用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法及极片生产工艺技术

本发明专利技术涉及极片加工技术领域，具体是一种用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法，先在烘烤箱等距设置若干个粉尘收集装置，并做好标识；烘烤箱运行一定时间后，将粉尘收集装置取出并提取样品，将粉尘收集装置投入至盛有酒精的烧杯中进行冲洗和搅拌，对各烧杯做好标记，将烧杯进行加热直至酒精完全挥发，获得粉尘收集装置采集的杂质，并对杂质进行称重、编号及EDS能谱分析，检测其元素种类；通过杂质重量区分烘烤箱各区域的洁净程度，分析杂质是否存在金属杂质及所在烘烤箱区域，结合洁净程度分析结果，对烘烤箱进行清洁排查，本发明专利技术方法避免金属杂质刺穿隔膜，避免极片混入粉尘或金属杂质，更有利于排查问题区域，方便后续问题追溯，提高生产效率。提高生产效率。提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法及极片生产工艺


[0001]本专利技术涉及极片加工
，具体是用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法及极片生产工艺。

技术介绍

[0002]现阶段极片的干燥方式分以下几种：(1)远红外辐射干燥；(2)双面送风飘浮干燥；(3)常规对流热风干燥；(4)循环热风冲击干燥；
[0003](5)过热水蒸气干燥；(6)微波干燥。干燥的基本原理都是用加热的方法使水分或其它溶剂汽化，并将产生的蒸汽排除，以此来除去固体物料中湿分的操作。
[0004]在电池极片制备过程中，越来越多的在线检测技术被采用，开始有效识别产品的制造缺陷，剔除不良品，并及时反馈给生产线，自动或者人工对生产过程做出调整，降低不良率。常用的在线检测技术包括浆料特性检测、极片质量检测、尺寸检测等方面。但是涂布后极片表面金属杂质的检测并未受到重视。涂布后的极片需要在烘箱内进行干燥，目前大多数产线上的烘箱都比较长，在这段区域内是非常有可能引入金属杂质的，并且难以监测到引入源。

