【技术实现步骤摘要】
本技术涉及长晶技术,具体涉及一种套件组合式晶体基片承载台。
技术介绍
1、现有的晶体基片承载台多半为单层或下沉式设计,单层设计的钼盘无法很好地控制等离子球吸附至表面,从而导致长晶过程中可能出现球形不稳定,甚至沉积区脱离钼盘的现象;下沉式设计的钼盘无法很好处理长晶过程中会出现的积碳污染,从而会影响长晶品质。
技术实现思路
1、为解决上述问题,本技术提出了一种套件组合式晶体基片承载台。
2、本技术的技术方案:
3、一种套件组合式晶体基片承载台,所述承载台包括台座;所述承载台还包括钼环、钼片,所述台座上设置有环状槽,所述钼环与台座上的环状槽相匹,其嵌在台座上的环状槽内,与台座之间形成一凹槽,所述钼片与钼环相匹,其设置在钼环内、支撑在台座上。
4、所述钼环一周圈均匀分布设置有若干开孔。
5、本技术的优点是,设计合理,结构简单,解决单层式钼盘无法很好吸附等离子球的问题,解决下沉式架构无法很好处理积碳的问题,使mpcvd长晶过程中,微波等离子球很好地吸附
...【技术保护点】
1.一种套件组合式晶体基片承载台,所述承载台包括台座;其特征在于,所述承载台还包括钼环、钼片,所述台座上设置有环状槽,所述钼环与台座上的环状槽相匹,其嵌在台座上的环状槽内,与台座之间形成一凹槽,所述钼片与钼环相匹,其设置在钼环内、支撑在台座上。
2.根据权利要求1所述的一种套件组合式晶体基片承载台,其特征在于,所述钼环一周圈均匀分布设置有若干开孔。
【技术特征摘要】
1.一种套件组合式晶体基片承载台,所述承载台包括台座;其特征在于,所述承载台还包括钼环、钼片,所述台座上设置有环状槽,所述钼环与台座上的环状槽相匹,其嵌在台座上的环状槽内,与台座之间...
【专利技术属性】
技术研发人员:张新峰,德米特罗维奇·德米特里,缪勇,龙安泽,高欣,徐军辉,
申请(专利权)人:江苏卓远半导体有限公司,
类型:新型
国别省市:
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