【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及线缆连接，特别涉及一种集成电路测试用的线缆连接加固结构。
技术介绍
1、集成电路在遇到故障时需要进行测试，现在大多都是通过万用表对集成电路进行测试，测试时，将两个电笔的线缆与万用表连接，即可通过连个电笔对集成电路进行测试，但是现在的线缆在连接时就直接将插头插入插孔中，且是通过过盈配合的方式进行定位，若是电笔在使用过程中对线缆的造成的拉扯力较大时，会出现插头从插孔中拔出的现象，从而降低了线缆连接的稳定性。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，包括万用表主体，所述万用表主体的顶端设置有两个线缆，所述线缆的一端设置有连接座，所述连接座与万用表主体之间设置有连接机构；
3、连接座与万用表主体之间设置有加固机构；
4、所述加固机构包括固定套，所述固定套固定套接于连接座的外壁，所述固定套的底端固定连接有插环，所述万用表主体的顶端开设有插槽，所述插环的外壁与插槽的内壁活动穿插连接，所述插环的外壁开设有定位槽，所述插槽的内壁开设有两个第一活动孔，两个所述第一活动孔的内壁均活动穿插连接有定位杆，两个所述定位杆的一端均穿插设置于定位槽的内壁。
5、优选的，所述第一活动孔的内壁开设有第一活动腔，所述第一活动腔的内壁滑动连接有第一限位环，所述第一限位环固定套接于定位杆的外壁，所述第一
6、优选的，所述定位杆的顶端开设有第三斜面，所述插孔的底端开设有圆弧面。
7、优选的，所述定位杆的顶端开设有开槽，所述开槽的内壁开设有第二斜面，所述第一活动孔的内壁开设有第二活动孔，所述第二活动孔的内壁活动穿插连接有活动杆，所述活动杆的底端开设有第一斜面。
8、优选的，所述第二活动孔的内壁开设有第二活动腔，所述第二活动腔的内壁滑动连接有第二限位环，所述第二限位环固定套接于活动杆的外壁，所述第二限位环的底端设置有第二弹簧，所述第二弹簧套设于活动杆的外壁。
9、优选的，所述连接机构包括插孔，所述插孔固定连接于连接座的底端，所述万用表主体的顶端开设有插头，所述插孔穿插设置于插头的内壁。
10、优选的，所述定位槽为环形槽，所述定位槽的厚度与定位槽的深度相匹配。
11、优选的，所述万用表主体的顶端开设有连通孔，所述活动杆的顶端贯穿连通孔的内部并延伸至万用表主体的上方。
12、本专利技术的技术效果和优点：
13、(1)本专利技术通过连接机构将线缆与万用表主体进行连接时，此时插环也插入插槽内，然后将定位杆插入定位槽中，即可将插环在插槽内定位，使得电笔在使用过程中不会导致线缆与万用表主体分离，从而提高了线缆连接的稳定性；
14、(2)本专利技术利用圆弧面和第三斜面的设置，使得插环向插槽中插入时会出现圆弧面对第三斜面进行挤压的现象，从而使得定位杆移动，使得插环可以稳定下移，从而提高了插环操作的便捷性。
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1.一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，包括万用表主体(101)，所述万用表主体(101)的顶端设置有两个线缆(102)，所述线缆(102)的一端设置有连接座(103)，所述连接座(103)与万用表主体(101)之间设置有连接机构；
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述第一活动孔(206)的内壁开设有第一活动腔(207)，所述第一活动腔(207)的内壁滑动连接有第一限位环(208)，所述第一限位环(208)固定套接于定位杆(205)的外壁，所述第一弹簧(209)设置于第一限位环(208)远离插孔(105)的一侧，所述第一弹簧(209)套设于定位杆(205)的外壁。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述定位杆(205)的顶端开设有第三斜面(401)，所述插孔(105)的底端开设有圆弧面(402)。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述定位杆(205)的顶端开设有开槽(304)，所述开槽(304)的内壁开设有第二斜面(30
5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述第二活动孔(301)的内壁开设有第二活动腔(306)，所述第二活动腔(306)的内壁滑动连接有第二限位环(307)，所述第二限位环(307)固定套接于活动杆(302)的外壁，所述第二限位环(307)的底端设置有第二弹簧(308)，所述第二弹簧(308)套设于活动杆(302)的外壁。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述连接机构包括插孔(105)，所述插孔(105)固定连接于连接座(103)的底端，所述万用表主体(101)的顶端开设有插头(104)，所述插孔(105)穿插设置于插头(104)的内壁。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述定位槽(204)为环形槽，所述定位槽(204)的厚度与定位槽(204)的深度相匹配。
8.根据权利要求4所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述万用表主体(101)的顶端开设有连通孔，所述活动杆(302)的顶端贯穿连通孔的内部并延伸至万用表主体(101)的上方。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，包括万用表主体(101)，所述万用表主体(101)的顶端设置有两个线缆(102)，所述线缆(102)的一端设置有连接座(103)，所述连接座(103)与万用表主体(101)之间设置有连接机构；
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述第一活动孔(206)的内壁开设有第一活动腔(207)，所述第一活动腔(207)的内壁滑动连接有第一限位环(208)，所述第一限位环(208)固定套接于定位杆(205)的外壁，所述第一弹簧(209)设置于第一限位环(208)远离插孔(105)的一侧，所述第一弹簧(209)套设于定位杆(205)的外壁。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述定位杆(205)的顶端开设有第三斜面(401)，所述插孔(105)的底端开设有圆弧面(402)。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的线缆连接加固结构，其特征在于，所述定位杆(205)的顶端开设有开槽(304)，所述开槽(304)的内壁开设有第二斜面(305)，所述第一活动孔(206)的内壁开设有第二活动孔(301)，所述第二活动孔(301)的内壁活动穿插连接有活...
【专利技术属性】
技术研发人员：史伟，钦礼辉，梁天宇，
申请(专利权)人：徐州领测半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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