一种带有测试端接触不良检测的大电流导体电阻测试仪制造技术

技术编号:39322834 阅读:6 留言:0更新日期:2023-11-12 16:02
本发明专利技术公开一种带有测试端接触不良检测的大电流导体电阻测试仪,属于导体电阻测试技术领域,其包括底座,底座顶端通过合页连接有防护盖,且底座内设置有主电池和副电池,底座的顶部开设有测试槽,且测试槽内滑动连接有两个移动块,移动块顶部均固定安装有定位柱,测试槽内固定安装有下固定架,且下固定架顶端设置有上固定架,下固定架的底部内壁设置有通电端,且下固定架的两侧内壁连接安装有信号端,下固定架内固定安装有第一弹簧,且第一弹簧顶端连接有接触端,上固定架内滑动连接有压杆,且压杆一端固定安装有压板,底座顶端设置有显示屏。本发明专利技术,能够在检测电阻之前对接触端进行检测,避免有接触不良导致影响检测效果。避免有接触不良导致影响检测效果。避免有接触不良导致影响检测效果。

【技术实现步骤摘要】
一种带有测试端接触不良检测的大电流导体电阻测试仪


[0001]本专利技术涉及导体电阻测试
,尤其涉及一种带有测试端接触不良检测的大电流导体电阻测试仪。

技术介绍

[0002]电阻指的是导体对电流的阻碍作用,电阻越大表示导体对电流的阻碍效果越大,电阻越小表示导体对电流的阻碍效果越小,导体电阻的影响因素包括有长度、横截面积、材料和温度等,为了测试导体的电阻大小,需要对导体进行通电检测,但当电阻测试仪长时间使用后测试端容易出现损坏,导致接触不良,不及时发现会影响检测效果,存在一定的局限性,因此,需要设计一种带有测试端接触不良检测的大电流导体电阻测试仪来解决这个问题。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足,本专利技术提供了一种带有测试端接触不良检测的大电流导体电阻测试仪,克服了现有技术的不足,旨在解决
技术介绍
中的问题。
[0004]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种带有测试端接触不良检测的大电流导体电阻测试仪,包括底座,所述底座顶端通过合页连接有防护盖,且底座内设置有主电池和副电池,所述底座的顶部开设有测试槽,且测试槽内滑动连接有两个移动块,所述移动块顶部均固定安装有定位柱,所述移动块一侧固定安装有连接架,且连接架内通过螺纹连接有旋钮,所述测试槽内固定安装有下固定架,且下固定架顶端设置有上固定架,所述下固定架的底部内壁设置有通电端,且下固定架的两侧内壁连接安装有信号端,所述下固定架内固定安装有第一弹簧,且第一弹簧顶端连接有接触端,所述上固定架内滑动连接有压杆,且压杆一端固定安装有压板,所述上固定架和压板之间连接有第二弹簧,所述底座顶端设置有显示屏。
[0005]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述底座顶端固定安装有放置柱,所述放置柱和定位柱均采用螺纹结构设计,且放置柱外侧通过螺纹连接有紧固帽,可以通过紧固帽对大电流导体进行固定,放置柱则用于放置紧固帽便于将大电流导体与定位柱连接。
[0006]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述旋钮底部固定安装有限位板,且底座内开设有与旋钮适配的移动槽,可以利用旋钮控制移动块移动,且能够对其进行固定。
[0007]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述下固定架顶端固定安装有定位销,且上固定架底部开设有与定位销适配的定位块,方便对位。
[0008]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述底座顶端设置有指示灯,且通过线路与通电端相连,所述副电池、通电端以及指示灯为串联电路,通过让接触端与通电端接触使线路连通,从而判断测试端是否存在接触不良的情况。
[0009]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述底座外侧设置有开关,且通过线路与信号端相连,所述主电池、定位柱、开关以及信号端为串联电路,能够利用对定位柱进行控制,避
免放置时触电。
[0010]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述防护盖采用透明绝缘材料制成,在检测时对测试槽进行覆盖,增加安全性。
[0011]本专利技术的有益效果:通过接触端与导体接触,并利用信号端进行检测,通过显示屏显示数值;接触端能够利用压杆和压板控制下降,通过与通电端接触的方式来判断接触端是否有接触不良的情况发生;通过定位柱对导体进行放置,且能够利用紧固帽进行固定,定位柱还可以通过旋钮进行移动并固定,适用于不同长度的导体;利用开关控制主电池的电流,避免放置导体时线路连通导致触电,且配合防护盖能够在检测时增加安全性。
附图说明
