔽层;
4.根据权利要求1所述的一种集成柱形沟槽源极控制续流通道sic umos,其特征在于,所述源极氧化层的厚度为50-100nm。
5.根据权利要求1所述的一种集成柱形沟槽源极控制续流通道sic umos,其特征在于,所述p-well层的掺杂浓度为1017cm-3。
6.根据权利要求1所述的一种集成柱形沟槽源极控制续流通道sic ...
【专利技术属性】
技术研发人员:乔凯,
申请(专利权)人:天狼芯半导体成都有限公司,
类型:发明
国别省市:
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