一种测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种测试装置，涉及光芯片生产技术领域；而本实用新型专利技术包括操作台、温度控制器和数据显示器，所述温度控制器位于操作台上方，所述数据显示器位于操作台上方，所述操作台外侧面固定设有加热板，所述加热板远离操作台的一侧呈路径阵列分布的承载台，所述承载台内开设有卡槽，所述操作台靠近加热板的一侧开设有T型滑道，所述T型滑道内滑动设有T型滑块；本实用新型专利技术中通过设置了若干个承载台和加热板，可以对光芯片进行加热检测，可以通过温度控制器控制温度，通过数据显示器进行实时监控，本实用新型专利技术中通过设置了负极针和探针可以对芯片进行通电检测，然后通过数据显示器进行电流进行测试。进行电流进行测试。进行电流进行测试。

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置


[0001]本技术涉及光芯片生产
，具体为一种测试装置。

技术介绍

[0002]光子芯片采用光波（电磁波）来作为信息传输或数据运算的载体，一般依托于集成光学或硅基光电子学中介质光波导来传输导模光信号，将光信号和电信号的调制、传输、解调等集成在同一块衬底或芯片上，现有数据显示器可以实时对芯片进行数据监控，现有技术一般都是单个进行检测，效率比较低，针对上述问题，专利技术人提出一种测试装置用于解决上述问题。

