本实用新型专利技术提供了一种烹饪设备的测温装置和烹饪设备，测温装置包括：连线端子；M个测温线，M个测温线与M个待测温区域一一对应，M为大于1的正整数；每一测温线包括：N个弯折部，N个弯折部圆滑过渡并依次连接，N为正整数；其中，第一弯折部的首端和第二弯折部的尾端分别与连线端子连接，第一弯折部是位于N个弯折部首部的弯折部，第二弯折部是位于N个弯折部尾部的弯折部。部的弯折部。部的弯折部。
【技术实现步骤摘要】
烹饪设备的测温装置和烹饪设备
[0001]本技术涉及测温
，具体而言，涉及一种烹饪设备的测温装置和烹饪设备。
技术介绍
[0002]以微波炉为例，其利用设置的电磁加热线圈实现锅具的加热，为了实现锅具干烧的检测，会在放置锅具的面板上设置有测温装置，利用测温装置来测定锅具的温度，并在锅具的温度过高的情况下，降低电磁炉的加热功率，以实现微波炉的安全保护。
[0003]然而，在电磁加热线圈工作时，会产生电磁场，上述电磁场会作用到测温装置，使得测温装置测定得到的温度值失真，影响锅具干烧判定的准确性。
技术实现思路
[0004]本技术旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
[0005]为此，本技术的第一个方面在于，提供了一种烹饪设备的测温装置。
[0006]本技术的第二个方面在于，提供了一种烹饪设备。
[0007]有鉴于此，根据本技术的第一个方面，本技术提供了一种烹饪设备的测温装置，烹饪设备包括相对设置的面板和电磁加热线圈，测温装置位于面板和电磁加热线圈之间，面板具有M个待测温区域，测温装置包括：连线端子；M个测温线，M个测温线与M个待测温区域一一对应，M为大于1的正整数；每一测温线包括：N个弯折部，N个弯折部圆滑过渡并依次连接，N为正整数；其中，第一弯折部的首端和第二弯折部的尾端分别与连线端子连接，第一弯折部是位于N个弯折部首部的弯折部，第二弯折部是位于N个弯折部尾部的弯折部。
[0008]本技术提出了一种烹饪设备的测温装置，该测温装置能够测定面板的温度值，以实现对放置在面板上的锅具是否干烧的检测。
[0009]具体地，在测温线走线时，若走线存在锐角或钝角，则在有电流流经的情况下，电流会在走线的尖角位置出现尖峰放电，更容易收到电磁加热线圈工作所产生的电磁场的影响，如受到谐振产生的高频电磁波影响。
[0010]通过将每一个测温线中所包括的弯折部圆滑过渡，使得测温线在走线时没有锐角或钝角，减少了电流会在走线时出现尖峰放电的情况，以此来降低测温装置在测温时受到的电磁干扰。
[0011]其中，弯折部圆滑过渡，可以理解为弯折部的走线为圆滑的曲线，不存在锐角或钝角。
[0012]其中，依次连接可以理解为N个弯折部中任意相邻的两个弯折部中排序靠前的弯折部的尾端与排序靠后的弯折部的首端连接，使得N个弯折部串接形成一条走线，也即本技术方案中的测温线。
[0013]其中，连线端子分别与第一弯折部和第二弯折部连接，使得测温线能够通过连接
端子向外输出，从而形成回路，以便得到测温结果。
[0014]其中，测温线可以理解为用于测定温度的导线。具体地，测温线的电阻值根据其所处环境的温度的不同而不同，如随着其所处环境的温度升高而增大，或随着其所处环境的温度升高而减小，通过测定测温线的电阻值来实现对应待测温区域的温度测定。
[0015]在其中一个技术方案中，电磁加热线圈位于面板的一侧、且远离锅具设置，以便面板能够与锅具直接接触，并支撑锅具。通过限定该测温装置设于面板与电磁加热线圈之间，避免了锅具与测温装置直接接触，在使用时间过长的情况下，测温装置因长期磨损而出现损坏的问题。
[0016]在本技术中，测温装置包括M个测温线，其中，M个测温线与面板上设置的M个待测温区域一一对应，因此，测温装置能够实现面板上不同待测温区域的温度测定，以此消除锅具在长期使用的情况下，因锅具出现形变使得温度测定异常这一情况出现的机率。
[0017]另外，本技术方案提出的烹饪设备的测温装置还具有以下附加技术特征。
[0018]在上述技术方案中，测温线以第三弯折部为初始位置并行蜿蜒排布；其中，第三弯折部位于测温线的中部位置。
[0019]在该技术方案中，可以理解的是，测温线以中部位置对折后形成第三弯折部，测温线对折后的两侧以第三弯折部为初始位置并行蜿蜒，形成如S形状的排布。在此过程中，可以使得位于初始位置两侧的测温线长度相近，对应的阻抗相接近，相互紧贴使得磁场干扰强度接近，使得位于测温线上的共膜磁场噪声可以被消除。
