顶升机构和晶圆加工设备制造技术

技术编号:39142675 阅读:13 留言:0更新日期:2023-10-23 14:55
本发明专利技术的实施例提供了一种顶升机构和晶圆加工设备,涉及半导体技术领域。顶升机构包括伸缩驱动件、安装板、顶针和反应腔体。反应腔体具有用于加工晶圆的反应腔,反应腔的底壁设置有开孔。顶针可移动地设置于开孔。安装板与伸缩驱动件传动连接,且安装板位于顶针的底部。伸缩驱动件用于在处于伸长状态时,带动安装板上升与顶针抵接以推动顶针向上移动从而顶升晶圆托架。伸缩驱动件处还用于在缩短状态时,带动安装板下移以便顶针向下移动。可以避免顶针在伸缩驱动件震动时发生形变,及易于顶针的维护和更换。针的维护和更换。针的维护和更换。

【技术实现步骤摘要】
顶升机构和晶圆加工设备


[0001]本专利技术涉及半导体
,具体而言,涉及一种顶升机构和晶圆加工设备。

技术介绍

[0002]在晶圆固胶、除胶等制程中往往需要顶升晶圆托架,以让晶圆拓架唯一反应腔的中心或脱离加热盘。
[0003]然而,现有的用于顶升晶圆托架的顶升机构直接在液压缸的端部固定安装顶针实现对晶圆托架的顶升,然而这种方式会导致顶针发生形变,也不便于顶针的拆卸。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的包括,例如,提供了一种顶升机构和晶圆加工设备,其能够避免顶针发生形变,可提高定位精度,同时也便于更换和维护。
[0005]本专利技术的实施例可以这样实现:
[0006]第一方面,本专利技术提供一种顶升机构,用于顶升晶圆托架,所述顶升机构包括伸缩驱动件、安装板、顶针和反应腔体;
[0007]所述反应腔体具有用于加工晶圆的所述反应腔,所述反应腔的底壁设置有开孔;
[0008]所述顶针可移动地设置于所述开孔;
[0009]所述安装板与所述伸缩驱动件传动连接,且所述安装板位于所述顶针的底部;
[0010]所述伸缩驱动件用于在处于伸长状态时,带动所述安装板上升与所述顶针抵接以推动所述顶针向上移动从而顶升所述晶圆托架;
[0011]所述伸缩驱动件处还用于在缩短状态时,带动安装板下移以便所述顶针向下移动。
[0012]在可选的实施方式中,所述顶升机构还包括弹性件,所述弹性件套设于所述顶针,且所述弹性件一端与所述反应腔体的底壁抵接,另一端与所述顶针连接,所述弹性件可在所述伸缩驱动件处于缩短状态时驱动所述顶针向下移动。
[0013]在可选的实施方式中,所述弹性件为弹簧,所述顶针上设置有限位台,所述弹簧套设于所述顶针,且所述弹簧的一端与所述限位台抵接,另一端与所述反应腔体的底壁抵接。
[0014]在可选的实施方式中,所述顶升机构还包括加热盘,所述加热盘设置于所述反应腔内,用于承载晶圆托架,所述加热盘上设置有与所述开孔对应的贯穿孔,所述顶针可移动地穿设于所述贯穿孔;
[0015]在所述伸缩驱动件处于伸长状态时,所述安装板可与所述顶针抵接推动所述顶针向上移动,以使所述晶圆托架脱离所述加热盘。
[0016]在可选的实施方式中,所述顶升机构还包括检测组件,所述检测组件设置于所述安装板,且所述检测组件与所述检测组件的位置对应,所述检测组件用于检测所述顶针在所述伸缩驱动件处于缩短状态时是否在向下移动;
[0017]在可选的实施方式中,所述检测组件包括对射式光电开关,所述对射式光电开关
设置于所述安装板,所述顶针的端部可伸入所述对射式光电开关内,所述对射式光电开关用于检测所述顶针在所述驱动件处于缩短状态时端部是否伸入所述对射式光电开关内。
[0018]在可选的实施方式中,所述顶针的数量包括多个,所述对射式光电开关的数量包括多个;
[0019]所述反应腔的底壁设置有多个所述开孔,多个所述顶针一一对应地设置于所述开孔;
[0020]多个所述对射式光电开关分别与多个所述顶针一一对应地设置所述安装板。
[0021]在可选的实施方式中,所述检测组件还包括安装支架,所述安装支架安装于所述安装板,所述对射式光电开关安装于所述安装支架。
[0022]在可选的实施方式中,所述顶升机构还包括调节组件,所述调节组件可移动地设置于所述安装板,且所述调节组件与所述顶针抵接,所述调节组件的高度可调节。
[0023]第二方面,本专利技术提供一种晶圆加工设备,所述晶圆加工设备包括前述实施方式中任一项所述的顶升机构。
[0024]本专利技术实施例的提供的顶升机构和晶圆加工设备的有益效果包括:
[0025]本申请通过将顶针可移动地安装在反应腔体的安装孔内,且在伸缩驱动件上设置安装板,将安装板设置顶针的底部,从而通过安转板与顶针抵接的方式实现安装板推动顶针上移顶升晶圆托架,然而这种方式可以改善伸缩驱动件震动的传递,从而可以避免顶针在伸缩驱动件震动时发生形变,从而可以避免伸缩驱动件对顶升精度的影响。其次,这样设置也更易于顶针的维护和更换,也可以降低顶针的加工成本。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0027]图1为本专利技术实施例提供的顶升机构的结构示意图;
[0028]图2为本专利技术实施例提供的顶升机构的剖视结构示意图;
[0029]图3为本专利技术实施例提供的顶升机构的检测组件的结构示意图。
[0030]图标:100

