【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路功耗测试，具体涉及一种集成电路功耗测试系统。
技术介绍
1、集成电路功耗测试系统被广泛应用于集成电路设计、制造和性能评估等领域。它提供了对芯片功耗的准确测试和分析，为工程师们提供了重要的参考数据，帮助他们验证设计目标、发现潜在问题并进行优化，集成电路指的是多个电子器件(如晶体管、电阻、电容等)和导线等元件在一块半导体芯片上集成而成的电路；
2、然而，但是在对集成电路功耗进行测试时，一旦集成电路的中各个电子器件出现故障，系统会针对故障器件对生成多个维修方案进行推荐，但是并没有考虑到集成电路急需进行使用且不存在备用器件的情况，无法对集成电路进行快速维修使得集成电路尽快恢复使用，基于此，提出一种集成电路功耗测试系统。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种集成电路功耗测试系统，解决了一旦集成电路的中各个电子器件出现故障，系统会针对故障器件对生成多个维修方案进行推荐，但是并没有考虑到集成电路急需进行使用且不存在备用器件的情况，无法对集成电路进行快速维修使得...
【技术保护点】
1.一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，获取集成电路中各个电子器件分别对应的功耗区间的具体方式为：
3.根据权利要求2所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，对各个电子器件中的故障器件进行标记的方式为：
4.根据权利要求3所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，生成各个电子器件分别对应的维修方案包的具体方式为：
5.根据权利要求4所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，对各个电子器件分别对应急维修方案进行标记的具体方式为：
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【技术特征摘要】
1.一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，获取集成电路中各个电子器件分别对应的功耗区间的具体方式为：
3.根据权利要求2所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，对各个电子器件中的故障器件进行标记的方式为：
4.根据权利要求3所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：史云，蒋飞，史和平，王国珍，曹蒋杰，
申请(专利权)人：常州市泽宸电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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