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本发明涉及计算机技术领域，公开了一种随机测试程序、芯片检测方法及装置，包括随机上下文、头部控制代码、测试指令序列、尾部控制代码，随机上下文中包含多个随机值；头部控制代码用于将随机值存入目标芯片的寄存器中；测试指令序列中包含多个测试指令，测试...
该专利属于杭州鸿钧微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州鸿钧微电子科技有限公司授权不得商用。

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