【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片调试事件功能，具体涉及一种芯片调试事件功能通用平台、方法、计算机设备及介质。
技术介绍
1、随着芯片的规模和复杂度不断提高，芯片的调试功能规模也不断扩大，相应的验证工作难度也越来越大。一般说来，芯片调试事件功能由以下几个部分组成：访问功能、事件功能和追踪功能。通常，芯片调试事件功能验证工作通过调试接口访问调试组件，触发源头事件，检查尽头事件。
2、但是，目前的芯片调试事件功能验证工作，都是针对当前版本芯片开发调试功能驱动和测试场景用例，当芯片升级架构和功能时，芯片中调试组件的拓扑结构也会发生变化，若对升级后的芯片再进行访问时，需要同时升级相应的驱动和用例，即需要重复开发与升级后芯片对应的驱动程序，造成验证工作无法复用，费时费力，成本高的问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种芯片调试事件功能通用平台、方法、计算机设备及介质，以解决当芯片升级时，需要重复开发与升级后芯片对应的驱动程序，造成芯片功能无法复用的问题。
2、第一方面，本专利技术提供了一种芯片调试事件功能通用平台，通用平台包括调试接口驱动、调试组件驱动和事件功能测试模块，调试接口驱动连接外部测试芯片调试接口；
3、调试接口驱动用于通过外部测试芯片调试接口向外部测试芯片发送标准测试协议传输，基于标准测试协议传输对外部测试芯片调试组件拓扑结构进行扫描，得到包含调试组件类型和调试组件访问基地址的扫描结果；
4、调试组件驱动用于基于扫描结果访问外部测试
5、事件功能测试模块用于调用访问结果对调试组件中的调试事件组件连接性进行测试。
6、本专利技术提供的芯片调试事件功能通用平台，调试接口驱动通过外部测试芯片调试接口向外部测试芯片发送标准测试协议传输，基于标准测试协议传输对外部测试芯片调试组件拓扑结构进行扫描，得到包含调试组件类型和调试组件访问基地址的扫描结果；调试组件驱动基于扫描结果访问外部测试芯片调试组件的指定寄存器，对调试组件指定寄存器的指定功能进行打开或关闭，得到访问结果；事件功能测试模块用于调用访问结果对调试组件中的调试事件组件连接性进行测试，采用调试接口驱动实现可以获取芯片的调试组件访问基地址的目的，即使在芯片升级后，仍旧可以获取升级后芯片的调试组件访问基地址，通过对芯片地址的访问，实现芯片功能的复用，解决了当芯片升级时，需要重复开发与升级后芯片对应的驱动程序，造成芯片功能无法复用的问题。
7、在一种可选的实施方式中，调试接口驱动用于基于标准测试协议传输读取所述外部测试芯片的调试组件拓扑结构中的查找表，并根据查找表对调试组件进行扫描，得到包含调试组件类型和调试组件访问基地址的扫描结果。
8、本专利技术提供的芯片调试事件功能通用平台，调试接口驱动用于基于标准测试协议传输读取所述外部测试芯片的调试组件拓扑结构中的查找表，并根据查找表对调试组件进行扫描，得到包含调试组件类型和调试组件访问基地址的扫描结果，为后续对外部测试芯片的驱动访问和验证提供了基础，实现了外部测试芯片功能的复现，不用重复开发与升级后芯片对应的驱动程序，节省了时间和成本。
9、在一种可选的实施方式中，通用平台还包括测试场景用例模块，测试场景用例模块用于当调试组件中的调试事件组件连接性进行测试时提供多种测试场景用例。
10、本专利技术提供的芯片调试事件功能通用平台，测试场景用例模块当调试组件中的调试事件组件连接性进行测试时提供多种测试场景用例，为后续对外部测试芯片的调试组件验证提供了测试场景用例基础。
11、在一种可选的实施方式中，测试场景用例模块包括点对点测试用例和事件网络测试用例；事件功能测试模块包括点对点测试用例测试单元和事件网络测试用例测试单元；
12、调试组件包括多个调试基本组件和多个调试事件组件，每个调试事件组件均包括事件触发组件和事件网络组件；
13、点对点测试用例测试单元用于基于点对点测试用例对调试基本组件与事件触发组件之间连通性进行验证，得到第一验证结果；
14、事件网络测试用例测试单元用于基于事件网络测试用例对事件触发组件与事件网络组件之间连通性进行验证，得到第二验证结果。
15、在一种可选的实施方式中，点对点测试用例测试单元用于当调试基本组件向事件触发组件发送第一电平信号时，对事件触发组件接收的第一电平信号的高低电平进行验证，得到包含第一电平信号的第一验证结果；或当事件触发组件向调试基本组件发送第一电平信号时，对调试基本组件接收的第一电平信号的高低电平进行验证，得到包含第一电平信号的第一验证结果；
16、事件网络测试用例测试单元还用于当事件触发组件向事件网络组件发送第二电平信号时，对事件网络组件接收的第二电平信号的高低电平进行验证，得到包含第二电平信号的第二验证结果。
17、本专利技术提供的芯片调试事件功能通用平台，点对点测试用例测试单元基于点对点测试用例对调试组件与事件触发组件之间连通性进行验证，得到第一验证结果；事件网络测试用例测试单元基于事件网络测试用例对事件触发组件与事件网络组件之间连通进行验证，得到第二验证结果，并对调试组件与事件触发组件之间连通性验证以及事件触发组件与事件网络组件之间连通性验证过程中发送电平信号作了进一步地限定，实现了准确对点对点测试用例的验证和事件网络测试用例的验证。
