本技术公开了一种具备防护结构的半导体芯片测试用固定装置，包括工作台，所述工作台表面设置有定位机构，所述定位机构外部安装有固定机构，所述工作台表面开设有滑槽，所述滑槽内部设置有滑块；该具备防护结构的半导体芯片测试用固定装置中，转动旋转块，...

本技术公开了一种适用于半导体芯片测试系统的探针夹具，涉及芯片测试系统探针夹具技术领域，包括第一支架和第二支架，所述第第一支架和第二支架之间通过第一直线导轨和第二直线导轨连接，两个所述第一直线导轨位于两个第二直线导轨正上方，所述第一直线导...

本技术公开了一种半导体器件的分料筛选装置，包括分选筛分装置本体，所述分选筛分装置本体的一侧定位安装有振动电机，所述分选筛分装置本体的内侧定位安装有分选筛分机构，所述分选筛分装置本体下端的四角固定连接有底部支撑脚。本技术所述的一种半导体器...

本技术公开了一种半导体器件用切片模具，涉及模具技术领域，针对现有技术中树脂样品容易与模具的内壁粘连，导致树脂样品不容易从切片模具中取出，为使用带来不便的问题，现提出如下方案，包括底板，所述底板的顶部固定有底模，所述底模的一侧设置有第一半...

本实用新型公开了具有防触电功能的半导体器件测试连接装置，涉及半导体测试技术领域，其包括顶部外壁固设有针座的支撑板，所述针座上设有均匀分布的弹簧针，且支撑板的上方设有待测半导体器件，所述支撑板的两侧外壁均焊接有连接架，且两个连接架上均设有...

本实用新型公开了半导体器件测试机台送料装置，涉及送料技术领域，包括短板和长板，所述短板顶部外壁安装有固定架，所述固定架顶部外壁通过轴承插接有旋转柱，所述旋转柱两侧外壁均固定有送料组件，所述短板顶部外壁安装有电动旋转台，所述电动旋转台转动...

本实用新型涉及半导体器件测试技术领域，尤其涉及一种新型半导体器件用测试针组件，包括底座，底座顶部中心处内壁连接有放置框，放置框内壁底端固定连接有支撑板，支撑板内壁中心处连接有电源盒，电源盒顶部连接有电动螺纹柱，本实用新型中通过设置放置框...

本实用新型涉及测试座技术领域，尤其涉及一种精准嵌入式的半导体芯片测试座，包括底座，底座顶部两端连接有座体，座体顶部中心处内壁开设有嵌入槽，嵌入槽内壁连接有放置板，放置板内壁两端均连接有穿孔，放置板顶部中心处内壁连接有测试板，本实用新型中...

本实用新型公开了一种测试稳定有效的半导体器件用测试组件，包括基座，基座的上端设置有收纳槽，基座的上端连接有合页，合页的一端连接有显示屏，基座的上端连接有工作台，基座的底端连接有检测结构，基座的前端连接有抽屉，抽屉的一端连接有把手，抽屉的...

本实用新型公开了一种表面可粘贴的半导体器件测试座，包括基座，基座的上端连接有软垫板，软垫板的表面设置有安置孔，软垫板的两端连接有卡勾，基座的内部连接有卡块，基座的上端连接有X向滑轨，X向滑轨的上端连接有Y向滑轨，X向滑轨的上端连接有X向...

本实用新型公开了一种霍尔器件套管机的进料机构，包括送料机主体，所述送料机主体的前端设置有电源模块，且电源模块的一侧设置有控制模块，所述控制模块的后端设置有底座，且底座的上端外表面设置有筛选机构，所述筛选机构的一侧设置有送料口，且筛选机构...

本实用新型公开了一种霍尔器件套管机的出料机构，包括出料机主体，所述出料机主体的上端外表面设置有控制系统，且控制系统的一侧设置有输入系统，所述输入系统的下端外表面设置有传送处，且传送处的一侧设置有加工处，所述加工处的一侧设置有推动机构，且...

本实用新型公开了一种霍尔器件套管机的夹持机构，所述主体的一侧设置有变压器，所述主体的上端外表面设置有夹料台，所述夹料台的一侧设置有旋转轴，所述夹料台的内壁一侧设置有可调节夹持件，所述可调节夹持件的内壁一侧设置有夹料槽，所述夹料台的一侧设...

本实用新型公开了一种IC测试载板免焊接组装结构，包括主体，所述主体的上端设置有插管，所述插管的一侧上端设置有电路板，所述电路板的上端设置有U型槽，所述U型槽的上端设置有连接块，所述连接块的上端设置有固定柱，所述连接块的一侧设置有紧固器，...

本实用新型公开了一种IC测试设备用的测试座，包括测试座主体，所述测试座主体的上端外表面设置有插板，所述插板的上端外表面设置有固定板，所述固定板的上端外表面设置有防水密封结构，所述防水密封结构包括一号防水壳、密封板、防水框与二号防水壳，所...

本实用新型公开了一种霍尔器件套管机的输送机构，包括输送机构主体，所述输送机构主体的下端外表面设置有缓冲减震座，所述缓冲减震座包括螺纹连接柱、缓冲块、减震板、缓冲柱与传震底板，所述输送机构主体的一侧外表面设置有便捷性输送箱，所述便捷性输送...

本实用新型公开了一种霍尔器件套管插件机插接机械手，包括基座，所述基座的后端固定连接有便于稳固安装机构，所述便于稳固安装机构包括背板、圆形安槽、侧板、安装孔，所述基座的前端设置有齿条移动块，所述齿条移动块的上端设置有滑槽，所述滑槽的上端设...

本实用新型公开了一种自动化IC测试分选设备，包括主体，所述主体的下端设置有支撑架，所述主体的上端设置有调心托辊组，所述调心托辊组的一侧设置有垂直料道，所述垂直料道的一侧设置有固定板，所述垂直料道的另一侧设置有分选机构，所述分选机构的上端...

本实用新型公开了一种转塔式测试装置的快拆式IC测试座，包括测试座主体，所述测试座主体的下端外表面设置有便捷性防滑座，所述便捷性防滑座包括支撑脚、承重板、侧护板、螺纹连接柱与调节柄，所述测试座主体的上端外表面设置有连接块，所述连接块的上端...

本实用新型公开了一种霍尔器件套管插件机星形送料结构，包括主体，所述主体的上端设置有机架，所述主体的一侧设置有整形组件，所述整形组件的一侧设置有除垢装置，所述除垢装置的下端设置有电机，所述主体的另一侧设置有震动盘，所述震动盘的一侧设置有送...