一种集成电路测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试座，包括底座，底座的顶端开设有检测槽，检测槽的内部设置有顶出机构，顶出机构包括有顶出板、连接杆、压缩弹簧和定位件，检测槽内壁的底端开设有顶出槽，顶出板与顶出槽的内腔连接，顶出槽内壁的底端开设有两个连接槽，两个连接杆的一端均与顶出板连接，两个连接杆的另一端分别与两个连接槽的内腔滑动穿插连接，压缩弹簧位于连接槽的内部。本实用新型专利技术利用顶出板、连接杆、压缩弹簧和定位件相配合的设置方式，可将检测后的集成电路芯片竖直顶出，无需人工接触即可取下，解决了集成电路器件在测试后拔出的过程中引脚容易损坏的弊端，确保了该测试座对集成电路器件的测试效率。集成电路器件的测试效率。集成电路器件的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试座


[0001]本技术涉及集成电路检测装置相关
，特别涉及一种集成电路测试座。

技术介绍

[0002]集成电路在生产或者使用前常需要进行测试作业，通常将集成电路芯片的引脚插入到测试座的定位卡槽中，利用卡槽中的测试弹簧和探针与芯片的引脚电性连接，并将测试座与计算机连接，以进行测试作业。
[0003]现有的测试座一般由一个测试底座和一个盖板组成，在测试时需要将集成电路芯片的引脚插入到测试座的定位卡槽中，测试完成后需要人工将电路芯片取下，由于电路芯片的引脚和定位卡槽都呈竖直状态，引脚在拆卸的过程中容易因施力不均从而使得引脚发生损坏，从而降低该测试座对集成电路器件的测试效率，并使得被测试器件无法加入后续加工过程。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种集成电路测试座，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试座，包括底座，其顶端通过合页转动连接有盖板，所述盖板的顶端设置有散热机构；
[0006]所述底座的顶端开设有检测槽，所述检测槽的内部设置有顶出机构；
[0007]所述顶出机构包括有顶出板、连接杆、压缩弹簧和定位件，所述检测槽内壁的底端开设有顶出槽，所述顶出板与顶出槽的内腔滑动穿插连接，所述顶出槽内壁的底端开设有两个连接槽，两个所述连接杆的一端均与顶出板连接，两个所述连接杆的另一端分别与两个连接槽的内腔滑动穿插连接，所述压缩弹簧位于连接槽的内部，所述定位件设置于底座的一边侧，所述定位件与连接杆相互配合。
[0008]优选的，所述压缩弹簧的一端与连接杆固定连接，所述压缩弹簧的另一端与连接槽的内壁固定连接。
[0009]优选的，所述连接杆的两侧均固定连接有限位块，所述连接槽内壁的两侧均开设有限位槽，所述限位块与限位槽的内腔滑动穿插连接。
[0010]优选的，所述顶出板包括有板体、遮挡板和滑块，所述板体的底端与两个连接杆的顶端固定连接，所述板体的顶端开设有两个滑槽，两个所述滑块分别与两个滑槽的内腔滑动穿插连接，所述滑槽内壁的底端开设有两个定位槽，所述滑块与定位槽的内腔滑动穿插连接，两个所述遮挡板分别固定连接于两个滑块的顶端。
[0011]优选的，所述定位件包括有定位杆、定位板和限位板，两个所述连接槽内壁的一边侧均开设有通槽，所述定位杆与通槽的内腔滑动穿插连接，两个所述定位杆均与定位板固定连接，所述连接杆的一边侧开设有定位孔，所述定位杆与定位孔的内腔滑动穿插连接，所
述限位板通过转轴与底座转动连接，所述限位板与定位板相互配合。
[0012]优选的，所述散热机构包括有散热板和散热片，所述散热板嵌设于盖板的底端，多个所述散热片等距固定连接于散热板的顶端，多个所述散热片均嵌设于盖板的内部。
[0013]优选的，所述底座的顶端嵌设有铁片，所述盖板与底座相对的一侧嵌设有磁铁，所述磁铁与铁片相互配合。
[0014]本技术的技术效果和优点：
[0015]本技术利用顶出板、连接杆、压缩弹簧和定位件相配合的设置方式，通过定位件使得连接杆带动顶出板收纳在顶出槽的内部，此时可将集成电路芯片放置在检测槽的内部，并进行检测，在检测完成后只需通过解除定位件对连接杆的定位，即可在压缩弹簧的弹性作用力下使得顶出板将检测后的集成电路芯片竖直顶出，无需人工接触即可取下，解决了集成电路器件在测试后拔出的过程中引脚容易损坏的弊端，确保了该测试座对集成电路器件的测试效率。
附图说明
[0016]图1为本技术整体结构示意图之一。
[0017]图2为本技术整体结构示意图之二。
[0018]图3为本技术正面内部结构示意图。
[0019]图4为本技术侧面内部结构示意图。
[0020]图5为本技术图4中A处放大结构示意图。
