【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体设计和生产，特别是涉及一种网格状绕线薄弱点检测方法、装置和计算机设备。
技术介绍
1、芯片绕线过程中为了减小金属走线带来的电阻，通常会采用网格状走线的形式完成芯片绕线，网格状走线是软件根据器件和pad相对位置及其他金属走线产生的，如果绕线可用区域不够，该区域可能会形成整体绕线的瓶颈及薄弱点。
2、相关技术中，主要是通过仿真或使用专业工具检查走线薄弱点，其主要检查方式均是通过在走线的输入输出端分别加电信号，计算得出电阻值，以确定薄弱点。然而通过上述方式对绕线做检测时，还需要购买软件使用授权，并且使用门槛也较高，对相关技术人员专业技术要求较高。
3、目前，针对现有技术中对走线薄弱点检测的方法门槛较高且技术较为繁琐的问题，尚未提出有效地解决方案。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种网格状绕线薄弱点检测方法、装置和计算机设备。
2、第一方面，本申请提供了一种网格状绕线薄弱点检测方法。所述方法包括：
3、获取待检测的网格状绕线结构；网格状绕线结构包括沿着第一方向的第一走线，第一方向为与电信号传输方向相同的方向；
4、设置辅助条纹，并获取与辅助条纹相交的第一走线数量；
5、基于第一走线数量，确定网格状绕线结构的走线薄弱点。
6、在其中一个实施例中，获取与辅助条纹相交的第一走线数量，包括：获取网格状绕线结构中，与辅助条纹相交的第一走线数量。
7、在其中一个实施例
8、在所述网格状绕线结构中，所述第一走线数量小于预设的走线阈值的区域，确定为所述网格状绕线结构的走线薄弱点。
9、在其中一个实施例中，设置辅助条纹，包括：
10、确定网格状绕线结构中包括的沿第二方向的第二走线，并删除网格状绕线结构中的第二走线。
11、在其中一个实施例中，设置辅助条纹，包括：
12、在包括网格状绕线结构的矩形框内，设置辅助条纹，其中，辅助条纹沿第二方向排列，所有辅助条纹的宽度相等，辅助条纹之间的间距相等，且第二方向与第一方向垂直。
13、在其中一个实施例中，获取待检测的网格状绕线结构，包括：
14、确定版图中的待检测区域，获取所述待检测区域中绕线相关图层的图形，作为目标图形；
15、删除所述目标图形中的接口结构，得到所述网格状绕线结构。
16、在其中一个实施例中，删除所述目标图形中的接口结构，包括：
17、在目标图形中通过预设尺寸的图形定位接口结构，将接口结构进行删除。
18、在其中一个实施例中，获取待检测的网格状绕线结构，包括：
19、删除所述目标图形中的单根走线结构，得到所述网格状绕线结构。
20、在其中一个实施例中，删除所述目标图形中的单根走线结构，包括：
21、在所述目标图形中，通过获取走线面积小于预设面积阈值的绕线结构，实现获取单根走线结构，将所述单根走线结构进行删除。
22、第二方面，本申请还提供了一种网格状绕线薄弱点检测装置。所述装置包括：
23、获取模块，用于获取待检测的网格状绕线结构；其中，所述网格状绕线结构包括沿着第一方向的第一走线，所述第一方向为与电信号传输方向相同的方向；
24、生成模块，用于设置辅助条纹，并获取与辅助条纹相交的第一走线数量；
25、计算模块，用于基于第一走线数量，确定网格状绕线结构的走线薄弱点。
26、第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
27、获取网格状绕线结构；其中，网格状绕线结构包括沿着第一方向的第一走线，第一方向为与预设的电信号传输方向相同的方向；
28、设置辅助条纹，并获取与辅助条纹相交的第一走线数量；
29、基于第一走线数量，确定网格状绕线结构的走线薄弱点。
30、上述网格状绕线薄弱点检测方法、装置和计算机设备，首先，获取网格状绕线结构，该网格状绕线结构包括沿第一方向的第一走线，该第一方向与电信号传输方向相同；而后，设置辅助条纹，并确定和辅助条纹相交的第一走线数量；最后基于第一走线数量确定网格状绕线结构的走线薄弱点。通过上述方法可以无需使用现有的专业工具完成对薄弱点的检测，并且在可以快速确定薄弱点区域的基础上，本申请具有较大的应用范围，涉及到需要利用第一走线来减小电阻或提高工作效率的器件，都可适用本申请的薄弱点检测方法。
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1.一种网格状绕线薄弱点检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一走线数量，确定所述网格状绕线结构的走线薄弱点，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置辅助条纹，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置辅助条纹，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待检测的网格状绕线结构，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，删除所述目标图形中的接口结构，包括：
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取待检测的网格状绕线结构，还包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，删除所述目标图形中的单根走线结构，包括：
9.一种网格状绕线薄弱点检测装置，其特征在于，所述装置包括：
10.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。
【技术特征摘要】
1.一种网格状绕线薄弱点检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一走线数量，确定所述网格状绕线结构的走线薄弱点，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置辅助条纹，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置辅助条纹，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待检测的网格状绕线结构，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：万晶，杨璐丹，瞿屹超，
申请(专利权)人：杭州广立微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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