当前位置: 首页 > 专利查询>北京大学专利>正文

一种减小阻变存储器阻值离散性的方法技术

技术编号:3985428 阅读:318 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种减小阻变存储器阻值离散性的方法,该方法包括:S1、在Forming过程中施加一个电流脉冲,使阻变存储器的阻变材料从初始态转为低阻态;S2、在SET过程中施加一个电流脉冲,使阻变存储器的阻变材料从高阻态转为低阻态;S3、在RESET过程中施加一个反向电压脉冲,使阻变存储器的阻变材料从低阻态转为高阻态。本发明专利技术提出的电流电压控制方法可以显著的减小器件阻值的离散性,并同时可以提高低阻态的阻值,从而减小器件的工作电流,降低功耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于微电子半导体
,具体涉及一种减小阻变存储器电阻转变过程 中阻值离散性的方法。
技术介绍
阻变存储器(RRAM)是一种利用可控的电阻变化实现数据存储的新型非挥发性存 储器。这种存储器具有高速度(< 5ns)、低电压(< 2V)、高存储密度、易于集成等优点,是 下一代半导体存储器的强有力竞争者。阻变存储器的工作原理是在阻变材料两端施加大小 或者极性不同的电压,控制阻变材料的电阻值在高低电阻态之间转换。阻变存储器的工作 方式包括单极和双极两种,前者在器件两端施加单一极性的电压,利用外加电压大小不同 控制阻变材料的电阻值在高低电阻态之间转换,以实现数据的写入和擦除;而后者是利用 施加不同极性的电压控制阻变材料电阻值的转换。习惯上称阻变材料表现出的两个稳定的 状态为高阻态和低阻态,由高阻态到低阻态的转变为program或者SET,由低阻态到高阻态 的转变为eraze或者RESET。在阻变存储器第一次转变之前,通常需要施加一次较大的电 压,使器件从初始状态转变为低阻态,这一过程称为Forming过程。相对单极阻变存储器, 双极的器件一般具有更好的性能和更简易的操本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种减小阻变存储器阻值离散性的方法,其特征在于,该方法:包括:S1、在Forming过程中施加一个电流脉冲,使阻变存储器的阻变材料从初始态转为低阻态;S2、在SET过程中施加一个电流脉冲,使阻变存储器的阻变材料从高阻态转为低阻态;S3、在RESET过程中施加一个反向电压脉冲,使阻变存储器的阻变材料从低阻态转为高阻态。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:康晋锋高滨陈冰陈沅沙刘力锋刘晓彦韩汝琦
申请(专利权)人:北京大学
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1