【技术实现步骤摘要】
具有防触电功能的半导体器件测试连接装置
[0001]本技术涉及半导体测试
,尤其涉及具有防触电功能的半导体器件测试连接装置
。
技术介绍
[0002]在进行半导体器件测试试验时,
IGBT
模块的各个引脚必须要与测试设备进行电气上的连接,通常情况下使用弹簧针与
IGBT
模块的引脚进行接触连接
。
[0003]经检索,申请号为
201920489605.X
的专利公开了防触电的半导体器件测试连接装置,其包括弹簧针基座以及用于支撑所述弹簧针基座的支撑板,在所述支撑板的上方设置绝缘体,该专利虽然具备防触电功能,但是其在实际操作过程中依然存在以下问题:
[0004]其一,在实际使用过程中,不便于将整个装置很好的固定到测试台上,进而在测试的过程中易出现移动而影响使用的情况;
[0005]其二,在实际使用过程中,待测半导体器件与测试支架之间不方便进行拆装,需要借助专业的工具,拆装起来较为麻烦,会影响到半导体器件的测试效率
。
技术实现思路
[0006]针对现有技术的不足,本技术提供了具有防触电功能的半导体器件测试连接装置,通过设计定位组件和夹持机构,克服了现有技术的不足,有效的解决了现有的半导体器件测试连接装置在使用时无法很好的固定到测试台上以及待测半导体器件与测试支架之间不方便进行拆装的问题
。
[0007]为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:
[0008]具有防触电功能的半导体器 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
具有防触电功能的半导体器件测试连接装置,包括顶部外壁固设有针座
(2)
的支撑板
(1)
,所述针座
(2)
上设有均匀分布的弹簧针
(3)
,且支撑板
(1)
的上方设有待测半导体器件
(4)
,其特征在于,所述支撑板
(1)
的两侧外壁均焊接有连接架
(5)
,且两个连接架
(5)
上均设有定位组件,所述支撑板
(1)
上通过手摇式升降机构连接有器件测试支架
(10)
,且器件测试支架
(10)
上设有夹持机构
。2.
根据权利要求1所述的具有防触电功能的半导体器件测试连接装置,其特征在于,两个所述定位组件均包括螺接于连接架
(5)
上的蝶形螺杆
(6)
和焊接于蝶形螺杆
(6)
一端外壁的定位盘
(7)。3.
根据权利要求1所述的具有防触电功能的半导体器件测试连接装置,其特征在于,所述手摇式升降机构包括焊接于支撑板
(1)
顶部外壁的安装架
(8)、
转动安装于安装架
(8)
上的螺纹转杆
(9)、
对称焊接于安装架
(8)
上的两个导向柱
(11)、
固定嵌装于器件...
【专利技术属性】
技术研发人员:卢小品,栗帅,卢朝,
申请(专利权)人:昆山捷誉兴精密机械有限公司,
类型:新型
国别省市:
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