【技术实现步骤摘要】
一种用于棒状物料的检测设备和检测方法
[0001]本专利技术涉及晶棒检测
,尤其是一种用于棒状物料的检测设备和检测方法。
技术介绍
[0002]在太阳能单晶硅片制造过程中,需要将单晶硅棒磨削切方,制成单晶方棒。单晶方棒在机械加工过程中,因为设备和工艺的限制,会导致每根单晶方棒在尺寸参数和几何公差上存在个性差异,从而出现产品不合格的问题。因此,在单晶方棒机械加工后会经过检测工序,对单晶方棒的尺寸参数和几何公差进行检测,以剔除不良品,保证产品合格率。
[0003]现有技术中,通过人工使用测量仪器对单晶方棒进行尺寸参数和几何公差的检测。人工检测方式存在测量结构不准确,测量误差大,精度低的问题,难以保证后续产品的质量;同时,人工检测的耗费的时间长,速度慢,导致生产效率低下。
技术实现思路
[0004]本申请人针对上述现有生产技术中的缺点,提供一种用于棒状物料的检测设备和检测方法,通过提供一种检测设备,能够对具有个性差异的工件的尺寸参数和几何公差实现自动化、大批量、高精度测量,从而有效提高检测精度,保证产品加工质量;同时,节省检测时间,提高生产效率。
[0005]本专利技术所采用的技术方案如下:
[0006]一种用于棒状物料的检测设备,包括平行间隔布置的两根立柱,两根立柱之间配合安装有输送机构,所述输送机构的底部固定电机,所述电机驱动输送机构运动,从而带动放置在输送机构顶部的工件沿第一水平方向作直线运动;两根立柱的顶部同时安装横梁,所述横梁的一个侧端面固定气缸,横梁的底部通过运动机 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于棒状物料的检测设备,其特征在于:包括平行间隔布置的两根立柱(1),两根立柱(1)之间配合安装有输送机构(2),所述输送机构(2)的底部固定电机(6),所述电机(6)驱动输送机构(2)运动,从而带动放置在输送机构(2)顶部的工件(8)沿第一水平方向作直线运动;两根立柱(1)的顶部同时安装横梁(11),所述横梁(11)的一个侧端面固定气缸(7),横梁(11)的底部通过运动机构(3)配合安装有多自由度机械臂(4),所述机械臂(4)的工作端配合安装有扫描仪(5),运动机构(3)与气缸(7)的输出端连接,气缸(7)驱动运动机构(3)带动机械臂(4)沿第二水平方向作直线运动;一根立柱(1)的顶部配合安装有控制柜(10),检测设备配置有用于处理扫描仪(5)扫描结果的工控机;检测时,电机(6)驱动输送机构(2)将工件(8)输送到位,同时气缸(7)驱动运动机构(3)将机械臂(4)移动到位,从而带动安装在机械臂(4)工作端的扫描仪(5)移动到位,具备多自由度的机械臂(4)带动扫描仪(5)在一定空间范围内移动,从而对工件(8)的表面尺寸参数和几何公差进行扫描。2.如权利要求1所述的一种用于棒状物料的检测设备,其特征在于:所述第一水平方向与第二水平方向互相垂直。3.如权利要求1所述的一种用于棒状物料的检测设备,其特征在于:所述输送机构(2)的结构为:包括输送框架(201),所述输送框架(201)的顶部转动安装有辊轮组(202),所述辊轮组(202)包括数根平行间隔布置的辊轮,单根辊轮的一个端头配合安装传动链轮(205),辊轮组(202)的顶部配合安装有用于放置工件(8)的输送底座(203);所述输送框架(201)的底部固定呈盒状的电机安装座(206),所述电机安装座(206)内配合安装有电机(6),所述电机(6)的输出端连接主动链轮,所述主动链轮与传动链轮(205)之间配合安装有同步链条,电机(6)驱动主动链轮旋转,主动链轮通过同步链条带动全部传动链轮(205)同时旋转,从而带动辊轮组(202)内的辊轮同时旋转;所述输送框架(201)的顶部配合安装有阻挡器(204)和标点架(207),阻挡器(204)限制输送底座(203)前进方向的位移,标点架(207)用于检测时布置标识。4.如权利要求1所述的一种用于棒状物料的检测设备,其特征在于:所述运动机构(3)的结构为:包括数根平行间隔布置的滑轨(301),所述滑轨(301)固定在横梁(11)的底部,单根滑轨(301)上配合安装有数个滑块(302),所述滑块(302)的底部配合安装有连接板(303),所述连接板(303)的顶部固定第一连接座(304),所述第一连接座(304)与固定在横梁(11)一侧的气缸(7)的输出端连接,连接板(303)的顶部还固定撞块(306),所述撞块(306)与安装在横梁(11)另一侧的限位机构(9)配合安装,连接板(303)的底部固定有用于安装机械臂(4)的第二连接座(305)。5.如权利要求4所述的一种用于棒状物料的检测设备,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄凯,武来军,高兴民,
申请(专利权)人:无锡多恩多自动化有限公司,
类型:发明
国别省市:
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