顶升机构;110

伸缩驱动件;120

安装板;121

通孔;130

顶针;131

限位台;140

反应腔体;141

反应腔;143

开孔;150

弹性件;160

加热盘;161

贯穿孔;170

检测组件;171

对射式光电开关;173

安装支架;174

第一段;175

第二段;176

第三段;177

第四段;178

第五段;180

调节组件;181

螺栓;183

螺母。
具体实施方式
[0031]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0032]因此,以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护
的本专利技术的范围,而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0033]应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0034]在本专利技术的描述中,需要说明的是,若出现术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种顶升机构,用于顶升晶圆托架,其特征在于,所述顶升机构包括伸缩驱动件、安装板、顶针和反应腔体;所述反应腔体具有用于加工晶圆的所述反应腔,所述反应腔的底壁设置有开孔;所述顶针可移动地设置于所述开孔;所述安装板与所述伸缩驱动件传动连接,且所述安装板位于所述顶针的底部;所述伸缩驱动件用于在处于伸长状态时,带动所述安装板上升与所述顶针抵接以推动所述顶针向上移动从而顶升所述晶圆托架;所述伸缩驱动件处还用于在缩短状态时,带动安装板下移以便所述顶针向下移动。2.根据权利要求1所述的顶升机构,其特征在于,所述顶升机构还包括弹性件,所述弹性件套设于所述顶针,且所述弹性件一端与所述反应腔体的底壁抵接,另一端与所述顶针连接,所述弹性件可在所述伸缩驱动件处于缩短状态时驱动所述顶针向下移动。3.根据权利要求2所述的顶升机构,其特征在于,所述弹性件为弹簧,所述顶针上设置有限位台,所述弹簧套设于所述顶针,且所述弹簧的一端与所述限位台抵接,另一端与所述反应腔体的底壁抵接。4.根据权利要求1所述的顶升机构,其特征在于,所述顶升机构还包括加热盘,所述加热盘设置于所述反应腔内,用于承载晶圆托架,所述加热盘上设置有与所述开孔对应的贯穿孔,所述顶针可移动地穿设于所述贯穿孔;在所述伸缩驱动件处于伸长状态时,所述安装板可与所述顶针抵接推动所述顶针向上移动,以使所述晶圆托架脱离所述加热盘。5.根据权利要求1
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【专利技术属性】
技术研发人员:孙文彬戴立洪
申请(专利权)人:江苏邑文微电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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