电触头及具有该电触头的检查夹具制造技术

本发明专利技术提供电触头及具有该电触头的检查夹具，该电触头不容易发生接触不良的故障，另外，能够抑制生产成本；电触头（２）利用于检查电路板（Ｐ）的电特性的检查夹具（１）、配置于检查夹具（１）的收容孔（３）的内部，该电触头（２）由线材（１３）构成，同时，具有：配置在电触头（２）的长度方向的一端侧、与电路板（Ｐ）接触的检查侧端部（１０），相对于上述一端侧而配置于另一端侧、与检查夹具（１）的接点接触的夹具侧端部（５），以及连接检查侧端部（１０）与夹具侧端部（５）、且收容在收容孔（３）的主体部（１２）；主体部（１２）具有线材（１３）卷绕成螺旋状而具有弹性的弹簧卷绕部（２２）。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及的是检查电路板或电子零部件等的电特性用的电触头及具有该电触 头的检查夹具。
技术介绍
一般来说，用于发现电路板的配线图案或IC等集成电路的短路或断线等的异常 的电气检查中，使用具有与检查对象物接触的多个电触头的检查夹具。作为电触头，广泛地 使用例如如专利文献1或2所公开那样利用螺旋弹簧支持针状的柱塞(plunger)的构成的 电触头。在这种构成的电触头中，柱塞能够通过螺旋弹簧的弹性变形，而相对于检查对象物 弹性地进退。因此，能够以适当的按压力使柱塞接触于检查对象物。专利文献1 日本公开公报、特开2008-275421号专利文献2 日本公开公报、特开2008-546164号
技术实现思路
但是，在专利文献1和2记载的电触头中，电触头由柱塞和螺旋弹簧等的多个零部 件构成。因此，容易发生各零部件之间的接触不良的故障，另外，由于零部件件数和组装工 时多而存在生产成本变高的问题。因此，本专利技术的目的在于提供不容易发生接触不良的故障，而且，能够抑制生产成 本的电触头及具有该电触头的检查夹具。为了解决上述课题，本专利技术的电触头，利用于检查检查对象物的电特性的检查夹 具，配置在检查夹具的收容孔的内部，其中，电触头由线材构成，同时，具有配置在电触头 的长度方向的一端侧、与检查对象物接触的检查侧端部，相对于该一端侧而配置于另一端 侧、与检查夹具的接点接触的夹具侧端部，以及连接检查侧端部和夹具侧端部、且收容在收 容孔的主体部；主体部具有线材卷绕成螺旋状而具有弹性的弹簧部。在本专利技术的电触头中，检查侧端部或夹具侧端部的至少一方，也可以卷绕线材而 构成为弹簧状。另外，在本专利技术的电触头中，检查侧端部或夹具侧端部的至少一方上，线材被卷绕 成其卷径朝向前端而变小也可以。另外，在本专利技术的电触头中，也可以在检查侧端部或夹具侧端部的至少一方的前 端部上，形成有沿着被卷绕的线材的卷轴而延伸的柱状部。另外，在本专利技术的电触头中，也可以在检查侧端部或夹具侧端部的至少一方的前 端部上，设有球状部。另外，在本专利技术的电触头中，检查侧端部或夹具侧端部的至少一方，也可以形成为 从电触头的端部侧向主体部侧折返的折返部。另外，在本专利技术的电触头中，主体部上，在弹簧部和检查侧端部之间，也可以具有 线材彼此之间贴紧而被卷绕的压紧卷绕部。另外，在本专利技术的电触头中，主体部的弹簧部的一部分，具有卷径大于弹簧部的其 他部分的卷径的大直径部、从而被压入收容孔。另外，在本专利技术的电触头中，电触头被镀金覆盖也可以。为了解决上述课题，本专利技术的检查夹具，使电触头接触于检查对象物，而检查检查 对象物的电特性，其中，设有具有收容电触头的收容孔的收容体，作为电触头具有上述的电 触头。为了解决上述课题，本专利技术的检查夹具，使电触头接触于检查对象物，而检查检查 对象物的电特性，该检查夹具设有具有收容电触头的收容孔的收容体；电触头是上述的电 触头；收容孔具有收容电触头的大直径部的大直径收容部和小直径收容部，其中，小直径收 容部收容弹簧部的作为大直径部以外的部分的小直径部；在大直径收容部和小直径收容部 的边界部上也可以形成有与大直径部相接的阶梯部。如上所述，采用本专利技术的电触头及检查夹具，能够防止接触不良的故障的发生，而 且能够抑制生产成本。附图说明图1是表示本专利技术的实施形态一涉及的检查夹具的主视图。图2是从图1的E-E方向表示检查夹具的图。图3是用于说明图1所示的检查夹具的内部构造的放大剖面图。图4是图3所示的触头的主视图。图5是图3所示的触头的俯视图。图6是图3所示的触头的仰视图。