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本发明提供了一种存储器性能的测试系统及测试方法，包括：测试温箱，被配置为调节测试的环境温度；至少一个测试板，位于所述测试温箱内，且被配置为其上通讯连接有待测存储器，以搭建对应的测试环境；以及处理器，通信连接于所述测试板，且被配置为获取所述环...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

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