【技术实现步骤摘要】
电子结构及其制造方法
[0001]本专利技术有关于一种电子结构,特别是有关于一种于凸块下具有金属保护层的电子结构及其制造方法
。
技术介绍
[0002]在传统的声波元件中,由于金属导线
(
例如,铝
、
金
、
或铜
)
未以保护层覆盖,因此,在回流过程中,可能发生锡凸块的流失,导致锡凸块太薄而无法用于后续工艺,例如,芯片倒装焊封装
。
技术实现思路
[0003]在一实施例中,提供一种电子结构
。
该电子结构包括一基板
、
一第一导体
、
一第二导体
、
一绝缘子
、
一保护层
、
以及一凸块结构
。
该第一导体设置于该基板上,且该第一导体具有一第一上表面与一第一侧表面
。
该第二导体电连接该第一导体,且该第二导体具有一第二上表面与一第二侧表面
。
该绝缘子覆盖该第一导体的该第一上表面与该第一侧表面
。
该保护层覆盖该第二导体的该第二上表面,露出该第二导体的该第二侧表面
。
该凸块结构设置于该第二导体上
。
该保护层包括一金属材料
。
[0004]在一实施例中,提供一种电子结构
。
该电子结构包括一基板
、
多个导体
、
一凸块结构
、
以及一保护层 />。
这些导体设置于该基板上
。
该凸块结构设置于这些导体的至少其中一个上
。
该保护层设置于这些导体上,且一区域露出于这些导体之间
。
[0005]在一实施例中,提供一种电子结构的制造方法
。
该方法包括下列步骤
。
形成多个导体于一基板上
。
形成一保护层于这些导体的一露出部分上,并露出这些导体之间的一区域
。
对一凸块材料进行回流,以形成一凸块于这些导体的其中一个上
。
附图说明
[0006]以下将配合附图详述本专利技术的各方面
。
值得注意的是,依据在业界的标准做法,各种特征并未按照比例绘制
。
事实上,可任意地放大或缩小各种元件的尺寸,以清楚地表现出本专利技术的特征
。
[0007]图1是根据本专利技术的一些实施例,一种电子结构的剖面示意图
。
[0008]图2是根据本专利技术的一些实施例,一种电子结构的剖面示意图
。
[0009]图3是根据本专利技术的一些实施例,一种电子结构的剖面示意图
。
[0010]图
4A
至图
4F
是根据本专利技术的一些实施例,一种电子结构制造方法的剖面示意图
。
[0011]图
5A
至图
5E
是根据本专利技术的一些实施例,一种电子结构制造方法的剖面示意图
。
[0012]图6是根据本专利技术的一些实施例,一种封装结构的剖面示意图
。
[0013]图7是根据本专利技术的一些实施例,一种封装结构的剖面示意图
。
[0014]图8是根据本专利技术的一些实施例,一种电子结构的剖面示意图
。
[0015]图9是根据本专利技术的一些实施例,一种电子结构的剖面示意图
。
[0016]例示性的实施例将参考附图详述
。
在附图中,类似参考标记一般表示相同
、
功能上近似
、
及
/
或结构上近似的元件
。
[0017]附图标记说明:
[0018]10,10
’
,100,100
’
:
电子结构
[0019]12,120:
基板
[0020]14:
第一导体
[0021]14a:
第一导体的上表面
[0022]14a1:
第一导体的上表面的第一部分
[0023]14a2:
第一导体的上表面的第二部分
[0024]14b:
第一导体的侧表面
[0025]16:
第二导体
[0026]16
’
:
第二导体的顶部
[0027]16a:
第二导体的上表面
[0028]16b:
第二导体的侧表面
[0029]18,180:
绝缘子
[0030]20,200:
保护层
[0031]20a,200a:
保护层的第一部分
[0032]20b,200b:
保护层的第二部分
[0033]22,22
’
,220,220
’
:
凸块结构
[0034]24,240:
柱状导体
[0035]26,260:
凸块
[0036]28,280:
背板
[0037]29,290:
电路
[0038]30,300:
封装材料
[0039]50,500:
封装结构
[0040]140:
电极
[0041]140a:
电极的上表面
[0042]140a1:
电极的上表面的第一部分
[0043]140a2:
电极的上表面的第二部分
[0044]140b:
电极的侧表面
[0045]160:
导体
[0046]160
’
:
导体的顶部
[0047]160a:
导体的上表面
[0048]160b:
导体的侧表面
[0049]190:
盖板
[0050]191:
壁
[0051]191
’
:
壁的底表面
[0052]192:
顶板
[0053]195:
导电层
[0054]C:
空间的中央区域
[0055]Hc:
中央区域的高度
[0056]Hp:
周边区域的高度
[0057]L:
壁的底表面之间的连接线
[0058]P:
空间的周边区域
[0059]R:
区域
[0060]S:
空间
[0061]Sc:
空间的角
[0062]W:
空间的宽度
具体实施方式
[0063]以下内容提供了许多不同的实施例或范例,用于实施本专利技术的不同部件
。
组件和配置的具体范例描述如下,以简化本本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.
一种电子结构,其特征在于,包括:一基板;一第一导体,设置于所述基板上,所述第一导体具有一第一上表面与一第一侧表面;一第二导体,电连接所述第一导体,所述第二导体具有一第二上表面与一第二侧表面;一绝缘子,覆盖所述第一导体的所述第一上表面与所述第一侧表面;一保护层,覆盖所述第二导体的所述第二上表面,露出所述第二导体的所述第二侧表面;以及一凸块结构,设置于所述第二导体上,其中所述保护层包括一金属材料
。2.
如权利要求1所述的电子结构,其特征在于,所述第二导体为一重分布层
。3.
如权利要求1所述的电子结构,其特征在于,所述第一导体与所述第二导体接触
。4.
如权利要求1所述的电子结构,其特征在于,所述绝缘子覆盖所述第一上表面的一第一部分,露出所述第一上表面的一第二部分
。5.
如权利要求1所述的电子结构,其特征在于,所述凸块结构包括一柱状导体与一凸块,所述凸块设置于所述柱状导体上
。6.
如权利要求5所述的电子结构,其特征在于,所述保护层与所述凸块的合金温度大于
500℃。7.
如权利要求6所述的电子结构,其特征在于,所述保护层的材料包括:钛
、
钛钨
、
或铂
。8.
如权利要求5所述的电子结构,其特征在于,所述第二导体的一顶部的材料与所述凸块的合金温度小于
500℃。9.
如权利要求1所述的电子结构,其特征在于,于一上视图中,所述凸块结构的面积与所述第二上表面的比例介于5%至
60
%的范围内
。10.
一种电子结构,其特征在于,包括:一基板;多个导体,设置于所述基板上;一凸块结构,设置于所述导体的至少其中一个上;以及一保护层,设置于所述导体上,露出所述导体之间的一区域
。11.
如权利要求
10
技术研发人员:张家达,丁柏玮,
申请(专利权)人:稳懋半导体股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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