一种芯片检测方法技术

本发明专利技术公开了一种芯片检测方法

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片检测领域，特别是涉及一种芯片检测方法，本专利技术还涉及一种芯片检测装置
、
设备及计算机可读存储介质
。

技术介绍

[0002]随着芯片制造工艺的发展以及市场需求的提高，对于芯片性能的要求也越来越高，芯片生产完成后的检测环节也越来越重要，传统的芯片检测方法针对待测芯片需要进行大量测试项的测试，这就表示有可能在对次序靠后的测试项测试时才发现问题，导致发现芯片问题的效率较低，也即检测效率较低
。
[0003]因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题
。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种芯片检测方法，在后序轮次的芯片测试过程中，优先对之前测试不合格的测试项展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率；本专利技术的另一目的是提供一种芯片检测装置
、
设备及计算机可读存储介质，在后序轮次的芯片测试过程中，优先对之前测试不合格的测试项展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率
。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种芯片检测方法，包括：
[0006]在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项；
[0007]对当前轮次的待测芯片的所述目标测试项进行测试并判断所述目标测试项是否测试合格；
[0008]若不合格，则按照预设规则提升当前轮次的下一轮次测试对应的测试项概率分布中，所述目标测试项被随机选中的概率，并判断当前轮次是否测试完毕；
[0009]若未测试完毕，执行所述在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤；
[0010]若测试完毕，执行对当前轮次的下一轮次待测芯片的测试，直至最终轮次；
[0011]其中，第一轮测试的测试项概率分布为预设概率分布，当前轮次测试的测试项概率分布的初始值等于当前轮次的上一轮次测试的测试项概率分布的最终值
。
[0012]另一方面，所述对当前轮次的待测芯片的所述目标测试项进行测试并判断所述目标测试项是否测试合格包括：
[0013]将当前所述目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号；
[0014]根据所述响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的所述目标测试项是否测试合格
。
[0015]另一方面，所述判断当前轮次的待测芯片的所述目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：
[0016]若不合格，则记录当前所述目标测试项的指定信息，以便进行不合格测试项的处理
。
[0017]另一方面，所述指定信息包括不合格待测芯片的身份标识
、
当前所述目标测试项的激励信号
、
不合格待测芯片对于当前所述目标测试项的激励信号的响应信号以及所述响应信号对应的预期值
。
[0018]另一方面，所述根据所述响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的所述目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：
[0019]若合格，则执行所述在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤；
[0020]控制提示器提示所述目标测试项是否测试合格的判断结果
。
[0021]另一方面，所述将当前所述目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号之后，该芯片检测方法还包括：
[0022]获取当前轮次的待测芯片的响应信号中具备指定特性的信号，并进行保存
。
[0023]另一方面，应用于处理器；
[0024]所述处理器与待测芯片位于同一块电路板
。
[0025]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种芯片检测装置，包括：
[0026]选择模块，用于在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项；
[0027]测试模块，用于对当前轮次的待测芯片的所述目标测试项进行测试并判断所述目标测试项是否测试合格，若不合格，则触发调整模块；
[0028]所述调整模块，用于按照预设规则提升当前轮次的下一轮次测试对应的测试项概率分布中，所述目标测试项被随机选中的概率，并判断当前轮次是否测试完毕，若未测试完毕，触发所述选择模块，若测试完毕，触发执行模块；
[0029]所述执行模块，用于执行对当前轮次的下一轮次待测芯片的测试，直至最终轮次；
[0030]其中，第一轮测试的测试项概率分布为预设概率分布，当前轮次测试的测试项概率分布的初始值等于当前轮次的上一轮次测试的测试项概率分布的最终值
。
[0031]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种芯片检测设备，包括：
[0032]存储器，用于存储计算机程序；
[0033]处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上所述芯片检测方法的步骤
。
[0034]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述芯片检测方法的步骤
。
[0035]本专利技术提供了一种芯片检测方法，考虑到对同一批次的大量芯片需要划分多个轮
次进行测试，前序轮次的测试结果中的问题测试项很有可能在同批次的后续轮次中再次出现，因此本专利技术可以在发现某一轮次的某一测试项不合格时，便可以提升该测试项在后续轮次中被随机选中的概率，如此一来，下一轮次的测试过程便可能提早对“在前序轮次中测试不合格的测试项”展开测试，从而有利于提升芯片测试过程中的问题发现速度，提升了芯片检测效率
。
[0036]本专利技术还提供了一种芯片检测装置
、
设备及计算机可读存储介质，具有如上芯片检测方法相同的有益效果
。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对相关技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0038]图1为本专利技术提供的一种芯片检测方法的流程示意图；
[0039]图2为本专利技术提供的另一种芯片检测方法的流程示意图...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种芯片检测方法，其特征在于，包括：在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项；对当前轮次的待测芯片的所述目标测试项进行测试并判断所述目标测试项是否测试合格；若不合格，则按照预设规则提升当前轮次的下一轮次测试对应的测试项概率分布中，所述目标测试项被随机选中的概率，并判断当前轮次是否测试完毕；若未测试完毕，执行所述在对指定批次的芯片进行当前轮次测试时，基于与当前轮次对应的测试项概率分布，从当前轮次的待测芯片未进行测试的所有测试项中随机选取一个测试项作为目标测试项的步骤；若测试完毕，执行对当前轮次的下一轮次待测芯片的测试，直至最终轮次；其中，第一轮测试的测试项概率分布为预设概率分布，当前轮次测试的测试项概率分布的初始值等于当前轮次的上一轮次测试的测试项概率分布的最终值
。2.
根据权利要求1所述的芯片检测方法，其特征在于，所述对当前轮次的待测芯片的所述目标测试项进行测试并判断所述目标测试项是否测试合格包括：将当前所述目标测试项的激励信号输入当前轮次的待测芯片并获取当前轮次的待测芯片的响应信号；根据所述响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的所述目标测试项是否测试合格
。3.
根据权利要求2所述的芯片检测方法，其特征在于，所述判断当前轮次的待测芯片的所述目标测试项是否测试合格之后，该芯片检测方法还包括：若不合格，则记录当前所述目标测试项的指定信息，以便进行不合格测试项的处理
。4.
根据权利要求3所述的芯片检测方法，其特征在于，所述指定信息包括不合格待测芯片的身份标识
、
当前所述目标测试项的激励信号
、
不合格待测芯片对于当前所述目标测试项的激励信号的响应信号以及所述响应信号对应的预期值
。5.
根据权利要求2所述的芯片检测方法，其特征在于，所述根据所述响应信号及其预期值以及预设损失函数，判断当前轮次的待测芯片的所述目标测试项...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟阳，姚香君，覃耀，董艳，刘世伟，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：