一种随机测试程序、芯片检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及计算机技术领域，公开了一种随机测试程序、芯片检测方法及装置，包括随机上下文、头部控制代码、测试指令序列、尾部控制代码，随机上下文中包含多个随机值；头部控制代码用于将随机值存入目标芯片的寄存器中；测试指令序列中包含多个测试指令，测试指令是根据目标指令集、回调函数和ARM指令集编码随机生成的，测试指令序列用于对寄存器中的随机值进行运算，得到测试结果；尾部控制代码用于在执行测试指令序列后，返回目标芯片的目标地址，本发明专利技术可以满足特殊指令的测试需求，提高测试程序的功能测试的有效性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及处理器，具体涉及一种随机测试程序、芯片检测方法及装置。

技术介绍

1、在设计处理器芯片的过程中，需要对所设计的处理器芯片进行验证，以确定所设计的处理器芯片的功能是否正常，是否存在设计缺陷或生产缺陷等。

2、现有技术中，通过模版定义架构和指令集生成测试程序中的指令序列，预定义模版可配置的约束种类有限，无法满足部分指令的特殊测试需求，降低了随机测试的有效性。

技术实现思路

1、有鉴于此，本专利技术提供了一种随机测试程序、芯片检测方法及装置，以解决测试程序有效性的问题。

2、第一方面，本专利技术提供了一种随机测试程序，该程序包括随机上下文、头部控制代码、测试指令序列、尾部控制代码，随机上下文中包含多个随机值；头部控制代码用于将所述随机上下文存入目标芯片的寄存器中；测试指令序列中包含多个测试指令，测试指令是根据目标指令集、回调函数和arm指令集编码随机生成的，测试指令序列用于对寄存器中的随机值进行运算，得到测试结果；尾部控制代码用于在执行测试指令序列后，返回所述目标芯片的目标地址本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种随机测试程序，其特征在于，包括随机上下文、头部控制代码、测试指令序列、尾部控制代码，

2.根据权利要求1所述的程序，其特征在于，所述随机测试程序中还包括文件头，包括：

3.根据权利要求2所述的程序，其特征在于，所述文件头中还包含随机种子、指令数，包括：

4.根据权利要求1所述的程序，其特征在于，所述测试指令是通过如下步骤得到的：

5.根据权利要求4所述的程序，其特征在于，包括：

6.一种芯片检测方法，其特征在于，包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，包括：

8.一种芯片检测装置，其特征...

【技术特征摘要】

1.一种随机测试程序，其特征在于，包括随机上下文、头部控制代码、测试指令序列、尾部控制代码，

2.根据权利要求1所述的程序，其特征在于，所述随机测试程序中还包括文件头，包括：

3.根据权利要求2所述的程序，其特征在于，所述文件头中还包含随机种子、指令数，包括：

4.根据权利要求1所述的程序，其特征在于，所述测试指令是通过如下步骤得到的：

5.根据权利要求4所述的程序，其特征在于，包括：<...

【专利技术属性】
技术研发人员：周文，
申请(专利权)人：杭州鸿钧微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：