一种电路板老化测试设备制造技术

本发明专利技术涉及一种电路板老化测试设备，包括老化测试工装和老化测试箱，老化测试箱包括低温测试模块

【技术实现步骤摘要】
一种电路板老化测试设备


[0001]本专利技术涉及测试设备
，具体涉及一种电路板老化测试设备
。

技术介绍

[0002]电路板老化就是在一定条件下电路板通电工作一段时间后，电路板上的一些元件参数会发生变化，这种变化和电路板的使用时间有关，这对于一些特殊用途的电路板来说是绝对不允许的，因而很多电路板在出厂之前都会做抗老化处理和老化测试，以确保电路板能够长时间使用以及在恶劣环境中依旧能够稳定运行
。
[0003]电路板的老化测试一般分为两个测试项目，一个是对电路板在测试时间内的性能做测试，这也是目前电路板老化测试中做的较多的测试项目，此种测试是在电路板上加电，以使电路板持续工作，从而观察电路板的稳定性，及时发现电路板存在的问题，如申请号
CN20221098749.1
的专利技术专利，公开了一种电路板老化测试架设备，通过设置老化检测架，从而能够将待测试的电路板放置在老化检测架上，然后对电路板进行持续加电，从而对电路板进行测试
。
另一种老化测试，则是对电路板进行高低温老化测试，通过设置高温和低温环境，对电路板进行测试，以检测电路板在高温和低温环境中的性能
。
目前，这两个老化测试项目，一般为分开进行，在完成一项老化测试后，再进行另一项老化测试，导致老化测试效率偏低
。
[0004]为解决上述问题，后来出现了在高低温老化箱中进行加电，在进行高低温测试的同时对电路板加电进行老化测试，此种老化测试在一定程度上提高了老化测试效率，也使得操作变得简单，如申请号
CN202210673922.3
的专利技术专利，公开了一种三维移载式电路板老化测试机，通过在高低温箱体中翻转机构，同时对测试箱内的多块电路板同时进行翻转，使得电路板受热均匀，提高老化测试的准确性
。
然而，在实际进行高低温测试时，由于在一个高低温箱体中进行高温测试和低温测试，需要在高温和低温之间来回切换，而高温测试一般需要七八十摄氏度的高温，低温需要零下五十度左右的低温，温度差极大，导致其温度的切换需要的时间较长，同时也不利于节约能源
。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种电路板老化测试设备，解决目前电路板老化测试存在的上述问题
。
[0006]为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
[0007]一种电路板老化测试设备，包括老化测试工装和老化测试箱，所述老化测试工装用于放置多个待测试的电路板，所述老化测试工装上设置有检测插口，所述检测插口与各待测试的电路板连接；所述老化测试箱包括低温测试模块
、
常温测试模块和高温测试模块，所述低温测试模块包括低温测试箱体和低温输送带，所述低温输送带设置在所述低温测试箱体中，所述低温输送带用于放置和输送所述老化测试工装，所述常温测试模块包括常温测试箱体和常温输送带，所述常温输送带设置在所述常温测试箱体中，所述常温输送带用
于放置和输送所述老化测试工装，所述高温测试模块包括高温测试箱体和高温输送带，所述高温输送带设置在所述高温测试箱体中，所述高温输送带用于放置和输送所述老化测试工装，其中，所述低温测试模块和所述高温测试模块平行间隔设置，所述常温输送带的输入端与所述低温输送带的输出端连接，所述常温输送带的输出端与所述高温输送带的输入端连接
。
[0008]进一步优选，所述低温测试箱体内设置有第一低温温区和第二低温温区，所述第一低温温区与所述低温输送带的输入端对应设置，所述第二低温温区与所述低温输送带的输出端对应设置，其中，所述第一低温温区的温度高于所述第二低温温区的温度
。
[0009]进一步优选，所述低温测试箱体的内壁上设置有与所述检测插口对应的第一检测插头，所述低温测试箱体的外壁上设置有第一推送机构，所述第一推送机构用于推动所述老化测试工装以使所述检测插口与所述第一检测插头插接；所述第一推送机构和所述第一检测插头均设置有两个，其中一个第一推送机构和第一检测插头设置在与第一低温温区对应的低温测试箱体上，另一个第一推送机构和第一检测插口设置在与第二低温温区对应的低温测试箱体上
。
[0010]进一步优选，所述低温测试箱中设置有第一隔温板，所述第一隔温板设置在所述第一低温温区和第二低温温区之间，所述低温测试箱上侧面设置有第一翻转机构，所述第一翻转机构与所述第一隔温板连接，用于驱动所述第一隔温板翻转以连通或隔开第一低温温区和第二低温温区
。
[0011]进一步优选，所述常温测试箱体内壁上设置有与所述检测插口对应的第二检测插头，所述常温测试箱体外壁上设置有第二推送机构，所述第二推送机构用于推动所述老化测试工装以使所述检测插口与所述第二检测插头插接
