一种基于故障树和相关性分析的动态测项良率计算方法技术

技术编号:40018347 阅读:25 留言:0更新日期:2024-01-16 16:21
本发明专利技术涉及智能制造技术领域,公开了一种基于故障树和相关性分析的动态测项良率计算方法,包括:建立主板测项故障树,基于建立的测项故障树构造测项的相关性矩阵,并利用该相关性矩阵初步筛选出一个或多个与动态测项相关性强的必测项;比较测项间的相关系数与人为设定的阈值之间的大小,从而筛选出与动态测项关联性最强的必测项;用必测项的良率作为动态测项的良率;本发明专利技术提供一种更加科学、合理的方法,从而达到优化主板功能测试策略的目的,提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及智能制造,具体涉及一种基于故障树和相关性分析的动态测项良率计算方法


技术介绍

1、笔记本电脑生产产线主要包含表面贴装技术产线以及成品组装产线。为了保证笔记本电脑成品的良品率,需要在笔记本电脑出厂前对它进行整机测试。但是如果只设置整机测试环节,那么当笔记本电脑成品在整机测试时检测出故障,就必须对它进行返修,而返修的成本往往很高。

2、经过对整机不良原因的分析发现:笔记本电脑成品不良主要是由主板功能不良造成的。所以为了减小主板不良对笔记本电脑成品良率的影响,需要在整机测试环节前加入主板功能测试环节。

3、为了尽可能地减少主板功能检测时间成本,目前典型方案是将功能测项分为必测项和动态测项,将测试机台分为全测机台和动态测试机台,且全测机台的数量少于动态测试机台的数量。全测机台对主板的所有测项都进行检测,而动态测试机台只对部分测项进行检测。当全测机台上面的动态测项良率小于人为设定的良率阈值时,动态测试机台需要对该动态测项进行检测;当全测机台上面的动态测项良率大于等于良率阈值时,动态测试机台就不需要检测该动态测项。动态测试框架如本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于故障树和相关性分析的动态测项良率计算方法,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于故障树和相关性分析的动态测项良率计算方法,其特征在于:建立主板测项故障树时,主板测项故障树顶层事件为主板故障,中间事件和底事件为主板的各个功能测项故障。

3.根据权利要求2所述的基于故障树和相关性分析的动态测项良率计算方法,其特征在于,主板功能测项中的动态测项包括网卡驱动检测、声卡驱动检测、键盘驱动检测、SIM卡驱动检测、SIM卡卡槽检测、NFC检测、声卡检测、屏幕检测、显卡检测;

4.根据权利要求1所述的基于故障树和相关性分析的动态测项良率计算方法,其特...

【技术特征摘要】

1.一种基于故障树和相关性分析的动态测项良率计算方法,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于故障树和相关性分析的动态测项良率计算方法,其特征在于:建立主板测项故障树时,主板测项故障树顶层事件为主板故障,中间事件和底事件为主板的各个功能测项故障。

3.根据权利要求2所述的基于故障树和相关性分析的动态测项良率计算方法,其特征在于,主板功能测项中的动态测项包括网卡驱动检测、声卡驱动检测、键盘驱动检测、sim卡驱动检测、sim卡卡槽检测、nfc检测、声卡...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵云波马树森王康成康宇柏鹏
申请(专利权)人:合肥综合性国家科学中心人工智能研究院安徽省人工智能实验室
类型:发明
国别省市:

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