[0012]图1为本专利技术的3D结构示意图;图2为本专利技术的俯视;图3为本专利技术中连接架的连接结构示意图;图4为本专利技术中固定架的连接结构示意图。
[0013]图中:1、底座;2、防护盖;3、主电池;4、副电池;5、测试槽;6、移动块;7、定位柱;8、旋钮;9、连接架;10、限位板;11、紧固帽;12、下固定架;13、上固定架;14、通电端;15、信号端;16、第一弹簧;17、接触端;18、压杆;19、压板;20、第二弹簧;21、显示屏;22、开关。
具体实施方式
[0014]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
实施例
[0015]请参阅图1-图4,一种带有测试端接触不良检测的大电流导体电阻测试仪,包括底座1,底座1顶端通过合页连接有防护盖2,且底座1内设置有主电池3和副电池4,防护盖2采用透明绝缘材料制成,在检测时对测试槽5进行覆盖,增加安全性,底座1的顶部开设有测试槽5,且测试槽5内滑动连接有两个移动块6,移动块6顶部均固定安装有定位柱7,底座1顶端固定安装有放置柱,放置柱和定位柱7均采用螺纹结构设计,且放置柱外侧通过螺纹连接有紧固帽11,可以通过紧固帽11对大电流导体进行固定,放置柱则用于放置紧固帽11便于将大电流导体与定位柱7连接,旋钮8底部固定安装有限位板10,且底座1内开设有与旋钮8适配的移动槽,可以利用旋钮8控制移动块6移动,且能够对其进行固定,移动块6一侧固定安装有连接架9,且连接架9内通过螺纹连接有旋钮8,测试槽5内固定安装有下固定架12,且下固定架12顶端设置有上固定架13,下固定架12顶端固定安装有定位销,且上固定架13底部开设有与定位销适配的定位块,方便对位,下固定架12的底部内壁设置有通电端14,且下
固定架12的两侧内壁连接安装有信号端15,下固定架12内固定安装有第一弹簧16,且第一弹簧16顶端连接有接触端17,底座1顶端设置有指示灯,且通过线路与通电端14相连,副电池4、通电端14以及指示灯为串联电路,通过让接触端17与通电端14接触使线路连通,从而判断测试端是否存在接触不良的情况,上固定架13内滑动连接有压杆18,且压杆18一端固定安装有压板19,上固定架13和压板19之间连接有第二弹簧20,底座1顶端设置有显示屏21,底座1外侧设置有开关22,且通过线路与信号端15相连,主电池3、定位柱7、开关22以及信号端15为串联电路,能够利用开关22对定位柱7进行控制,避免放置时触电。
[0016]工作原理:使用时,需要将大电流导体的两端与定位柱7相连,并将其检测部位置于接触端17之上,可以通过旋钮8控制定位柱7移动调整位置,根据大电流导体以及检测部位进行调整,并转动旋钮8,使限位板10与移动槽底部相接,进行固定,然后盖上上固定架13,并控制压杆18下降,使其带动接触端17同步下降,与通电端14相接,当接触端17接触不良时,通电端14之间电压过低,指示灯红灯亮,当接触端17无质量问题,通电端14之间正常连通,绿色指示灯亮,最后盖上防护盖2,打开开关22,对移动块6和定位柱7进行供电,并通过接触端17和信号端15检测数值,并传输至显示屏21进行显示。
[0017]以上仅为本专利技术的优选实施例而已,并不用于限制本专利技术,尽管参照前述实施例对本专利技术进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种带有测试端接触不良检测的大电流导体电阻测试仪,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)顶端通过合页连接有防护盖(2),且底座(1)内设置有主电池(3)和副电池(4),所述底座(1)的顶部开设有测试槽(5),且测试槽(5)内滑动连接有两个移动块(6),所述移动块(6)顶部均固定安装有定位柱(7),所述移动块(6)一侧固定安装有连接架(9),且连接架(9)内通过螺纹连接有旋钮(8),所述测试槽(5)内固定安装有下固定架(12),且下固定架(12)顶端设置有上固定架(13),所述下固定架(12)的底部内壁设置有通电端(14),且下固定架(12)的两侧内壁连接安装有信号端(15),所述下固定架(12)内固定安装有第一弹簧(16),且第一弹簧(16)顶端连接有接触端(17),所述上固定架(13)内滑动连接有压杆(18),且压杆(18)一端固定安装有压板(19),所述上固定架(13)和压板(19)之间连接有第二弹簧(20),所述底座(1)顶端设置有显示屏(21)。2.根据权利要求1所述的一种带有测试端接触不良检测的大电流导体电阻测试仪,其特征在于,所述底座(1)顶端固定安装有放置柱,...

【专利技术属性】
技术研发人员:王心阳陈余宏
申请(专利权)人:常州欣阳电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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