【技术实现步骤摘要】
一种高散热的新型封装结构
[0001]本技术涉及半导体封装
,尤其涉及一种高散热的新型封装结构。
技术介绍
[0002]第三代半导体(SiC和GaN)又称宽禁带半导体,禁带宽度在2.2eV以上,具有高击穿电场、高饱和电子速度、高热导率、高电子密度、高迁移率等特点,逐步受到重视。由于SiC和GaN材料具有比Si基更好的热传导性能,在用作高功率功能应用时常常会采用设计散热良好和采用高导热的产品结构和工艺材料进行封装。目前使用较普遍的封装形式有QFN、TO252、TO220、T0247、PDFN等封装形式,其中QFN框架由于采用蚀刻加工,成本较高且无外伸的引脚散热,散热性稍差,TO系列产品由于受产品结构限制引脚数量有限(2
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5只),无法满足多引脚产品需求,PDFN封装的引脚数不少,市面上最多的有8个引脚,但是也无外伸的引脚散热,散热性稍差。鉴于以上所述,对于同时有成本、引脚数量及高散热要求的封装产品,现有的QFN、TO系列及PDFN封装结构都不能满足需求。
技术实现思路
[0003]本技术的目 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高散热的新型封装结构,其特征在于,包括第一芯片、第二芯片、第一基岛、第二基岛、第一引脚、多个第二引脚和塑封体,所述第一芯片的发热量大于第二芯片,所述第一基岛和第二基岛平行并列间隙布置,所述第一芯片设置在第一基岛上,所述第二芯片设置在第二基岛上,所述第一引脚设置在第一基岛的侧面,并且与第一基岛一体成型,所述第二引脚与第一芯片和第二芯片通过键合引线实现电连接,所述塑封体用于包裹第一芯片、第二芯片、第一基岛和第二基岛,以及第一引脚和第二引脚的内侧部分,所述第一引脚和第二引脚的外侧部分露出于塑封体外。2.根据权利要求1所述高散热的新型封装结构,其特征在于,所述第一芯片为GaN芯片、SiC芯片或Si基芯片。3.根据权利要求1所述高散热的新型封装结构,其特征在于,所述第一引脚的宽度大于等于第一基岛宽...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄乙为,饶锡林,易炳川,施保球,斯毅平,刘方标,李立,饶阳帆,曾庆果,
申请(专利权)人:气派科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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