一种半自动电学测试机制造技术

本发明专利技术涉及电学测试技术领域，具体公开了一种半自动电学测试机，包括底座

【技术实现步骤摘要】
一种半自动电学测试机


[0001]本专利技术涉及电学性能测试
，特别涉及一种半自动电学测试机
。

技术介绍

[0002]随着电子技术的迅速发展，电子产品的使用越来越广泛，电源产业也是随之发展，逐渐形成产业化
。
目前，在电源的生产工艺中，需要对电源的电路板进行组装前的电学检测
。
[0003]通常采用电学测试机对电路板进行电学检测，这类电学测试机可参考如中国专利公告号为
CN211292979U
公开的一种电路专用推拉测试夹具，设置有动力装置
、
承载装置
、
采集装置
、
采集主控装置和壳体，动力装置
、
承载装置
、
采集装置和采集主控装置均装配于壳体，动力装置装配于采集装置的上方，动力装置与所述采集装置驱动连接以驱动采集装置靠近或者远离承载装置，承载装置装配于采集装置的正下方，采集主控装置与采集装置电连接
。
通过动力装置对采集装置提供动力，采集主控装置控制对待测电路板施加需要的电学测试条件，测试夹具的测试操作简单，相对于人工测试的方式，具有测试简单
、
测试效率高和测试结果更加精确的特点
。
[0004]上述电路专用推拉测试夹具，是将电路板放置在承载装置上，通过动力装置驱动采集装置下压，利用采集装置对待测电路板进行电学测试
。
这类测试结构，一方面，由于部分待测电路板的下端面凹凸不平，测试时待测电路板容易发生倾斜，造成采集装置无法对准待测电路板上的测试点，影响测试结果；另一方面，这类直推式动力装置，由于操作原因，当用户手部在测试过程中伸入了测试位置，容易造成用户手部夹伤，存在较大的安全隐患
。
[0005]因此，现有技术还有待于改进和发展
。

