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本实用新型公开了一种集成电路测试座，包括底座，底座的顶端开设有检测槽，检测槽的内部设置有顶出机构，顶出机构包括有顶出板、连接杆、压缩弹簧和定位件，检测槽内壁的底端开设有顶出槽，顶出板与顶出槽的内腔连接，顶出槽内壁的底端开设有两个连接槽，两个...
该专利属于徐州领测半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过徐州领测半导体科技有限公司授权不得商用。

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