技术实现思路

[0003]为了解决检测效率低的问题；本技术的目的在于提供一种测试装置。
[0004]为解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：一种测试装置，包括操作台1、温度控制器和数据显示器，所述温度控制器位于操作台上方，温度控制器用于对温度进行控制，方便调节到合适的温度，所述数据显示器位于操作台上方，数据显示器可以对芯片的温度情况数据进行检测，方便检测出不合格的光芯片，所述操作台外侧面固定设有加热板，加热板余温度控制器连接，用于对光芯片进行加热，所述加热板远离操作台的一侧呈路径阵列分布的承载台，承载台用于放置光芯片，所述承载台内开设有卡槽，用于卡设光芯片，所述操作台靠近加热板的一侧开设有T型滑道，所述T型滑道内滑动设有T型滑块，T型滑道和T型滑块配合，可以对滑动板滑动，所述T型滑块外侧固定设有滑动板，所述滑动板远离T型滑块的一侧固定设有显微镜，滑动板移动可以带动显微镜移动，方便对显微镜进行移动操作。
[0005]优选地，所述操作台外侧面固定设有呈路径阵列分布的一号立杆，所述一号立杆转动绞合设有转动杆，所述转动杆外侧面固定设有探针，所述卡槽内固定设有负极针，将光芯片分别插卡设在卡槽内，负极针与光芯片连接，然后转动连接杆，连接杆转动带动转动杆，转动杆转动带动探针和一号固定块转动，探针转动插设在光芯片上，探针与外部正极连接，用于对芯片进行电流测试。
[0006]优选地，所述操作台外侧面固定设有呈路径阵列分布的二号立杆，所述二号立杆外侧固定设有呈对称分布的二号固定块，所述二号固定块远离二号立杆的一端固定设有弹性块，所述弹性块远离二号固定块的一端固定设有卡扣，一号固定块转动带动卡块转动，卡块转动然后插设在两个卡扣内部，从而可以对转动杆进行固定的目的。
[0007]优选地，所述转动杆靠近操作台的一侧固定设有一号固定块，所述一号固定块靠近操作台的一侧固定设有卡块，所述卡块活动卡设在卡扣内，所述转动杆外侧固定连接设有连接杆，所述操作台远离加热板的一侧固定设有呈矩形阵列分布的支撑腿，一号固定块用于对卡块进行固定，卡块可卡设在卡扣内，可以对转动杆进行固定防止活动，连接杆用于对若干个连接杆进行连接，方便对多个转动杆进行转动。
[0008]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
[0009]1、本技术中通过设置了若干个承载台和加热板，可以对光芯片进行加热检测，可以通过温度控制器控制温度，通过数据显示器进行实时监控；
[0010]2、本技术中通过设置了负极针和探针可以对芯片进行通电检测，然后通过数据显示器进行电流进行测试。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1为本技术结构示意图。
[0013]图2为本技术结构图1中A的放大示意图。
[0014]图3为本技术结构图1中B的放大示意图。
[0015]图4为本技术结构另一种示意图。
[0016]图5为本技术结构图4中C的放大示意图。
[0017]图中：1、操作台；11、加热板；12、温度控制器；13、数据显示器；14、支撑腿；15、T型滑道；16、T型滑块；17、滑动板；18、显微镜；2、承载台；21、卡槽；22、负极针；3、一号立杆；31、转动杆；32、探针；33、一号固定块；34、卡块；35、二号立杆；36、二号固定块；37、弹性块；38、卡扣；39、连接杆。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]实施例一：如图1
‑
5所示，本技术提供了一种测试装置，包括操作台1、温度控制器12和数据显示器13，温度控制器12位于操作台1上方，温度控制器12用于对温度进行控制，方便调节到合适的温度，数据显示器13位于操作台1上方，数据显示器13可以对芯片的温度情况数据进行检测，方便检测出不合格的光芯片，操作台1外侧面固定设有加热板11，加热板11与温度控制器12连接，用于对光芯片进行加热，加热板11远离操作台1的一侧呈路径阵列分布的承载台2，承载台2用于放置光芯片，承载台2内开设有卡槽21，用于卡设光芯片，操作台1靠近加热板11的一侧开设有T型滑道15，T型滑道15内滑动设有T型滑块16，T型滑道15和T型滑块16配合，可以对滑动板17滑动，T型滑块16外侧固定设有滑动板17，滑动板17远离T型滑块16的一侧固定设有显微镜18，滑动板17移动可以带动显微镜18移动，方便对显微镜18进行移动操作。
[0020]操作台1外侧面固定设有呈路径阵列分布的二号立杆35，二号立杆35外侧固定设有呈对称分布的二号固定块36，二号固定块36远离二号立杆35的一端固定设有弹性块37，弹性块37远离二号固定块36的一端固定设有卡扣38。
[0021]通过采用上述技术方案，一号固定块33转动带动卡块34转动，卡块34转动然后插设在两个卡扣38内部，从而可以对转动杆31进行固定的目的。
[0022]转动杆31靠近操作台1的一侧固定设有一号固定块33，一号固定块33靠近操作台1的一侧固定设有卡块34，卡块34活动卡设在卡扣38内，转动杆31外侧固定连接设有连接杆39，操作台1远离加热板11的一侧固定设有呈矩形阵列分布的支撑腿14。
[0023]通过采用上述技术方案，一号固定块33用于对卡块34进行固定，卡块34可卡设在38卡扣内，可以对转动杆31进行固定防止活动，连接杆39用于对若干个连接杆39进行连接，方便对多个转动杆31进行转动。
[0024]实施例二：如图3所示，操作台1外侧面固定设有呈路径阵列分布的一号立杆3，一号立杆3转动绞合设有转动杆31，转动杆31外侧面固定设有探针32，卡槽21内固定设有负极针22，将光芯片分别插卡设在卡槽21内，负极针22与光芯片连接，然后转动连接杆39，连接杆39转动带动转动杆31，转动杆31转动带动探针32本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，包括操作台(1)、温度控制器(12)和数据显示器(13)，其特征在于：所述温度控制器(12)位于操作台(1)上方，所述数据显示器(13)位于操作台(1)上方，所述操作台(1)外侧面固定设有加热板(11)，所述加热板(11)远离操作台(1)的一侧呈路径阵列分布的承载台(2)，所述承载台(2)内开设有卡槽(21)，所述操作台(1)靠近加热板(11)的一侧开设有T型滑道(15)，所述T型滑道(15)内滑动设有T型滑块(16)，所述T型滑块(16)外侧固定设有滑动板(17)，所述滑动板(17)远离T型滑块(16)的一侧固定设有显微镜(18)。2.如权利要求1所述的一种测试装置，其特征在于，所述操作台(1)外侧面固定设有呈路径阵列分布的一号立杆(3)，所述一号立杆(3)转动绞合设有转动杆(31)，所述转动杆(31)外侧面固定设有探针(32)，所述卡槽(21)内固定设有负极针(22)。3.如权利要求1所述的一种测试装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁俊超，吴晓萍，蒋延标，
申请(专利权)人：江苏永鼎光电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：