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本发明涉及芯片编带外观检测技术领域，具体地说，涉及一种双流道式芯片编带外观缺陷检测方法。其基于一种双流道的芯片编带外观缺陷检测设备实现，其特征在于：两条流道交替上的芯片编带交替进行检测，两条流道采用同一可沿交替检测方向移动的多站式检测系统进...
该专利属于宁波九纵智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁波九纵智能科技有限公司授权不得商用。

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