【技术实现步骤摘要】
一种新型药槽
[0001]本技术涉及晶片清洗装置
,尤其涉及一种新型药槽。
技术介绍
[0002]由于集成电路内各元件及连线相当微细,因此制造过程中,如果遭到尘粒、金属的污染,很容易造成晶片内电路功能的损坏,形成短路或断路等,导致集成电路的失效以及影响几何特征的形成。因此在制作过程中除了要排除外界的污染源外,集成电路制造步骤如高温扩散、离子植入前等均需要进行湿法清洗或干法清洗工作。干、湿法清洗工作是在不破坏晶圆表面特性及电特性的前提下,有效地使用化学溶液或气体清除残留在晶圆上之微尘、金属离子及有机物之杂质。
[0003]现有以清洗湿法清洗晶片的装置结构简单,以传统药槽为主,传统药槽结构简单,整体为普通的药槽。工人使用传统药槽清洗晶片时,在取放晶片的过程中存在一定风险;清洗过程中破碎的晶片容易堵塞药槽出口以及排放管道;传统药槽还存在排放废清洗液不彻底的问题。
[0004]为此本技术提出一种新型药槽。
技术实现思路
[0005]本技术的目的是解决现有技术中存在的缺陷,而提出的一种新型药槽。 />[0006]为了本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种新型药槽,其特征在于,包括槽体,所述槽体下设有锥形漏斗,所述锥形漏斗与所述槽体连通;所述槽体内腔设有托架,所述托架可拆卸连接所述槽体,所述托架上设有若干第一漏孔,所述托架用于盛放晶片。2.根据权利要求1中所述的一种新型药槽,其特征在于,所述锥形漏斗与槽体连通处设有第二漏孔。3.根据权利要求1中所述的一种新型药槽,其特征在于,所述锥形漏斗下端与管道连接,锥形漏斗与管道连接处设有阀门。4.根据权利要求1中所述的一种新型药槽...
【专利技术属性】
技术研发人员:房强,刘宏伟,和骞,赵波,高伟,
申请(专利权)人:保定通美晶体制造有限责任公司,
类型:新型
国别省市:
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