一种对纸质样品进行无损元素分析的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种对纸质样品进行无损元素分析的装置，该装置为能量色散

【技术实现步骤摘要】
一种对纸质样品进行无损元素分析的装置


[0001]本技术涉及一种对纸质样品进行无损元素分析的装置，涉及元素分析

。

技术介绍

[0002]在司法鉴定领域，需要对合同
、
票据
、
档案
、
书画样品等纸质样品进行元素分析，判断纸质样品的真伪及来源
。
目前对纸质样品进行元素分析的仪器主要是能量色散
X
射线光谱仪
(Energy Dispersive X
‑
Ray Spectroscopy
，
EDX)
，其原理是借助
X
射线对待测纸质样品进行照射，待测纸质样品所含有的元素会发出特征
X
射线，通过检测发出的特征
X
射线的波长和强度实现待测纸质所含元素的测定，因此，纸质样品下方设置有通孔，以保证
X
射线能够照射到待测纸质样品的表面
。
[0003]为了保证测量结果的准确性，该仪器在工作过程中需要保持真空环境，因此，该通孔还兼具气体通道的作用，当待测纸质样品放置在该通孔上时，在抽真空过程中待测纸质样品会被真空泵吸入通孔内，导致纸质样品表面出现折痕，对于贵重且较易损坏的纸质检材，例如票据
、
档案
、
书画样品等并不友好
。
因此，如何对纸质样品进行无损元素分析，是本领域技术人员亟待解决的技术问题
。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种对纸质样品进行无损元素分析的装置，用于对纸质样品进行无损元素分析
。
[0005]本技术第一方面提供一种对纸质样品进行无损元素分析的装置，所述装置为能量色散
X
射线光谱仪，所述能量色散
X
射线光谱仪包括样品放置单元和位于所述样品放置单元下方的
X
射线发生单元；
[0006]所述样品放置单元内部设置有样品支撑单元，所述样品支撑单元包括支撑面和至少两个支撑部，所述支撑面远离支撑部的表面用于放置待测纸质样品，所述至少两个支撑部间隔设置在所述支撑面的下方；
[0007]所述样品放置单元和所述支撑面分别设置有第一通孔和第二通孔，所述第一通孔和第二通孔对应，使所述
X
射线发生单元发出的
X
射线穿过所述第一通孔和第二通孔抵达待测纸质样品表面
。
[0008]在一种具体实施方式中，沿垂直于所述第一通孔和第二通孔的方向，所述支撑部的高度不大于
2cm。
[0009]在一种具体实施方式中，沿垂直于所述第一通孔和第二通孔的方向，所述支撑面的高度不大于
0.5cm。
[0010]在一种具体实施方式中，所述支撑面的长度和宽度均大于所述第一通孔的直径
。
[0011]在一种具体实施方式中，所述支撑面的长度大于等于
20cm
；和
/
或，所述支撑面的宽度大于等于
20cm。
[0012]在一种具体实施方式中，所述第一通孔的直径小于等于所述第二通孔的直径
。
[0013]在一种具体实施方式中，所述支撑部之间的距离大于等于
10cm。
[0014]在一种具体实施方式中，所述第二通孔的圆心与所支撑面任一侧边的距离大于等于
5cm。
[0015]在一种具体实施方式中，所述支撑面远离支撑部的表面设置有刻度
。
[0016]在一种具体实施方式中，所述刻度的单位长度为
0.1
‑
0.5cm。
[0017]本技术提供一种对纸质样品进行无损元素分析的装置，通过设置样品支撑单元，使得待测纸质样品与第一通孔之间间隔一定距离，为气体提供了流通通道，避免待测纸质样品被真空泵吸入通孔内，避免了元素分析过程对纸质样品的损坏，实现了纸质样品的无损元素分析，适用于字画
、
档案
、
票据等贵重且较易破损的纸质样品的分析检测
。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0019]图1为现有技术提供的能量色散
X
射线光谱仪的原理示意图；
[0020]图2为现有技术提供的样品放置单元的结构示意图；
[0021]图3为使用现有技术提供的能量色散
X
射线光谱仪对纸质样品进行检测后出现的折痕的图片；
[0022]图4为本技术一实施例提供的样品放置单元的结构示意图；
[0023]图5为本技术一实施例提供的样品支撑单元的结构示意图；
[0024]图6为本技术一实施例提供的样品支撑单元的主视图；
[0025]图7为本技术一实施例提供的样品支撑单元的俯视图；
[0026]图8为本技术一实施例提供的样品支撑单元的仰视图；
[0027]图9为本技术又一实施例提供的样品支撑单元的俯视图
。
[0028]附图标记说明：
[0029]100
‑
能量色散
X
射线光谱仪；
[0030]101
‑
样品放置单元；
[0031]1011
‑
第一通孔；
[0032]102
‑
X
射线发生单元；
[0033]103
‑
探测单元；
[0034]104
‑
分析单元；
[0035]105
‑
样品支撑单元；
[0036]1051
‑
支撑面；
[0037]1052
‑
支撑部；
[0038]1053
‑
第二通孔
。
具体实施方式
[0039]为使本技术的目的
、
技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术的实施例，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0040]在司法鉴定领域，需要对合同
、
票据
、
档案
、
书画样品等纸质样品进行元素分析，判断纸质检材的真伪及来源
。
目前对纸质进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种对纸质样品进行无损元素分析的装置，其特征在于，所述装置为能量色散
X
射线光谱仪，所述能量色散
X
射线光谱仪包括样品放置单元和位于所述样品放置单元下方的
X
射线发生单元；所述样品放置单元内部设置有样品支撑单元，所述样品支撑单元包括支撑面和至少两个支撑部，所述支撑面远离支撑部的表面用于放置待测纸质样品，所述至少两个支撑部间隔设置在所述支撑面的下方；所述样品放置单元和所述支撑面分别设置有第一通孔和第二通孔，所述第一通孔和第二通孔对应，使所述
X
射线发生单元发出的
X
射线穿过所述第一通孔和第二通孔抵达待测纸质样品表面
。2.
根据权利要求1所述的装置，其特征在于，沿垂直于所述第一通孔和第二通孔的方向，所述支撑部的高度不大于
2cm。3.
根据权利要求1所述的装置，其特征在于，沿垂直于所述第一通孔和第二通孔的方向，所述支撑面的高度不大于
...

【专利技术属性】
技术研发人员：李志豪，石高军，邹积鑫，廉哲，林雷祥，王蔚昕，
申请(专利权)人：公安部鉴定中心，
类型：新型
国别省市：