【技术实现步骤摘要】
张力控制方法和装置
[0001]本申请涉及自动化
,特别是涉及一种张力控制方法和装置。
技术介绍
[0002]在真空卷绕工艺流程中,例如,磁控溅射卷绕镀膜将辉光放电过程激发出来的靶材料溅射到贴附在镜面辊而平整运行的薄膜表面,由此,对电气控制提出驱动大负载实现真空环境中薄膜平整。现有的张力控制方法,需要通过传感器实时采集收放卷的卷径大小,而在真空环境中,传感器等测量设备难以安装与正常使用,且由于感应器测量精度受限,易引入误差加剧薄膜的张力波动幅度。因此,从真空工艺环境的薄膜张力控制运用而引入可行的不依赖外部输入,系统自稳定的张力实时卷径计算方案,成为亟需解决的一个技术难题。
技术实现思路
[0003]基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种张力控制方法和装置。
[0004]第一方面,本申请提供了一种张力控制方法。所述方法包括:
[0005]一种张力控制方法,所述方法应用于卷绕装置,所述卷绕装置包括:放卷机构、中间辊和收卷机构,其中,由所述放卷机构释放的基材经过中间辊后,由所述收卷机构进行收卷,所述方法包括:
[0006]获取距离收放卷机构预设范围内的基材的第一张力;其中,所述收放卷机构包括所述放卷机构或所述收卷机构;
[0007]在所述第一张力超出目标第一区间的情况下,迭代调整所述收放卷机构的角速度,直到所述第一张力位于所述目标第一区间以内,得到初始角速度;
[0008]控制所述收放卷机构按照所述初始角速度转动,周期性获取距离所述收放卷机构预设范围内的基材的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种张力控制方法,其特征在于,所述方法应用于卷绕装置,所述卷绕装置包括:放卷机构、中间辊和收卷机构,其中,由所述放卷机构释放的基材经过中间辊后,由所述收卷机构进行收卷,所述方法包括:获取距离收放卷机构预设范围内的基材的第一张力;其中,所述收放卷机构包括所述放卷机构或所述收卷机构;在所述第一张力超出目标第一区间的情况下,迭代调整所述收放卷机构的角速度,直到所述第一张力位于所述目标第一区间以内,得到初始角速度;控制所述收放卷机构按照所述初始角速度转动,周期性获取距离所述收放卷机构预设范围内的基材的第二张力;在所述第二张力超出目标第二区间的情况下,迭代调整所述收放卷机构的角速度,直到所述第二张力位于所述目标第二区间以内;其中,所述目标第二区间小于所述目标第一区间。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取距离收放卷机构预设范围内的基材的第一张力,包括:控制收放卷机构以预设角速度转动,获取距离收放卷机构预设范围内的基材的第一张力;所述在所述第一张力超出目标第一区间的情况下,迭代调整所述收放卷机构的角速度,直到所述第一张力位于所述第一区间以内,得到初始角速度,包括:在所述第一张力超出第一区间的情况下,迭代调整所述收放卷机构的角速度,控制所述收放卷机构按照所述调整后的角速度转动,直到所述第一张力位于所述第一区间以内;缩小所述第一区间若干次数直至达到目标第一区间,每次缩小区间均调整所述收放卷机构的角速度,直到所述第一张力位于所述目标第一区间以内。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述周期性获取距离所述收放卷机构预设范围内的基材的第二张力,之前还包括:按照预设周期,周期性获取距离所述收放卷机构预设范围内的基材的第二张力,得到第一数据;调整所述预设周期若干次数,并按照每次调整后的周期,周期性获取距离所述收放卷机构预设范围内的基材的第二张力,得到多个第二数据;其中,每个第二数据与每次调整后的周期相对应;确定采样周期为所述第一数据和多所述第二数据中取标准差最小的数据对应的周期;按照所述采样周期,周期性获取距离所述收放卷机构预设范围内的基材的第二张力。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述周期性获取距离所述收放卷机构预设范围内的基材的第二张力,包括:周期性获取距离所述收放卷机构预设范围内的基材的多个第二张力;按照预设的数据清洗规则,对多个所述第二张力进行数据筛选,得到筛选后的多个第二张力;确定距离所述收放卷机构预设范围内的基材的第二张力为所述筛选后的第二张力的平均值。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述获取离收放卷机构最近的中间辊与
所述收放卷机构之间的基材的第一张力,之前还包括:获取所述卷绕装置预设基材段的张力;其中,所述预设基材段包括所述放卷机构与所述中间辊之间的基材、所述中间辊与所述收卷机构之间的基材;在所述张力超出所述预设基材段对应的预设范围的情况下,确定...
【专利技术属性】
技术研发人员:郝跃,张永祺,张永胜,
申请(专利权)人:苏州迈为科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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