18、在一种可选的实施方式中，通用平台还包括第一电平寄存器和第二电平寄存器；
19、第一电平寄存器连接点对点测试用例测试单元，第一电平寄存器用于读取第一验证结果的第一电平信号，并根据第一电平信号判断第一验证结果是否正确；
20、第二电平寄存器连接事件网络测试用例测试单元，第二电平寄存器用于读取第二验证结果的第二电平信号，并根据第二电平信号判断第二验证结果是否正确。
21、本专利技术提供的芯片调试事件功能通用平台，第一电平寄存器读取第一验证结果的第一电平信号，并根据第一电平信号判断第一验证结果是否正确；第二电平寄存器连接事件网络测试用例测试单元，第二电平寄存器读取第二验证结果的第二电平信号，并根据第二电平信号判断第二验证结果是否正确，提高了验证的准确性。
22、第二方面，本专利技术提供了一种芯片调试事件功能通用方法，应用于上述第一方面或其对应的任一实施方式的芯片调试事件功能通用平台，该方法包括：
23、向外部测试芯片发送标准测试协议传输；
24、基于标准测试协议传输对外部测试芯片调试组件拓扑结构进行扫描，得到包含调试组件类型和调试组件访问基地址的扫描结果；
25、基于扫描结果访问外部测试芯片调试组件的指定寄存器，对调试组件指定寄存器的指定功能进行打开或关闭，得到访问结果；
26、调用访问结果对调试组件中的调试事件组件连接性进行测试。
27、本专利技术提供的芯片调试事件功能通用方法，向本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片调试事件功能通用平台，其特征在于，所述通用平台包括调试接口驱动、调试组件驱动和事件功能测试模块，所述调试接口驱动连接外部测试芯片调试接口；
2.根据权利要求1所述的通用平台，其特征在于，所述调试接口驱动用于基于所述标准测试协议传输读取所述外部测试芯片的调试组件拓扑结构中的查找表，并根据所述查找表对调试组件进行扫描，得到包含调试组件类型和调试组件访问基地址的扫描结果。
3.根据权利要求1所述的通用平台，其特征在于，所述通用平台还包括测试场景用例模块，所述测试场景用例模块用于当调试组件中的调试事件组件连接性进行测试时提供多种测试场景用例。
4.根据权利要求3所述的通用平台，其特征在于，所述测试场景用例模块包括点对点测试用例和事件网络测试用例；所述事件功能测试模块包括点对点测试用例测试单元和事件网络测试用例测试单元；
5.根据权利要求4所述的通用平台，其特征在于，所述点对点测试用例测试单元用于当调试基本组件向事件触发组件发送第一电平信号时，对事件触发组件接收的第一电平信号的高低电平进行验证，得到包含第一电平信号的第一验证结果；
6.根据权利要求5所述的通用平台，其特征在于，所述通用平台还包括第一电平寄存器和第二电平寄存器；
7.一种芯片调试事件功能通用方法，其特征在于，应用于如权利要求1至6中任一项所述的芯片调试事件功能通用平台，所述方法包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述基于所述标准测试协议传输对外部测试芯片调试组件拓扑结构进行扫描，得到包含调试组件类型和调试组件访问基地址的扫描结果包括：
9.一种计算机设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行权利要求7或8所述的芯片调试事件功能通用方法。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片调试事件功能通用平台，其特征在于，所述通用平台包括调试接口驱动、调试组件驱动和事件功能测试模块，所述调试接口驱动连接外部测试芯片调试接口；
2.根据权利要求1所述的通用平台，其特征在于，所述调试接口驱动用于基于所述标准测试协议传输读取所述外部测试芯片的调试组件拓扑结构中的查找表，并根据所述查找表对调试组件进行扫描，得到包含调试组件类型和调试组件访问基地址的扫描结果。
3.根据权利要求1所述的通用平台，其特征在于，所述通用平台还包括测试场景用例模块，所述测试场景用例模块用于当调试组件中的调试事件组件连接性进行测试时提供多种测试场景用例。
4.根据权利要求3所述的通用平台，其特征在于，所述测试场景用例模块包括点对点测试用例和事件网络测试用例；所述事件功能测试模块包括点对点测试用例测试单元和事件网络测试用例测试单元；
5.根据权利要求4所述的通用平台，其特征在于，所述点对点测试用例测试单元用于当调试基本组件向事件触发组件发送第...
【专利技术属性】
技术研发人员：翟伟峰，李增辉，吕朋泽，
申请(专利权)人：杭州鸿钧微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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