一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法技术

本发明专利技术涉及芯片编带外观检测技术领域，具体地说，涉及一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法。其基于一种双流道的芯片编带外观缺陷检测设备实现，其特征在于：两条流道交替上的芯片编带交替进行检测，两条流道采用同一可沿交替检测方向移动的多站式检测系统进行检测。可以理解地，相对于单流道式的检测方法，双流道式的检测过程中，可移动的多站式视检系统能够通过来回移动不间断地交替对两条流道进行检测，中途间隔空档较少；从而能够较佳地提高检测效率。检测效率。检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法


[0001]本专利技术涉及芯片编带外观检测
，具体地说，涉及一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法。

技术介绍

[0002]芯片编带也即装载有芯片的编带结构；芯片编带的上表面处开设有多个用于装载芯片的装配槽以及用于与针轮或压齿卡合的孔；芯片编带的下部作为载带。
[0003]现有的半导体行业中，芯片编带作为一种常用的芯片包装方法被广泛应用；但是由于在包装过程中可能芯片以及芯片编带出现异物崩边以及划痕等外观缺陷；故而需要对于芯片以及芯片编带进行外观检测。
[0004]传统的检测方法多为人工肉眼检测或者大体积的多工位检测方法；这样的检测方法一方面检测效率较低；另一方面，人力成本以及装置布置成本较高且对于场地布置要求较为繁琐。此外，现有的检测设备中缺乏合理的光源布置，同时难以对于芯片编带上可能存在外观缺陷的正反两面形成覆盖；从而导致现有检测方法的外观缺陷的检出率较差；并且，由于不同厂家的芯片编带宽度存在差异，故而传统的检测方法难以较佳地通用于不同宽度的芯片编带检测。
[0005]故而，现有技术中缺乏一种结构紧凑、光源布置合理、覆盖芯片编带正反两面、检测效率较高、通用性较佳且操作较方便的针对芯片编带外观缺陷的检测设备及方法。
[0006]进一步地，现有技术的检测设备当中，相机以及光源在采集完图像后，大多需要等待下一批芯片上料并运输至检测位置，故而这样会导致相机以及光源在工作过程中存在较长的空档期，从而导致检测过程的效率难以更好的提高。
专利技术内容
[0007]针对现有技术中存在的技术问题，本专利技术提供了一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法，其基于一种双流道的芯片编带外观缺陷检测设备实现，其特征在于：两条流道交替上的芯片编带交替进行检测，两条流道采用同一可沿交替检测方向移动的多站式检测系统进行检测，每条输送流道所采用的检测步骤具体如下，
[0008]步骤一、一次上料
[0009]将待检测的芯片编带收卷于检测设备一侧的料盘处并从料盘内将芯片编带抽出牵拉至输送流道并保持正面朝上；
[0010]步骤二、正面检测
[0011]通过动力驱动芯片编带沿输送流道移动并进入检测区域后中断动力停止运送，然后多站式视检系统对于芯片编带的正面进行外观视觉采图并将图像传输至算法处理；
[0012]步骤三、一次收料
[0013]针对正面检测结果，检测结果提示不良品时人工进行判定处理后恢复动力，检测结果未提示不良品时，无需人工处理直接恢复动力；然后动力驱动芯片编带沿输送流道移
动，并将正面检测结束的芯片编带收卷在检测设备另一侧的料盘处固定绕紧；
[0014]步骤四、二次上料
[0015]从步骤三中收卷的料盘处将芯片编带抽出至输送流道内并保持反面朝上；
[0016]步骤五、反面检测
[0017]通过动力驱动芯片编带沿输送流道移动并进入检测区域后中断动力停止运送，然后多站式视检系统对于芯片编带的反面进行外观视觉采图并将图像传输至算法处理；
[0018]步骤六、二次收料
[0019]针对正面检测结果，检测结果提示不良品时人工进行判定处理后恢复动力，检测结果未提示不良品时，无需人工处理直接恢复动力；然后动力驱动芯片编带沿输送流道移动，并将正面检测结束的芯片编带收卷在步骤一中进行一次上料的料盘处；
[0020]步骤七、下料
[0021]将料盘及料盘内正反面检测完成的芯片编带卸下。
[0022]可以理解地，相对于单流道式的检测方法，双流道式的检测过程中，可移动的多站式视检系统能够通过来回移动不间断地交替对两条流道进行检测，中途间隔空档较少；从而能够较佳地提高检测效率。
