一种存储器性能的测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术提供了一种存储器性能的测试系统及测试方法，包括：测试温箱，被配置为调节测试的环境温度；至少一个测试板，位于所述测试温箱内，且被配置为其上通讯连接有待测存储器，以搭建对应的测试环境；以及处理器，通信连接于所述测试板，且被配置为获取所述环境温度与主机数据，对所有的所述待测存储器进行读写操作，以获取所有的所述待测存储器的性能值。通过本发明专利技术提供的一种存储器性能的测试系统及测试方法，能够同时对不同型号的存储器的性能进行测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及存储领域，特别涉及一种存储器性能的测试系统及测试方法。

技术介绍

1、内嵌式存储器（embedded multi media card，emmc）在电视机、机顶盒、平板电脑、手机等电子产品中被广泛应用。emmc是由arm cpu作为控制器再加上闪存块（nand flash）构成，其中arm cpu会运行控制器软件，通常称为固件(firmware)。主机的处理器（cpu）通过emmc协议对emmc内部存储颗粒上的数据进行读写。存储颗粒的性能稳定性是衡量产品的重要指标，存储颗粒的性能越好，则用户体验越好。

2、对于目前的内嵌式存储器而言，不同厂家的内嵌式存储器的类型可能是不同的。在对内嵌式存储器的性能进行测试时，效率较为低下。因此，存在待改进之处。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种存储器性能的测试系统及测试方法，能够同时对不同型号的存储器的性能进行测试。

2、为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：

3、本专利技术提供了一种存储器性能本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储器性能的测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述主机数据包括随机写数据与顺序写数据，所述处理器还被配置为向所有的所述待测存储器随机写入所述随机写数据、顺序写入所述顺序写数据，从所有的所述待测存储器中随机读取随机读数据、顺序读取顺序读数据。

3.根据权利要求2所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述处理器还被配置为获取不同时间段内所述随机写数据、所述顺序写数据、所述随机读数据以及所述顺序读数据的数据量，并根据数据量与不同时间间隔的比值，以生成对应的所述待测存储器的随机写性能值、顺序写性能值、随机读性...

【技术特征摘要】

1.一种存储器性能的测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述主机数据包括随机写数据与顺序写数据，所述处理器还被配置为向所有的所述待测存储器随机写入所述随机写数据、顺序写入所述顺序写数据，从所有的所述待测存储器中随机读取随机读数据、顺序读取顺序读数据。

3.根据权利要求2所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述处理器还被配置为获取不同时间段内所述随机写数据、所述顺序写数据、所述随机读数据以及所述顺序读数据的数据量，并根据数据量与不同时间间隔的比值，以生成对应的所述待测存储器的随机写性能值、顺序写性能值、随机读性能值与顺序读性能值。

4.根据权利要求2所述的存储器性能的测试系统，其特征在于，所述处理器还被配置为确定所述待测存储器的数据传输引脚处于低电平状态时，执行的动作为暂停读写操作，直至所述数据传输引脚处于高电平状态为止。

5.根据权利要求4所述的存储器性能的测试系统，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：