【技术实现步骤摘要】
本申请涉及固态硬盘检测的，尤其是涉及一种用于ssd的pcb检测装置。
技术介绍
1、固态硬盘，即ssd，作为新一代的储存装置，具备高容量密度、不受外力破坏等优势。一个固态硬盘，其内部包括主控芯片、电源控制芯片、闪存芯片等集成电路芯片。其中，闪存芯片是固态硬盘内部用于储数据的主体。在做容量升级时,需要更换不同闪存芯片，在更换过程中会造成部分pcb损坏或不良，而肉眼无法检测pcb是否正常，只能重焊接闪存芯片后再做检测，如有不良需再次拆除闪存芯片，如此造成效率低下、重复拆装的问题，因此需要一种pcb检测装置，以便于能够对pcb进行直接检测pcb。
技术实现思路
1、为了改善上述现有技术中无法对pcb直接检测造成效率低下、重复拆装的问题，本申请提供一种用于ssd的pcb检测装置。
2、本申请提供的一种用于ssd的pcb检测装置采用如下的技术方案：
3、一种用于ssd的pcb检测装置，包括底座和内芯组件，所述底座上开设有用于放置内芯组件的凹槽；所述内芯组件包括内芯一和内芯二，所述内芯一内设置有至少一个flash芯片，所述内芯二内设置有若干测试针，所述测试针的一端与flash芯片的脚位接触；所述内芯一设置在凹槽底部，所述内芯二设置在内芯一上方；测试时，待测ssd板放置在内芯片二上，所述测试针的另一端与ssd板上的脚位接触。
4、优选的，所述内芯组件可拆卸设置在凹槽内。
5、优选的，所述凹槽底壁开设有若干定位孔一，所述内芯一上开设有定位孔二，所述内
6、优选的，所述内芯二上设置有至少一个定位柱，当待测ssd板放置在内芯二上时，定位柱插设在待测ssd板上的孔内。
7、优选的，所述底座上开设有若干让位槽，所述让位槽用于避开待测ssd板上的电子元器件。
8、优选的，所述底座上设置有转动设置有压盖，所述压盖的表面上设置有凸台，所述凸台用于抵住待测ssd板，使得ssd板压紧在内芯二上。
9、优选的，所述凸台上设置有防静电耐高温软垫。
10、优选的，所述压盖与底座之间设置有搭扣，通过搭扣将压盖固定在底座上；所述搭扣包括固定杆和倒钩，所述固定杆固定在底座上，所述倒钩销接在压盖上，当压盖抵接在待测ssd板上时，倒钩勾在固定杆上。
11、综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
12、1.本申请，在做容量升级时,需要更换不同闪存芯片，在更换过程中会造成部分pcb损坏或不良，将待测ssd放置在本装置上，连接电脑即可以直接检测pcb是否正常，这样，工作效率高，节省了拆装时间。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种用于SSD的PCB检测装置，其特征在于：包括底座(1)和内芯组件(2)，所述底座(1)上开设有用于放置内芯组件(2)的凹槽(11)；所述内芯组件(2)包括内芯一(21)和内芯二(22)，所述内芯一(21)内设置有至少一个FLASH芯片(3)，所述内芯二(22)内设置有若干测试针(4)，所述测试针(4)的一端与FLASH芯片(3)的脚位接触；所述内芯一(21)设置在凹槽(11)底部，所述内芯二(22)设置在内芯一(21)上方；测试时，待测SSD板放置在内芯片二上，所述测试针(4)的另一端与SSD板上的脚位接触。
2.根据权利要求1所述的一种用于SSD的PCB检测装置，其特征在于：所述内芯组件(2)可拆卸设置在凹槽(11)内。
3.根据权利要求1所述的一种用于SSD的PCB检测装置，其特征在于：所述凹槽(11)底壁开设有若干定位孔一(12)，所述内芯一(21)上开设有定位孔二(211)，所述内芯二(22)上开设有若干定位孔三(221)，所述定位孔一(12)、定位孔二(211)和定位孔三(221)内共同穿设有定位销(5)，通过定位销(5)将内芯组件(2)
4.根据权利要求3所述的一种用于SSD的PCB检测装置，其特征在于：所述内芯二(22)上设置有至少一个定位柱(6)，当待测SSD板放置在内芯二(22)上时，定位柱(6)插设在待测SSD板上的孔内。
5.根据权利要求1所述的一种用于SSD的PCB检测装置，其特征在于：所述底座(1)上开设有若干让位槽(13)，所述让位槽(13)用于避开待测SSD板上的电子元器件。
6.根据权利要求1所述的一种用于SSD的PCB检测装置，其特征在于：所述底座(1)上设置有转动设置有压盖(7)，所述压盖(7)的表面上设置有凸台(8)，所述凸台(8)用于抵住待测SSD板，使得SSD板压紧在内芯二(22)上。
7.根据权利要求6所述的一种用于SSD的PCB检测装置，其特征在于：所述凸台(8)上设置有防静电耐高温软垫。
8.根据权利要求6所述的一种用于SSD的PCB检测装置，其特征在于：所述压盖(7)与底座(1)之间设置有搭扣(9)，通过搭扣(9)将压盖(7)固定在底座(1)上；所述搭扣(9)包括固定杆(91)和倒钩(92)，所述固定杆(91)固定在底座(1)上，所述倒钩(92)销接在压盖(7)上，当压盖(7)抵接在待测SSD板上时，倒钩(92)勾在固定杆(91)上。
...【技术特征摘要】
1.一种用于ssd的pcb检测装置，其特征在于：包括底座(1)和内芯组件(2)，所述底座(1)上开设有用于放置内芯组件(2)的凹槽(11)；所述内芯组件(2)包括内芯一(21)和内芯二(22)，所述内芯一(21)内设置有至少一个flash芯片(3)，所述内芯二(22)内设置有若干测试针(4)，所述测试针(4)的一端与flash芯片(3)的脚位接触；所述内芯一(21)设置在凹槽(11)底部，所述内芯二(22)设置在内芯一(21)上方；测试时，待测ssd板放置在内芯片二上，所述测试针(4)的另一端与ssd板上的脚位接触。
2.根据权利要求1所述的一种用于ssd的pcb检测装置，其特征在于：所述内芯组件(2)可拆卸设置在凹槽(11)内。
3.根据权利要求1所述的一种用于ssd的pcb检测装置，其特征在于：所述凹槽(11)底壁开设有若干定位孔一(12)，所述内芯一(21)上开设有定位孔二(211)，所述内芯二(22)上开设有若干定位孔三(221)，所述定位孔一(12)、定位孔二(211)和定位孔三(221)内共同穿设有定位销(5)，通过定位销(5)将内芯组件(2)固定在凹槽(11)内。
4.根据权利要求3所述的一种用于ss...
【专利技术属性】
技术研发人员：张治强，
申请(专利权)人：江苏长晟半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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