【技术实现步骤摘要】
一种微波电路检测装置及微波电路检测工艺
[0001]本专利技术涉及电路检测
,具体为一种微波电路检测装置及微波电路检测工艺
。
技术介绍
[0002]随着微波技术的飞速发展,微波电路功能越来越繁杂,而每种产品使用的微波电路都要经过测试
、
调试等过程才能验证是否满足产品技术条件的需求和完成产品设计的功能
。
为了实现电路或组件高增益,必须通过设计多通道放大来满足要求,设计的多通道放大电路就需要经过分配
、
放大
、
合成等链路来为实现
。
因此,需要用的放大器和放大级数也会随着通道数和指标的增加而增多
。
且随着产品功能的复杂,器件与外界的接口也会越来越多,使得批产微波器件的测试问题变得越来越繁琐,更为准确的测试变得越来越困难,同时不能满足要求的电路或组件则需要通过调试工程师对电路或组件的故障排查
、
定位,结合器件的更换来满足电性功能
。
由于电路的功能复杂,通道数多,各个功能电路之间有微波串扰造成相互影响,各通道内部都是通过多路放大
、
隔离等来实现其功能的,这对功能电路的测试
、
调试
、
维修带来了极大的挑战和困难
。
[0003]现有的检测装置中,如中国专利
CN106442573A
,通过裸露在外的金属导带压接在待测件端口和连接电路板的微带线导体部分,实现良好的微波匹配,可根据实际情况合 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种微波电路检测装置,包括机体
(1)、
设置在所述机体
(1)
上的传输机构
(2)、
设置在所述机体
(1)
上的对位检测机构
(3)
,其特征在于:所述传输机构
(2)
包括传送带
(23)、
转台
(211)
,所述传送带
(23)
对称设置在所述机体
(1)
上,两侧所述传送带
(23)
的间距与电路板相适配,所述转台
(211)
设置在所述传送带
(23)
之间;所述对位检测机构
(3)
包括顶柱
(39)、
隔离件
(312)、
对位件
(314)
,多个所述顶柱
(39)
设置在所述转台
(211)
上方,所述顶柱
(39)
与检测件相连,各个所述顶柱
(39)
与各侧所述检测件单独相连,所述检测件呈十字形分布,多个所述隔离件
(312)
与所述转台
(211)
位于同一水平面内,所述隔离件
(312)
与所述顶柱
(39)
一一对应,所述对位件
(314)
与所述转台
(211)
位于同一水平面内,所述对位件
(314)
与所述检测件相同分布;所述转台
(211)
顶起电路板后,所述顶柱
(39)
与所述检测件一同向电路板靠近,在横向的所述顶柱
(39)
受所述隔离件
(312)
限制时,纵向的所述顶柱
(39)
驱动所述纵向的所述对位件
(314)
将电路板呈纵向限制定位
。2.
根据权利要求1所述的一种微波电路检测装置,其特征在于:所述传输机构
(2)
还包括轨架
(21)
,所述轨架
(21)
对称设置在所述机体
(1)
上,所述轨架
(21)
贯穿所述机体
(1)
,所述轨架
(21)
上均转动配合有多个传送辊
(22)
,各侧的所述传送辊
(22)
上均张紧有所述传送带
(23)
,所述机体
(1)
内固定安装有双轴电机
(24)
,所述双轴电机
(24)
位于所述轨架
(21)
下方,所述双轴电机
(24)
的各侧轴上与各侧的所述传送辊
(22)
的轴上均张紧有链条
(25)。3.
根据权利要求2所述的一种微波电路检测装置,其特征在于:所述机体
(1)
内底端固定安装有液压杆
(26)
,所述液压杆
(26)
与所述转台
(211)
相对,所述液压杆
(26)
的伸杆上固定安装有工作台
(27)
,所述工作台
(27)
上固定安装有步进电机
(28)
,所述步进电机
(28)
位于所述转台
(211)
下方,所述步进电机
(28)
的轴上固定安装有复位伸缩杆
(29)
,所述复位伸缩杆
(29)
贯穿所述工作台
(27)
,所述复位伸缩杆
(29)
与所述工作台
(27)
转动配合,所述复位伸缩杆
(29)
的伸杆与所述转台
(211)
固定连接
。4.
根据权利要求3所述的一种微波电路检测装置,其特征在于:所述工作台
(27)
上固定安装有四分限位环
(210)
,所述复位伸缩杆
(29)
的伸杆贯穿所述四分限位环
(210)
的内圈,所述四分限位环
(210)
的外圈尺寸与所述转台
(211)
尺寸相同,所述转台
(211)
与所述四分限位环
(210)
相适配,所述转台
(211)
的顶面与所述工作台
(27)
的顶面位于同一水平面内
。5.
根据权利要求4所述的一种微波电路检测装置,其特征在于:所述对位检测机构
(3)
还包括电控伸缩杆
(31)
,所述电控伸缩杆
(31)
固定安装在所述机体
(1)
内顶端,所述电控伸缩杆
(31)...
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