[0023]此外，具体说明地，芯片编带作为IC芯片包装的一种常用方式，由于在包装过程中可能会导致或者是编带本身就存在着异物，崩边，划痕等问题，此外，在包装过程中还可能会导致或者是芯片本身就存在着芯片字符漏印、芯片处存在异物崩边和划痕等问题。编带以及芯片的这些问题通过单面检测是无法完整地进行覆盖，故而，本专利技术中的检测方法每条输送流道均能依次完成正反两面的检测以对于芯片以及编带中可能出现的问题实现较全面的覆盖。
[0024]并且，本专利技术中通过两个料盘配合一个输送流道共同构成一个编带移动轨路，一方面，两个料盘结构相同，生产和布置上比较方便但能够较佳地满足检测需要；另一方面，两个料盘均可以作为上料段或者是收料段，并且输送流道的输送方向为双向通行；从而使得整个检测过程的操作更为灵活，进而使得检测人员能够通过较为简单的操作便能够实现正反两面的双面检测以较大程度地将芯片编带可能存在的外观缺陷进行检测覆盖。
[0025]进一步地，为了便于检测过程中的灵活操作，料盘的收卷和拆卸也需要具有较佳的灵活性以确保整个检测过程的方便稳定进行，本检测设备中的料盘也采用特定的料盘以实现灵活操作。
[0026]此外，正反面检测能够较佳地为外观缺陷检测进行覆盖，但是如何选配最为合适的相机及光源以实现最好的检测效果从而确保不良品检出率仍是现有技术中亟待解决的问题；本专利技术中的检测方法通过多站式视检系统对检测区域处的芯片编带进行视觉图像采集；其中多站式视检系统采用特定的光源布置方法以配合相机进行图像采集；从而能够实现较佳的图像采集效果。
[0027]作为优选，双流道的芯片编带外观缺陷检测设备包括设备主体；设备主体处设有平行布置的两条用于输送芯片编带的输送流道；设备主体处还布置有用于对两条输送流道处的芯片编带交替进行外观采图以识别检测的多站式视检系统；多站式视检系统沿交替检测方向可移动地布置于设备主体处。
[0028]作为优选，两条输送流道均包括流道主体；流道主体包括沿编带运送方向平行布
置的固定轨道组件和调整轨道组件；固定轨道组件和调整轨道组件的上端面及两者之间的区域共同构成芯片编带运送的输送通路；两条输送流道均相对于设备主体的中部呈对称结构；远多站式视检系统的输送流道的长度相较于另一条输送流道长度较短。
[0029]具体说明地，通过将两条输送流道的布置长度不同，一方面能够便于操作人员将两条输送流道以进行直观上的区分；另一方面也能够更好地便于后续的电机布置并起到让位作用。
[0030]作为优选，固定轨道组件包括通过支撑块悬空固定于设备主体处的固定导向杆；调整轨道组件包括通过调整滑动座悬空活动设置于设备主体处的调整导向杆；调整滑动座为两个并分别对称布置于调整导向杆长度方向上的两侧；调整滑动座滑动布置于调整滑动导轨处；调整滑动导轨的布置方向与编带运送方向相正交并与交替检测方向相一致；固定导向杆以及调整导向杆的下侧布置有调整丝杆模组；调整丝杆模组中设置有两个滑动座；两个滑动座分别与两条输送流道中的调整导向杆下部相连接以携带调整导向杆移动。
[0031]具体地，不同的厂家使用的芯片编带的宽度不一，本专利技术中固定导向杆和调整导向杆之间的间距也即输送流道的宽度能够通过调整丝杆模组并配合调整滑动导轨以进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法，其基于一种双流道的芯片编带外观缺陷检测设备实现，其特征在于：两条流道交替上的芯片编带交替进行检测，两条流道采用同一可沿交替检测方向移动的多站式检测系统进行检测，每条输送流道所采用的检测步骤具体如下，步骤一、一次上料将待检测的芯片编带收卷于检测设备一侧的料盘处并从料盘内将芯片编带抽出牵拉至输送流道并保持正面朝上；步骤二、正面检测通过动力驱动芯片编带沿输送流道移动并进入检测区域后中断动力停止运送，然后多站式视检系统对于芯片编带的正面进行外观视觉采图并将图像传输至算法处理；步骤三、一次收料针对正面检测结果，检测结果提示不良品时人工进行判定处理后恢复动力，检测结果未提示不良品时，无需人工处理直接恢复动力；然后动力驱动芯片编带沿输送流道移动，并将正面检测结束的芯片编带收卷在检测设备另一侧的料盘处固定绕紧；步骤四、二次上料从步骤三中收卷的料盘处将芯片编带抽出至输送流道内并保持反面朝上；步骤五、反面检测通过动力驱动芯片编带沿输送流道移动并进入检测区域后中断动力停止运送，然后多站式视检系统对于芯片编带的反面进行外观视觉采图并将图像传输至算法处理；步骤六、二次收料针对正面检测结果，检测结果提示不良品时人工进行判定处理后恢复动力，检测结果未提示不良品时，无需人工处理直接恢复动力；然后动力驱动芯片编带沿输送流道移动，并将正面检测结束的芯片编带收卷在步骤一中进行一次上料的料盘处；步骤七、下料将料盘及料盘内正反面检测完成的芯片编带卸下。2.根据权利要求1所述的一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法，其特征在于：双流道的芯片编带外观缺陷检测设备包括设备主体(100)；设备主体(100)处设有平行布置的两条用于输送芯片编带的输送流道；设备主体(100)处还布置有用于对两条输送流道处的芯片编带交替进行外观采图以识别检测的多站式视检系统；多站式视检系统沿交替检测方向可移动地布置于设备主体(100)处。