【技术实现步骤摘要】
一种忆阻器的测试电路
[0001]本专利技术属于忆阻器的测试领域，涉及一种忆阻器的测试电路
。
技术介绍
[0002]忆阻器
(
记忆电阻器
)
是近年来被发现的一种新型电子元件
。
忆阻器的电阻值会随着通过它的电流大小变化而变化，并且在断电后其电阻值会保持原状态，因此它具有电阻值记忆的特性
。
忆阻器由于其在开关性能
、
集成度
、
非易失性等方面的优势以及其多值存储的特性，自
2008
年问世以来就引起了研究人员的广泛关注，在下一代计算机基础物理器件领域具有广阔的应用前景
。
[0003]忆阻器具有非易失性存储特性，因此，通常需要测试忆阻器的直流电压
‑
电流特性曲线，以获得忆阻器的
SET
电压
、RESET
电压以及高低阻态窗口值
。
忆阻器电阻转变特性的测试流程为：
SET
过程给忆阻器施加偏压从零增加到设定的正极性或负极性电压值，然后再递减到零，在扫描的过程中电压在超过忆阻器的
SET
电压值后，忆阻器的电阻值会从高电阻态变为低电阻态
。RESET
过程是指忆阻器施加的偏压从零减小到设定的负极性电压值，然后再递增到零，在扫描的过程中电压在超过忆阻器的
RESET
电压值后，忆阻器的电阻值会从低电阻态变为高电阻态
。
通常需要在
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种忆阻器的测试电路，包括电压源模块
(1)、
恒流源模块
(2)、
模拟开关
(3)、
采样电阻
(4)、
限流判断模块
(5)、
忆阻器
(6)
及辅助测量采集模块
(7)
，其特征在于，所述电压源模块
(1)
的输出端与模拟开关
(3)
的第一支路
(3
‑
1)
相连，所述恒流源模块
(2)
与模拟开关
(3)
的第二支路
(3
‑
2)
相连，所述模拟开关
(3)
的输出端与采样电阻
(4)
的一端相连，所述采样电阻
(4)
的另一端与忆阻器
(6)
的输入端相连，所述限流判断模块
(5)
并联在采样电阻
(4)
的两端，所述忆阻器
(6)
的输出端与辅助测量采集模块
(7)
相连
。2.
根据权利要求1所述忆阻器的测试电路，其特征在于，所述电压源模块
(1)
包括
DAC
芯片和电压源模块第一运算放大器，其中
DAC
芯片的输出端与电压源模块第一运算放大器的同相输入端连接，电压源模块第一运算放大器的反向输入端与第一运算放大器的输出端连接
。3.
根据权利要求1所述忆阻器的测试电路，其特征在于，所述恒流源模块
(2)
包括第一运算放大器
(U1)、
第二运算放大器
(U2)、
第三运算放大器
(U3)、
第四运算放大器
(U4)、
第一电阻
(R1)、
第二电阻
(R2)、
第三电阻
(R3)、
第四电阻
(R4)、
第五电阻
(R5)、
第六电阻
(R6)、
第七电阻
(R7)
和第八电阻
(R8)
，所述第一电阻
(R1)、
第二电阻
(R2)、
第三电阻
(R3)、
第四电阻
(R4)、
第五电阻
(R5)、
第七电阻
(R7)
和第八电阻
(R8)
的阻值相等，且所述第六电阻
(R6)
的阻值设置为恒流源的输出值；其中第一电阻
(R1)
的两端分别与外部输入的参考电压和第一运算放大器
(U1)
的反相输入端相连；第二电阻
(R2)
的两端分别与第一运算放大器
(U1)
的反相输入端和第一运算放大器
(U1)
的输出端相连；第一运算放大器
(U1)
的同相输入端接地；第三电阻
(R3)
的两端分别与第一运算放大器
(U1)
的输出端和第二运算放大器
(U2)
的反相输入端相连；第四电阻
(R4)
的两端分别与第四运算放大器
(U4)
的输出端和第二运算放大器
(U2)
的反相输入端相连；第五电阻
(R5)
的两端分别与第二运算放大器
(U2)
的输出端和第二运算放大器
(U2)
的反相输入端相连；第六电阻
(R6...
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