。
[0012]进一步优选，所述老化测试工装呈方形，所述老化测试工装的四个外壁上均设置有所述检测插口
。
[0013]进一步优选，所述高温测试箱体内设置有第一高温温区和第二高温温区，所述第一高温温区与所述高温输送带的输入端对应设置，所述第二高温温区与所述高温输送带的输出端对应设置，其中，所述第一高温温区的温度低于所述第二高温温区的温度
。
[0014]进一步优选，所述高温测试箱体的内壁设置有与所述检测插口对应的第三检测插头，所述高温测试箱体的外壁上设置有第三推送机构，所述第三推送机构用于推动所述老化测试工装以使所述检测插口与所述第三检测插头插接；所述第三推送机构和所述第三检测插头均设有两个，其中一个第三推送机构与第二检测插头设置在与第三高温温区对应的高温测试箱体上，另一个第三推送机构与第三检测插头设置在与所述第三高温温区对应的高温测试箱体上
。
[0015]进一步优选，所述高温测试箱中设置有第二隔温板，所述第二隔温板设置在所述第一高温温区和第二高温温区之间，所述高温测试箱上侧面设置有第二翻转机构，所述第二翻转机构与所述第二隔温板连接，用于驱动所述第二隔温板翻转以连通或隔开第一高温温区和第二高温温区
。
[0016]进一步优选，所述低温测试箱体和所述高温测试箱体之间设置有循环测试模块，所述循环测试模块包括循环测试箱体和循环输送带，所述循环测试箱体一端与所述高温测试箱体连接，另一端与所述低温测试箱体连接，所述低温测试箱体的侧壁上设有第一电动
门，所述第一电动门设置在所述低温测试箱体上与所述第一低温温区对应区域，所述第一电动门上设置有一个第一检测插头；所述高温测试箱体的内壁上设置有第二电动门，所述第二电动门设置在所述高温测试箱体上与所述第一高温温区对应区域，所述第二电动门上设置有一个第三检测插头
。
[0017]本专利技术的有益效果：
[0018]本专利技术的电路板老化测试设备，老化测试工装能够放置多块用于老化测试的电路板，同时在老化测试工装上设置有检测插口，检测插口能够与各待老化测试的电路板连接，从而通过检测插口能够在进行高低温老化测试的同时，对电路板进行上电测试
。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种电路板老化测试设备，其特征在于：包括老化测试工装和老化测试箱，所述老化测试工装用于放置多个待测试的电路板，所述老化测试工装上设置有检测插口，所述检测插口与各待测试的电路板连接；所述老化测试箱包括低温测试模块
、
常温测试模块和高温测试模块，所述低温测试模块包括低温测试箱体和低温输送带，所述低温输送带设置在所述低温测试箱体中，所述低温输送带用于放置和输送所述老化测试工装，所述常温测试模块包括常温测试箱体和常温输送带，所述常温输送带设置在所述常温测试箱体中，所述常温输送带用于放置和输送所述老化测试工装，所述高温测试模块包括高温测试箱体和高温输送带，所述高温输送带设置在所述高温测试箱体中，所述高温输送带用于放置和输送所述老化测试工装，其中，所述低温测试模块和所述高温测试模块平行间隔设置，所述常温输送带的输入端与所述低温输送带的输出端连接，所述常温输送带的输出端与所述高温输送带的输入端连接
。2.
根据权利要求1所述的电路板老化测试设备，其特征在于：所述低温测试箱体内设置有第一低温温区和第二低温温区，所述第一低温温区与所述低温输送带的输入端对应设置，所述第二低温温区与所述低温输送带的输出端对应设置，其中，所述第一低温温区的温度高于所述第二低温温区的温度
。3.
根据权利要求2所述的电路板老化测试设备，其特征在于：所述低温测试箱体的内壁上设置有与所述检测插口对应的第一检测插头，所述低温测试箱体的外壁上设置有第一推送机构，所述第一推送机构用于推动所述老化测试工装以使所述检测插口与所述第一检测插头插接；所述第一推送机构和所述第一检测插头均设置有两个，其中一个第一推送机构和第一检测插头设置在与第一低温温区对应的低温测试箱体上，另一个第一推送机构和第一检测插口设置在与第二低温温区对应的低温测试箱体上
。4.
根据权利要求3所述的电路板老化测试设备，其特征在于：所述低温测试箱中设置有第一隔温板，所述第一隔温板设置在所述第一低温温区和第二低温温区之间，所述低温测试箱上侧面设置有第一翻转机构，所述第一翻转机构与所述第一隔温板连接，用于驱动所述第一隔温板翻转以连通或隔开第一低温温区和第二低温温区
。5.
根据权利要求4所述的电路板老化测试设备，其特征在于：所述常温...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡小伟，张祥，陈浩，尚伟，
申请(专利权)人：郑州市装联电子有限公司，
类型：发明
国别省市：