【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路功耗测试，具体涉及一种集成电路功耗测试系统。
技术介绍
1、集成电路功耗测试系统被广泛应用于集成电路设计、制造和性能评估等领域。它提供了对芯片功耗的准确测试和分析，为工程师们提供了重要的参考数据，帮助他们验证设计目标、发现潜在问题并进行优化，集成电路指的是多个电子器件(如晶体管、电阻、电容等)和导线等元件在一块半导体芯片上集成而成的电路；
2、然而，但是在对集成电路功耗进行测试时，一旦集成电路的中各个电子器件出现故障，系统会针对故障器件对生成多个维修方案进行推荐，但是并没有考虑到集成电路急需进行使用且不存在备用器件的情况，无法对集成电路进行快速维修使得集成电路尽快恢复使用，基于此，提出一种集成电路功耗测试系统。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种集成电路功耗测试系统，解决了一旦集成电路的中各个电子器件出现故障，系统会针对故障器件对生成多个维修方案进行推荐，但是并没有考虑到集成电路急需进行使用且不存在备用器件的情况，无法对集成电路进行快速维修使得集成电路尽快恢复使用的技术问题。
2、本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：
3、一种集成电路功耗测试系统，包括：
4、数据收集模块，对时间范围t内集成电路中各个电子器件的历史功耗测试数据进行获取，并将其发送至数据分析模块；时间范围t指代为从获取数据的当下起算往前推160天这一时间段，获取数据的当下不计算在内，即t＝160；
5、数据分析模块，用
6、数据监测模块，用于实时对集成电路中各个电子器件的功耗进行获取并进行对比分析，根据对比分析结果对各个电子器件中的故障器件进行标记，并将其发送至维修方案输出用模块；
7、维修方案包生成模块，用于对各个电子器件对应的多个维修方案的历史维修记录进行去量化分析计算，根据分析结果获得各个电子器件的各个维修方案分别对应的应急值，根据各个维修方案分别对应的应急值生成各个电子器件分别对应的维修方案包，并将其传输至应急维修方案判定模块；
8、应急维修方案判定模块，用于对各个电子器件分别对应的维修方案包进行接收，并对其进行分析，进而对各个电子器件分别对应急维修方案进行标记，同时将其发送至维修方案输出用模块；
9、维修方案输出用模块，用于对各个电子器件和其对应的应急维修方案进行获取，同时对故障器件进行获取，然后根据接收到故障器件类型时，对与之对应的应急维修方案进行输出至显示终端。
10、作为本专利技术进一步的方案：获取集成电路中各个电子器件分别对应的功耗区间的具体方式为：
11、s1：选取一个电子器件为目标元器件；
12、s2：对目标元器件在时间范围t内的功耗测试数值进行获取，并将其标记为ai，其中i指代为功耗测试数值对应的数量，i≥1；
13、s3：获取目标元器件在时间范围t内各个功耗测试数值ai分别对应的持续时长，并将其分别标记为b i；
14、s4：通过公式计算获得目标元器件在时间范围t内的总测试功耗值ab1；
15、s5：通过公式计算获得各个测试数值ai分别对应的功耗系数c1 i，其中i≥i 1≥1，θ1为预设系数；
16、s5：获取各个功耗系数c1 i中的最大值c1 max和最大值c1 min，获取c1max和c1 min，分别对应的测试数值，并经其分别标记为ac1和ad1，通过ac1和ad1组成目标元器件对应的功耗区间[ac1，ad1]；
17、s6：重复以上步骤s1-s5，即可获得集成电路中各个电子器件分别对应的功耗区间[acn，adn]，其中n指代为集成电路中电子器件对应的数量，n≥1。
18、作为本专利技术进一步的方案：对各个电子器件中的故障器件进行标记的方式为：
19、s01：选取一个电子器件为目标元器件；
20、s02：连续j次获得目标元器件在时间段t1内的功耗，并将其标记为ej，此处t1＝30min，j≥1；
21、s03：将ej代入至目标元器件对应的功耗区间[acn1，adn1]中，将ej中大于acn1的数值数量标记为f1，小于adn1的数值数量标记为f2，其中n≥n1≥1；
22、s04：通过公式β2×f1+β2×f2＝fe1，计算获得目标元器的异常系数fe1，当fe1≥y1时，则将目标元器标记为故障器件，
23、当fe1＜y1时则不做任何处理；
24、s05：重复步骤s01-s04，即可对各个电子器件进行判断，此处β1≥β2，y1预设值。
25、作为本专利技术进一步的方案：生成各个电子器件分别对应的维修方案包的具体方式为：
26、s11：选取一个电子器件为目标元器件通过分析获得目标元器件多个维修方案的历史维修记录获得，目标元器件多个维修方案分别对应的应急推荐指数，获得目标元器件多个维修方案分别对应的应急推荐指数的具体方式为：
27、s1111：从目标元器件的多个维修方案中选取一个作为目标方案，获取目标方案在一定维修次数h内每次的维修耗时，并将其标记为hh；此处h的取值为60次，具体指代为从当下使用次数起算，往前推60次的这一使用次数，获取数据的当下使用次数的数据不计入在内；
28、s1112：通过公式计算在使用次数h内目标方案维修耗时hh的离散值w，其中hp为目标方案在使用次数h内维修耗时hh的均值，1≤h1≤h；
29、若w≤y2，则将hp作为目标方案的标准维修耗时k1；若w>y2，则根据|hh1-hp|的值从大到小的顺序将对应的hh1的值进行删除，并在每次删除后对剩余hh1的离散值w进行重新计算，同时对删除的hh1的个数o1进行记录，直至满足w≤y2；若o1<y3，则计算剩余hh1的均值，并将其作为目标方案的标准维修耗时k1；若o1≥y3则计算剩余hh最大值和最小值的均值作为目标方案的标准维修耗时k1，即此处y2和y3为预设数值；
30、s1113：重复以上步骤s1111-s1112，即可获得目标元器件的多个维修方案分别对应的标准维修耗时kk，其中k指代为目标元器件对应的维修方案的数量，1≤k；
31、s1114：获取使用目标方案在对目标元器件进行维修时在一定时间范围内对应的复修次数和每次复修对应的复修间隔时长，并将其依次标记为fxu和xtu；
32、s1115：获取fxu中所有满足判定公式l1的数值的均值，并将其标记为fu11，将fu21标记为目标方案对应的标准复修次数，判定公式l1为|fxu-fxp|≤y4；
33、s1116：获取到xtu所有满足判定公式l2的数值的均值，并将其标记为fu2，将fu2标记为目标方案对应的标准复修间隔，判定公式l1为|xtu本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，获取集成电路中各个电子器件分别对应的功耗区间的具体方式为：
3.根据权利要求2所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，对各个电子器件中的故障器件进行标记的方式为：
4.根据权利要求3所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，生成各个电子器件分别对应的维修方案包的具体方式为：
5.根据权利要求4所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，对各个电子器件分别对应急维修方案进行标记的具体方式为：
6.根据权利要求1所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，显示终端；用于对故障器件对应的应急维修方案进行显示。
【技术特征摘要】
1.一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，获取集成电路中各个电子器件分别对应的功耗区间的具体方式为：
3.根据权利要求2所述的一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，对各个电子器件中的故障器件进行标记的方式为：
4.根据权利要求3所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：史云，蒋飞，史和平，王国珍，曹蒋杰，
申请(专利权)人：常州市泽宸电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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