[0020]此外，采用上述排布方式，可以使得同一测温线在电磁加热线圈所产生的电磁场漆面上的环路最小，提高了测温装置的抗干扰能力，提高了测定温度的可靠性。
[0021]在其中一个技术方案中，第三弯折部位于测温线的中间位置。
[0022]在上述任一技术方案中，测温线中的相邻两个部分之间的间距小于或等于0.5毫米。
[0023]在该技术方案中，对测温线中的相邻两个部分之间的间距取值进行了限定，通过上述限定，以便实现蜿蜒排布的疏密程度进行限定。
[0024]通过限定上述间距小于0.5毫米，以便使得测温线蜿蜒排布的比较密，使得相同待测温区域所对应的测温线越长，对应的电阻值越大，对电磁加热线圈所产生的电磁场的抗干扰能力越强，以此来提高测温装置输出的测温结果的可靠性。
[0025]在其中一个技术方案中，测温线中的相邻两个部分之间的间距小于或等于0.25毫米。
[0026]在其中一个技术方案中，相邻两个部分之间的间距可以理解为相邻的测温线中相靠近的测温线边缘之间的距离。
[0027]在其中一个技术方案中，测温线的线宽小于或等于0.25微米。
[0028]在上述任一技术方案中，测温装置还包括：至少两个连接导线组，每一连接导线组包括：第一连接导线，第一连接导线的第一端与O个测温线中的第一弯折部的首端连接，第一连接导线的第二端与连线端子连接；O个第二连接导线，O个第二连接导线的第一端与O个测温线中的第二弯折部的尾端一一对应连接，O个第二连接导线的第二端与连线端子连接；其中，O为大于1的正整数。
[0029]在该技术方案中，通过设置连接导线组，以便使得M个测温线通过连接导线组与连
接端子连接，在此过程中，O个测温线中的第一弯折部的首端与第一连接导线连接，实现了连接导线的共用。在此过程中，可以减少连接导线的使用数量，同时，降低了连接导线的布线难度。
[0030]此外，可以根据每一个测温线在电磁场切面上的环路来选择连接的连接导线组，以使测温线在电磁场切面上的环路越小，进而降低电磁场对测温装置测定温度的干扰。
[0031]在其中一个技术方案中，在M取值为8的情况下，O的取值为4，也即，存在两个连接导线组与8根测温线连接，4个测温线共用同一个连接导线组。
[0032]在上述任一技术方案中，O个第二连接导线间隔分布在第一连接导线的一侧或两侧。
[0033]在该技术方案中，O个第二连接导线间隔分布，以便形成较为规整的排布，提高了测温装置的美观性。
[0034]此外，O个第二连接导线位于第一连接导线的一侧或两侧，以便第一连接导线和O个第二连接导线间隔排布，使得测温线在电磁场切面上的环路越小，进而降低电磁场对测温装置测定温度的干扰。
[0035]在上述任一技术方案中，相邻两个第二连接导线之间的间距小于或等于2本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种烹饪设备的测温装置，其特征在于，所述烹饪设备包括相对设置的面板和电磁加热线圈，所述测温装置位于所述面板和所述电磁加热线圈之间，所述面板具有M个待测温区域，所述测温装置包括：连线端子；M个测温线，所述M个测温线与所述M个待测温区域一一对应，M为大于1的正整数；每一所述测温线包括：N个弯折部，所述N个弯折部圆滑过渡并依次连接，N为正整数；其中，第一弯折部的首端和第二弯折部的尾端分别与所述连线端子连接，所述第一弯折部是位于所述N个弯折部首部的弯折部，所述第二弯折部是位于所述N个弯折部尾部的弯折部。2.根据权利要求1所述的烹饪设备的测温装置，其特征在于，所述测温线以第三弯折部为初始位置并行蜿蜒排布；其中，所述第三弯折部位于所述测温线的中部位置。3.根据权利要求2所述的烹饪设备的测温装置，其特征在于，所述测温线中的相邻两个部分之间的间距小于或等于0.5毫米。4.根据权利要求1所述的烹饪设备的测温装置，其特征在于，所述测温装置还包括：至少两个连接导线组，每一所述连接导线组包括：第一连接导线，所述第一连接导线的第一端与O个所述测温线中的所述第一弯折部的首端连接，所述第一连接导线的第二端与所述连线端子连接；O个第二连接导线，所述O个第二连接导线的第一端与所述O个所述测温线中的所述第二弯折部的尾端一一对应连接，所述O个第...
【专利技术属性】
技术研发人员：麦广添，雷志球，李小辉，马志海，周瑜杰，何少华，
申请(专利权)人：佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司，
类型：新型
国别省市：
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