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本发明涉及一种电路板老化测试设备，包括老化测试工装和老化测试箱，老化测试箱包括低温测试模块
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该专利属于郑州市装联电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过郑州市装联电子有限公司授权不得商用。

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