图7是表示将触头配置于收容体的收容孔内之后，将电极保持体安装于收容体之 前的状态的放大剖面图。图8是检查夹具的放大剖面图，是表示将触头接触于电路板之前的状态的图。图9是检查夹具的放大剖面图，是表示将触头接触于电路板之后的状态的图。图10是表示检查侧端部的前端部倾斜地接触于电路电极的状态的图。图11是表示本专利技术的实施形态二涉及的触头的构成的主视图。图12是表示图11所示的触头的构成的仰视图。图13是表示本专利技术的实施形态三涉及的触头的构成的主视图。图14是表示图13所示的触头的球状部与保护层相接的状态的图。图15是表示图14所示的触头的球状部进入凹部内而与电路电极接触的状态的 图。图16是说明图13所示的触头的球状部的形成方法的图。图17是表示本专利技术的实施形态四涉及的触头的构成的主视图。图18是表示图17所示的触头的折返部与保护层相接的状态的图。图19是表示图17所示的触头的折返部进入凹部内而与电路电极接触的状态的 图。图20是将图17所示的触头从小直径孔侧安装的情况的说明图。符号说明41检查夹具2、30、40、50 电触头3收容孔4收容体5夹具侧端部10检查侧端部12主体部13 线材16大直径孔(大直径收容部)17小直径孔(小直径收容部)21压紧卷绕部22弹簧卷绕部(弹簧部)23大直径部25阶梯部31柱状部41球状部51折返部P电路板(检查对象物)具体实施例方式(触头的第一实施形态)以下，根据附图对本专利技术的第一实施形态进行说明。(检查夹具的构成)首先，参照图1至图3对检查夹具1的整体构成进行说明。图1是表示本专利技术的 实施形态涉及的检查夹具1的主视图。图2是从图1的E-E方向观察的检查夹具1的示意 图。图3是用于说明图1及图2所示的检查夹具1的内部构造的放大剖面图。另外，在图 2中，仅对一部分的电触头2和收容孔3标以符号。在以下的说明中，将图中箭头Xl方向 作为左方向，X2方向作为右方向，Yl方向作为上方，Y2方向作为下方，并且，Zl方向作为前 方，Z2方向作为后方而进行说明。本实施形态的检查夹具1，被利用于检查电路板或IC等的作为检查对象物的电路 板P(参照图8、9等)的电特性，而发现电路板P的短路或断线等的异常的电气检查。该检查夹具1如图1 图3所示，具有多个电触头2 (以下，记载为“触头2”)， 形成有多个分别配置一个触头2的收容孔3的收容体4，分别与收容在收容孔3的触头2的 夹具侧端部5接触的多个电极6，保持这些多个电极6的电极保持体7，以及将设有检查夹 具1的检查装置(省略图示)的主体部与检查夹具1电连接的配线部8等。配线部8由每 一电极6所设有的多根导线9 (参照图3)构成。触头2设有与电极6接触的夹具侧端部5，与作为电路板P的被检查端子的电路 电极Pl (参照图8、图9等)接触的检查侧端部10，以及连接夹具侧端部5与检查侧端部 10、并具有被收容于收容孔3的内部的部分的主体部12等。触头2，从夹具侧端部5至检查侧端部10，通过具有导电性的线材13形成为整体。 该线材13使用，例如，卷绕成螺旋状时螺旋部能够具有弹性的材质的线材。作为线材13能 够使用，例如，镍合金、钢琴丝、钨合金等。形成触头2的线材13构成为，例如，直径为0. 05mm 左右，并且，从与电极6接触的夹具侧端部5的前端部14至检查侧端部10的前端部15的 长度为4. 8mm左右。收容体4通过绝缘性材料而形成为块(block)状。如上述那样，该收容体4上形 成有多个收容孔3。具体地说，在收容体4上形成有多个如图2、图3所示那样在上下方向 上贯通的收容孔3。另外，在图2中，为了方便说明，图示有在前后方向和左右方向上以规定 的间距均等地形成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电触头，利用于检查检查对象物的电特性的检查夹具，配置于上述检查夹具的收容孔的内部，其特征在于，上述电触头由线材构成，同时，具有：配置在上述电触头的长度方向的一端侧、与上述检查对象物接触的检查侧端部，相对于上述一端侧而配置于另一端侧、与上述检查夹具的接点接触的夹具侧端部，以及连接上述检查侧端部与上述夹具侧端部、且收容在上述收容孔的主体部；上述主体部具有上述线材卷绕成螺旋状而具有弹性的弹簧部。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：土桥贤治，小泉茂昭，伊藤光彦，两角和彦，
申请(专利权)人：株式会社光阳科技，
类型：发明
国别省市：JP