半导体存储器装置和包括半导体存储器装置的存储器系统制造方法及图纸

技术编号:40197916 阅读:36 留言:0更新日期:2024-01-27 00:01
提供半导体存储器装置和包括半导体存储器装置的存储器系统。所述半导体存储器装置包括存储器单元阵列、片上纠错码(ECC)引擎和控制逻辑电路。片上ECC引擎包括第一锁存器和第二锁存器。控制逻辑电路响应于第一模式寄存器设置命令而将所述半导体存储器装置设置为测试模式。在测试模式下,片上ECC引擎切断与存储器单元阵列的连接,接收测试数据,将测试数据存储在第一锁存器中,响应于读取命令,对存储在第一锁存器中的测试数据和存储在第二锁存器中的测试奇偶校验数据执行ECC解码,并且向外部装置提供严重度信号,严重度信号指示测试数据和测试奇偶校验数据是否包括至少一个错误位并且所述至少一个错误位是否可校正。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及存储器,并且更具体地涉及半导体存储器装置和包括半导体存储器装置的存储器系统


技术介绍

1、半导体存储器装置可被分类为非易失性存储器装置(诸如,闪存装置)和易失性存储器装置(诸如,dram)。dram的高速操作和成本效率使得dram可用于系统存储器。由于dram的制造设计规则中的持续缩小,dram中的存储器单元的位错误可能快速增加并且dram的良率可能降低。因此,存在对半导体存储器装置的可靠性的需要。


技术实现思路

1、一些示例性实施例提供一种能够增强测试覆盖范围的半导体存储器装置。

2、一些示例实施例提供一种能够增强测试覆盖范围的存储器系统。

3、根据示例实施例,一种半导体存储器装置包括存储器单元阵列、片上纠错码(ecc)引擎和控制逻辑电路。存储器单元阵列包括结合到多条字线和多条位线的多个存储器单元。片上ecc引擎包括第一锁存器和第二锁存器。控制逻辑电路控制片上ecc引擎。控制逻辑电路响应于来自外部装置的第一模式寄存器设置命令而将所述半导体存储器装置设置为测试模式。在测试模本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体存储器装置,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体存储器装置,其中,第一模式寄存器设置命令对应于测试模式寄存器设置命令。

3.根据权利要求1所述的半导体存储器装置,

4.根据权利要求3所述的半导体存储器装置,其中,响应于第二操作码指示后台数据的类型是第一类型和第二类型中的一个,片上ECC引擎被配置为执行包括以下操作的操作:

5.根据权利要求3所述的半导体存储器装置,其中,响应于第二操作码指示后台数据的类型是第一类型和第二类型中的一个,片上ECC引擎被配置为执行包括以下操作的操作:

6.根据权利要求3所述的半导体存储...

【技术特征摘要】

1.一种半导体存储器装置,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体存储器装置,其中,第一模式寄存器设置命令对应于测试模式寄存器设置命令。

3.根据权利要求1所述的半导体存储器装置,

4.根据权利要求3所述的半导体存储器装置,其中,响应于第二操作码指示后台数据的类型是第一类型和第二类型中的一个,片上ecc引擎被配置为执行包括以下操作的操作:

5.根据权利要求3所述的半导体存储器装置,其中,响应于第二操作码指示后台数据的类型是第一类型和第二类型中的一个,片上ecc引擎被配置为执行包括以下操作的操作:

6.根据权利要求3所述的半导体存储器装置,其中,响应于第二操作码指示后台数据的类型是第一类型和第二类型中的一个,片上ecc引擎被配置为执行包括以下操作的操作:

7.根据权利要求3所述的半导体存储器装置,其中,响应于第二操作码指示后台数据的类型是第一类型和第二类型中的一个,片上ecc引擎被配置为执行包括以下操作的操作:

8.根据权利要求3所述的半导体存储器装置,

...

【专利技术属性】
技术研发人员:宋侑贞金成来姜吉荣金惠兰吴致成
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1