技术实现思路

[0006]鉴于上述现有技术的不足之处，本专利技术的目的在于提供一种半自动电学测试机，以解决现有技术的测试机对待测电路板测试时无法对准测试点以及测试过程存在安全隐患的问题
。
[0007]一种半自动电学测试机，包括：
[0008]底座，上端具有凹槽；
[0009]支架，具有两个，分别位于凹槽沿
x
向的两侧；
[0010]升降机构，包括固定于支架的第一传动条
、
与第一传动条传动连接并且可沿
z
向活动的第一传动轮以及与第一传动轮键连接的转动轴，转动轴任意一端连接有驱动装置；
[0011]缓冲机构，上端套接转动轴，下端连接有压模，沿
z
向具有缓冲作用；
[0012]压板，沿
z
向活动于压模上方，具有多个第一测试模块，第一测试模块下端可穿过压模；
[0013]凸轮，与转动轴键连接，位于压板上方，用于旋转时沿
z
向按压压板
。
[0014]具体的，其中一个支架上设有沿
z
向延伸的第一滑槽，第一滑槽上滑动连接有安装
架，驱动装置固定于安装架
。
[0015]具体的，半自动电学测试机还包括联动机构和第二测试模块，联动机构包括与转动轴键连接的第二传动轮
、
与第二传动轮传动连接并且可沿
y
向活动的第二传动条
、
固定于第二传动条一端的滑块
、
与滑块沿
z
向滑动配合的导杆和套接于导杆上并且可沿
y
向滑动的安装板，第二测试模块固定于安装板
。
[0016]具体的，另外一个支架上设有沿
z
向延伸的第二滑槽，第二滑槽上滑动连接有第一导轨，第一导轨上设有沿
y
向的第三滑槽，第二传动条下端与第三滑槽滑动配合
。
[0017]具体的，第一测试模块为探针测试端，第二测试模块为插接测试端
。
[0018]具体的，底座上设有沿
y
向设置的第二导轨，导杆底部沿第二导轨滑动
。
[0019]具体的，缓冲机构包括套设于转动轴上的轴承
、
连接于轴承底部的第一圆头销轴
、
与第一圆头销轴沿
z
向滑动配合的轴套和套设于第一圆头销轴上的第一弹簧，轴套底部与压模固连，第一弹簧位于轴承与轴套之间
。
[0020]具体的，压模上连接有第二圆头销轴，第二圆头销轴上端穿过压板，第二圆头销轴套接有第二弹簧，第二弹簧位于压模与压板之间
。
[0021]具体的，半自动电学测试机还包括顶料机构，底座底部设有避空槽，顶料机构位于避空槽内，用于将凹槽内放置的测试电路板顶起
。
[0022]具体的，顶料机构包括固定于避空槽内的载板
、
沿
z
向固定于载板上的气缸
、
与气缸输出轴连接的推板和固定于推板上的多个顶针，顶针可活动至凹槽内
。
[0023]本专利技术的有益效果：
[0024]本专利技术的一种半自动电学测试机，升降机构具有第一传动条
、
第一传动轮和转动轴，驱动装置启动后，由于第一传动条与第一传动轮传动连接，因此第一传动轮能够与第一传动条传动配合并沿
z
向移动，在转动轴上设置缓冲机构，缓冲机构的下端连接有压模，当转动轴带动压模移动至最低时，压模紧压放置在凹槽内的测试电路板，避免测试电路板倾斜或偏位；此外，第一传动轮还带动了转动轴转动，从而带动凸轮旋转，凸轮旋转时其凸点沿
z
向按压压板，压板带动第一测试模块下移并与测试电路板上的测试点接触，实现了先按压定位，再测试的效果，确保第一测试模块能够对测试电路板上的测试点进行精准测试；另一方面，通过设置缓冲机构，当操作人员由于操作不当，手部伸入测试位置时，由于缓冲机构沿
z
向具有缓冲作用，因此能够有效避免操作人员手部夹伤，安全性好
。
附图说明
[0025]本专利技术的上述和
/
或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0026]图1为本专利技术实施例的半自动电学测试机的立体结构图一；
[0027]图2为本专利技术实施例的半自动电学测试机的立体结构图二；
[0028]图3为本专利技术实施例的半自动电学测试机的俯视图；
[0029]图4为图3中
A
‑
A
面的剖面图；
[0030]图5为本专利技术实施例的半自动电学测试机对测试电路板测试前的结构示意图，测试电路板装入凹槽内；
[0031]图6为本专利技术实施例的半自动电学测试机对测试电路板测试过程的结构示意图
一，压模紧压电路板；
[0032]图7为本专利技术实施例的半自动电学测试机对测试电路板测试过程的结构示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种半自动电学测试机，其特征在于，包括：底座
(10)
，上端具有凹槽
(11)
；支架
(20)
，具有两个，分别位于所述凹槽
(11)
沿
x
向的两侧；升降机构
(30)
，包括固定于所述支架
(20)
的第一传动条
(31)、
与所述第一传动条
(31)
传动连接并且可沿
z
向活动的第一传动轮
(32)
以及与所述第一传动轮
(32)
键连接的转动轴
(33)
，所述转动轴
(33)
任意一端连接有驱动装置
(34)
；缓冲机构
(40)
，上端套接所述转动轴
(33)
，下端连接有压模
(41)
，沿
z
向具有缓冲作用；压板
(50)
，沿
z
向活动于所述压模
(41)
上方，具有多个第一测试模块
(51)
，所述第一测试模块
(51)
下端可穿过所述压模
(41)
；凸轮
(60)
，与所述转动轴
(33)
键连接，位于所述压板
(50)
上方，用于旋转时沿
z
向按压所述压板
(50)。2.
根据权利要求1所述的一种半自动电学测试机，其特征在于，其中一个所述支架
(20)
上设有沿
z
向延伸的第一滑槽
(21)
，所述第一滑槽
(21)
上滑动连接有安装架
(22)
，所述驱动装置
(34)
固定于所述安装架
(22)。3.
根据权利要求2所述的一种半自动电学测试机，其特征在于，所述半自动电学测试机还包括联动机构
(70)
和第二测试模块
(80)
，所述联动机构
(70)
包括与所述转动轴
(33)
键连接的第二传动轮
(71)、
与所述第二传动轮
(71)
传动连接并且可沿
y
向活动的第二传动条
(72)、
固定于所述第二传动条
(72)
一端的滑块
(73)、
与所述滑块
(73)
沿
z
向滑动配合的导杆
(74)
和套接于所述导杆
(74)
上并且可沿
y
向滑动的安装板
(75)
，所述第二测试模块
(80)
固定于所述安装板
(75)。4.
根据权利要求3所述的一种半自动电学测试机，其特征在于，另外一个所述支架
(20)
上设有沿
z
向延伸的第二滑槽
(23)
，所述第二滑槽
(23)
上滑动连接有第一导轨
(24)
，所述第一导轨
(24)

【专利技术属性】
技术研发人员：李军，谈世尧，李锦红，黄加林，刘世良，
申请(专利权)人：广东科谷电源股份有限公司广东科谷智享电器有限公司广东云谷电源有限公司江苏科谷电子有限公司，
类型：发明
国别省市：