技术实现思路

[0005]为了解决上述问题，本专利技术公开了一种监测烘烤段金属杂质的方法。通过收集烘箱内不同区域的杂质，并对收集到的杂质进行一系列测试，然后对比结果就能迅速判断杂质的引入源，及时对烤箱进行排查和清洁，解决了在烘烤阶段金属异物难以监测的问题，同时也提高了排查和清洁效率，进而使生产效率得到提升。
[0006]为了达到上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0007]一种用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法，方法步骤如下：
[0008]步骤S1，对烘烤箱通道划分区域并对各区域收集粉尘；
[0009]步骤S2，对各区域收集的粉尘单独进行样本提取，获得残渣，记录各区域的残渣重量数据并对残渣进行编号；
[0010]步骤S3，分析检测残渣中含有的金属杂质种类及含量比重；
[0011]步骤S4，根据残渣的编号，获得残渣对应的烘烤箱区域；
[0012]步骤S5，根据步骤S3获得的金属杂质种类及含量比重及步骤S4获得的残渣对应的烘烤箱区域，对金属含量比重≥10％的烘烤箱区域进行清洁排查；
[0013]步骤S6，重复步骤S1
‑
S4，对比两次的检测结果，根据对比的结果确定金属杂质引入源所在的烘烤箱区域。
[0014]可选的，在本专利技术一实施例中，所述步骤S1还包括以下步骤：
[0015]步骤S101，将所述烘烤箱等距分为若干个区域；
[0016]步骤S102，在所述步骤S101中的每个区域至少设置一个粉尘收集装置，并对粉尘收集装置进行标识；
[0017]步骤S103，在所述烘烤箱运行设定的时间后，将所述粉尘收集装置取出，并进行样本提取。
[0018]可选的，在本专利技术一实施例中，所述步骤S103，设定的时间为至少七天，确保粉尘收集装置采集足够的粉尘，亦可提高结果的参考可靠性。
[0019]可选的，在本专利技术一实施例中，所述步骤S2中，样本提取采用称重法对杂质进行样本提取，除称重法外，样本的提取也可采用其他的方法实施。
[0020]可选的，在本专利技术一实施例中，所述称重法具体步骤如下：
[0021]步骤S201，将所述粉尘收集装置的粉尘容器投入至盛有酒精的烧杯中进行清洗和搅拌，预设时间后，取出所述粉尘容器，对各烧杯做好相应的标记；
[0022]步骤S202，将烧杯进行加热直至酒精完全挥发，获得残渣；
[0023]步骤S203，对步骤S202获得的残渣进行称重及编号。
[0024]可选的，在本专利技术一实施例中，所述步骤S201，预设时间为30min。
[0025]确保粉尘容器具备足够的清洗时间，使粉尘脱落
[0026]可选的，在本专利技术一实施例中，所述粉尘收集装置为小型负压吸尘器，检测无需大量的杂质，采用小型负压吸尘器即可，一方面杂质的量相对较少，方法进行较快，结果得出较快，另一方面是小型负压吸尘器的集尘杯体积小，方便操作，可直接放入烧杯中。
[0027]可选的，在本专利技术一实施例中，所述步骤S3，通过EDS能谱分析方法进行残渣的元素种类的分析，残渣的元素种类分析亦可采用XRF光谱分析方法进行分析。
[0028]可选的，在本专利技术一实施例中，所述步骤S5中，金属杂质比重的限制标准为10％，金属杂质比重超过10％，则需要该对应的烘烤箱区域进行清洁排查。
[0029]一种极片生产工艺，包括上述的烘烤箱金属杂质检测方法，极片的生产工艺保持原工艺，在极片的烘烤工序，加入本方案的检测方法，通过该检测方法，迅速排查金属杂质引入源，提高极片生产质量，进而提高电池质量。
[0030]本专利技术有益效果
[0031]本专利技术的用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法，方法的实施不妨碍正产生产，方法采用称重法进行样本提取，精确度高，还对残渣中的金属杂质进行查找，整个方法通过多个样本用于参考，可快速得出烘烤箱不同区域的洁净程度，再通过人工介入对烘烤箱各区域进行排查清洁，确保极片的生产质量，避免粉尘及金属杂质混入极片中。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0033]图1本专利技术实施例1步骤方法流程图；
[0034]图2本专利技术实施例1步骤S1流程图；
[0035]图3本专利技术实施例1步骤S2称重法具体操作流程图。
具体实施方式
[0036]为更进一步阐述本专利技术为实现预定专利技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本专利技术的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
[0037]实施例1
[0038]极片所需烘烤时间相对较长，杂质容易混入极片中，造成极片不良，在烘烤工序进行粉尘采集监测，以便于排查清洁烘烤设备，提高极片质量，为此，提出了一种用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法，
[0039]如图1所示，方法具体包括以下步骤：
[0040]一种用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法，方法步骤如下：
[0041]步骤S1，对烘烤箱通道划分区域并对各区域收集粉尘；
[0042]如图2所示，步骤说明：步骤S1还包括以下步骤：
[0043]步骤S101，将烘烤箱通道等距划分为若干个区域，在本实施例中，将烘烤箱通道等距划分为六个区域；
[0044]步骤S102，在步骤S101中的每个区域至少设置一个粉尘收集装置，并对粉尘收集装置进行标识，在本实施例中，具体的标识别，所有区域的一侧以奇数进行标号，即1、3、5、7、9、11,另一侧以偶数进行标号，即2、4、6、8、10、12，烘烤箱的每个区域设置两个粉尘收集装置，分别设置于每个区域的两边的内侧壁，粉尘收集装置编号为1
‑
12号；
[0045]装置说明：粉尘收集装置为小型负压吸尘器，检测无需大量的杂质，采用小型负压吸尘器即可，一方面杂质的量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法，其特征在于：方法步骤如下：步骤S1，对烘烤箱通道划分区域并对各区域收集粉尘；步骤S2，对各区域收集的粉尘单独进行样本提取，获得残渣，记录各区域的残渣重量数据并对残渣进行编号；步骤S3，分析检测残渣中含有的金属杂质种类及含量比重；步骤S4，根据残渣的编号，获得残渣对应的烘烤箱区域；步骤S5，根据步骤S3获得的金属杂质种类及含量比重及步骤S4获得的残渣对应的烘烤箱区域，对金属含量比重超标的烘烤箱区域进行清洁排查；步骤S6，重复步骤S1
‑
S4，对比两次的检测结果，根据对比的结果确定金属杂质引入源所在的烘烤箱区域。2.根据权利要求1所述用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法，其特征在于：所述步骤S1还包括以下步骤：步骤S101，将所述烘烤箱等距分为若干个区域；步骤S102，在所述步骤S101中的每个区域至少设置一个粉尘收集装置，并对粉尘收集装置进行标识；步骤S103，在所述烘烤箱运行设定的时间后，将所述粉尘收集装置取出，并进行样本提取。3.根据权利要求2所述用于涂布烘烤箱的金属杂质监测方法，其特征在于：所述步骤S103，设定的时间为至少七天。4.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈明，陈思，陈鹏，王明明，陈凯，苑丁丁，
申请(专利权)人：湖北亿纬动力有限公司，
类型：发明
国别省市：