[0021]图中：1、底座；2、盖板；3、顶出机构；31、顶出板；311、板体；312、遮挡板；313、滑块；32、连接杆；33、压缩弹簧；34、定位件；341、定位杆；342、定位板；343、限位板；4、限位块；5、散热机构；51、散热板；52、散热片；6、铁片；7、磁铁。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]本技术提供了如图1
‑
5所示的一种集成电路测试座，包括底座1，其顶端通过合页转动连接有盖板2，盖板2的顶端设置有散热机构5；
[0024]底座1的顶端开设有检测槽，检测槽内壁的底端开设有多个用于与集成电路芯片连接的插口，检测槽的内部设置有顶出机构3；
[0025]顶出机构3包括有顶出板31、连接杆32、压缩弹簧33和定位件34，检测槽内壁的底端开设有顶出槽，顶出板31与顶出槽的内腔滑动穿插连接，顶出槽内壁的底端开设有两个连接槽，两个连接杆32的一端均与顶出板31连接，两个连接杆32的另一端分别与两个连接槽的内腔滑动穿插连接，压缩弹簧33位于连接槽的内部，定位件34设置于底座1的一边侧，定位件34与连接杆32相互配合，通过定位件34可对连接杆32进行定位，从而使得压缩弹簧33处于压缩状态，顶出板31处于收纳在顶出槽内部的状态，此时可正常将集成电路插入检测槽的内部进行检测，检测完成后，可解除定位件34对连接杆32的定位，即可在压缩弹簧33
的弹性作用力下，使得两个连接杆32同时将顶出板31顶起，从而可将检测完毕后的的集成电路芯片竖直顶出，无需人工接触即可取下。
[0026]压缩弹簧33的一端与连接杆32固定连接，压缩弹簧33的另一端与连接槽的内壁固定连接。
[0027]连接杆32的两侧均固定连接有限位块4，连接槽内壁的两侧均开设有限位槽，限位块4与限位槽的内腔滑动穿插连接，限位块4起到了对连接杆32运动的限位作用，保证个连接杆32能够进行竖直方向上的运动，并使得压缩弹簧33始终处于压缩状态，使得压缩弹簧33通过连接杆32对顶出板31有一个弹性作用力。
[0028]顶出板31包括有板体311、遮挡板312和滑块313，板体311的底端与两个连接杆32的顶端固定连接，板体311的顶端开设有两个滑槽，两个滑块313分别与两个滑槽的内腔滑动穿插连接，滑槽内壁的底端开设有两个定位槽，滑块313与定位槽的内腔滑动穿插连接，两个遮挡板312分别固定连接于两个滑块313的顶端，滑块313的截面呈T字形，在滑块313与两个定位槽的穿插下，能够使得整个顶出板31呈两种状态，一个为遮挡板312收纳状态，一个为遮挡板312伸出状态，收纳时顶出板31起到对集成电路芯片的顶出作用，伸出时，可在盖板2打开时防止外界的灰尘杂物落入检测槽所开设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试座，包括：底座(1)，其顶端通过合页转动连接有盖板(2)，所述盖板(2)的顶端设置有散热机构(5)；其特征在于：所述底座(1)的顶端开设有检测槽，所述检测槽的内部设置有顶出机构(3)；所述顶出机构(3)包括有顶出板(31)、连接杆(32)、压缩弹簧(33)和定位件(34)，所述检测槽内壁的底端开设有顶出槽，所述顶出板(31)与顶出槽的内腔滑动穿插连接，所述顶出槽内壁的底端开设有两个连接槽，两个所述连接杆(32)的一端均与顶出板(31)连接，两个所述连接杆(32)的另一端分别与两个连接槽的内腔滑动穿插连接，所述压缩弹簧(33)位于连接槽的内部，所述定位件(34)设置于底座(1)的一边侧，所述定位件(34)与连接杆(32)相互配合。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于，所述压缩弹簧(33)的一端与连接杆(32)固定连接，所述压缩弹簧(33)的另一端与连接槽的内壁固定连接。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于，所述连接杆(32)的两侧均固定连接有限位块(4)，所述连接槽内壁的两侧均开设有限位槽，所述限位块(4)与限位槽的内腔滑动穿插连接。4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于，所述顶出板(31)包括有板体(311)、遮挡板(312)和滑块(313)，所述板体(311)的底端与两个连接杆(32)...

【专利技术属性】
技术研发人员：史伟，钦礼辉，梁天宇，
申请(专利权)人：徐州领测半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：