3.根据权利要求2所述的一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法，其特征在于：两条输送流道均包括流道主体(110)；流道主体(110)包括沿编带运送方向平行布置的固定轨道组件和调整轨道组件；固定轨道组件和调整轨道组件的上端面及两者之间的区域共同构成芯片编带运送的输送通路；两条输送流道均相对于设备主体(100)的中部呈对称结构；远多站式视检系统的输送流道的长度相较于另一条输送流道长度较短。4.根据权利要求3所述的一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法，其特征在于：固定轨道组件包括通过支撑块(210)悬空固定于设备主体(100)处的固定导向杆(111)；调整轨道组件包括通过调整滑动座(220)悬空活动设置于设备主体(100)处的调整导向杆(112)；调整滑动座(220)为两个并分别对称布置于调整导向杆(112)长度方向上的两侧；调整滑动
座(220)滑动布置于调整滑动导轨(230)处；调整滑动导轨(230)的布置方向与编带运送方向相正交并与交替检测方向相一致；固定导向杆(111)以及调整导向杆(112)的下侧布置有调整丝杆模组(310)；调整丝杆模组(310)中设置有两个滑动座；两个滑动座分别与两条输送流道中的调整导向杆(112)下部相连接以携带调整导向杆(112)移动。5.根据权利要求4所述的一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法，其特征在于：设备主体(100)处位于两条输送流道沿编带运送方向上的两侧位置分别设有用于收卷芯片编带的料盘；两条输送流道所对应的料盘布置高度一上一下以形成交错；料盘通过固定臂(240)安装于设备主体(100)的两侧；料盘包括料盘主体(250)；料盘主体(250)包括平行间隔布置的两个环形盘体(251)；两个环形盘体(251)之间通过与环形盘体(251)同轴的料盘中心轴(252)相连接；料盘中心轴(252)的环形外壁与芯片编带相接触配合以用于收卷；两侧的环形盘体(251)对收卷于料盘中心轴(252)处的芯片编带形成轴向上的限位；固定臂(240)远料盘主体(250)的一侧设有马达座(410)；马达座(410)处设有料盘驱动电机(420)，料盘驱动电机(420)的输出端通过联轴器(430)连接有料盘快换轴(440)；料盘中心轴(252)可拆卸地安装于料盘快换轴(440)处；料盘中心轴(252)的中部沿轴向形成有用于与料盘快换轴(440)过盈配合的配合通孔；配合通孔远马达座(410)的一侧的周向侧壁具有弹性；该侧的周向侧壁环形分布有多个弧形空置槽(253)；料盘快换轴(440)的周向外壁处形成有沿其轴面方向的深度空置槽。6.根据权利要求5所述的一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法，其特征在于：料盘与输送流道之间自料盘至输送流道依次布置有第一过渡组件(130)和第二过渡组件(140)；第一过渡组件(130)包括竖直布置的第一安装竖板(131)；第一安装竖板(131)的上部自上而下分别设置有第一压轮(132)和第一针轮(133)；第一压轮(132)和第一针轮(133)之间形成用于芯片编带通过的第一过渡通路；第一压轮(132)的下部外壁用于与芯片编带的上表面相配合以形成压抵；第一针轮(133)的上部与芯片编带的下表面相配合并卡合于芯片编带上的孔内以带动芯片编带移动；第一安装竖板(131)远第一针轮(133)的一侧侧壁处布置有第一驱动电机；第一步进电机(134)的输出端通过连接轴与针轮的轴部相定位连接；第一压轮(132)通过与其同轴第一固定杆布置于第一安装竖板(131)的上部；第一压轮(132)与第一固定杆之间活动连接，第一压轮(132)相对于第一固定杆绕两者共同轴线转动；第二过渡组件(140)包括竖直布置的第二安装竖板(141)；第二安装竖板(141)的上部处设有第二压轮(142)；第二压轮(142)位于固定导向杆(111)的上侧；固定导向杆(111)位于第二压轮(142)正下方的位置处形成有环形配合槽；第二压轮(142)和环形配合槽之间的区域形成用于芯片编带通过的第二过渡通路；第二压...

【专利技术属性】
技术研发人员：王孟哲，熊柏泰，梁正南，赖勉力，李恩全，
申请(专利权)人：宁波九纵智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：