一种液晶显示器基板测试装置及其测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种液晶显示器基板测试装置，涉及一种在液晶显示器制造过程中，在玻璃基板上制作导电图案后，对其进行检测的测试装置；包括电源、报警器、开关，和由导电材质制成的第一探针和第二探针，第一探针和第二探针之间串联接入电源，报警器和开关；在第一探针和第二探针之间设置一个探针间隙调解单元。进行测试时先通过探针间隙调解单元将第一探针和第二探针之间的间距调整到与待测液晶显示器基板上的电极之间的间距一致；再打开开关，使其处于导通状态，沿着所述电极的法线方向移动液晶显示器基板测试装置；当报警器产生报警时，则相邻电极间存在短路缺陷。本发明专利技术具有效率和可靠性较高，和成本低的特点，并且使用方便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于测试高密度导电图案的测试装置及测试方法，尤其涉 及一种在液晶显示器制造过程中，在玻璃基板上制作导电图案后，对其进行检 测的测试装置及测试方法。
技术介绍
目前，市场上的液晶显示器(LCD)面板按工作原理进行分类一般可分为 扭曲向列型(TN-Twisted Nematic)，超扭曲向列型(STN-Super TN)和薄膜晶 体管型(TFT-ThinFilm Transistor)。其中，扭曲向列型和超扭曲向列型被称为被 动型显示面板，薄膜晶体管型被称为主动型显示面板。被动型液晶显示器件的一般制造方法如下先在两片导电玻璃基板上制作 特定的导电图形；然后，在导电图形上分别制作定向层，并将两片导电玻璃按 特定的方向贴合；最后，在两定向层之间注入液晶，并在玻璃基板两侧贴附偏 光板。其中，在导电玻璃上制作导电图形属于高精细度的导电电极制作，过程控 制较为复杂，容易出现少量缺陷，如电极间断路或短路。尤其是分辨率较高的 点阵型超扭曲向列液晶显示器，其电极宽度较细，电极间距较密，在电极图案 制作中更容易出现电极缺陷，如未及时捡出，必然造成成品的显示缺陷，同时 也不利于电极图案制作工艺的控制。LCD行业之前较通用的检査方法是在电极图案制作完成后，抽取部分基板 直接在高倍显微镜下检查导电线路是否有短路或断路，或配合使用万用表直接 测量相邻电极间的电阻来判断是否存在短路现象。这种方法生产效率低下，漏 检率高，仅在部分简单图案、电极宽度较大(50微米以上)的产品检测中适用。针对布线较密的高分辨率点阵型液晶显示器基板的测试，目前使用较多的 是通过飞针测试仪进行检测。飞针式测试仪采用接触式探针在被测试基板上高 速移动，测试探针通过多路传输系统连接到驱动器，如信号发生器和电源供应 系统等，和传感器，如数字万用表和频率计数器等，当有电极线路缺陷时，会 反馈缺陷类型及位置。这种飞针测试仪的优点是测试速度快和可靠性较高，缺 点是接触式探针对被测电极线路有破坏作用，且设备成本高， 一般都需要数十 万元，而且探针的消耗比较快。近年来又开发出通过图像对比来检测电极图形缺陷的设备，由于其高成本 的投入(一般高达数百万元)，被主要应用于集成电路及半导体电极图案的检测， 在被动型液晶显示行业应用极少。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有检测装置存在的生产效率低下和漏检率高，或 者设备成本高的缺陷，提供一种效率和可靠性较高、且成本低的检测装置，以 及使用该装置进行测试的方法。本专利技术所采用的技术方案为 一种液晶显示器基板测试装置，包括电源、 报警器、开关，和一组导电材质制成的探针；其中，所述一组探针包括第一探5针和第二探针，所述第一探针和第二探针之间串联接入电源，报警器和开关，第一探针和第二探针彼此未导通；在第一探针和第二探针之间设置一个探针间 隙调解单元。优选的是，包括一个外壳，外壳的前端设置有两个探针孔，外壳上设置有 开关按钮安装孔；所述电源和报警器均安装在外壳内，第一探针和第二探针的 一端分别通过所述探针孔伸出外壳外；所述开关的开关本体位于外壳内，控制 开关闭合和断开的开关按钮安装在所述的开关按钮安装孔上；探针间隙调解单 元的调解部设置在外壳外。优选的是，所述的探针间隙调解单元包括一层绝缘介质和一个可收放的绝 缘线圈，所述绝缘介质固接在第一探针和第二探针之间，并固接于第一探针和 第二探针的上段；在第一探针和第二探针的未设置绝缘介质的下段缠绕所述的 绝缘线圈。优选的是，包括一个外壳，外壳的前端设置有两个探针孔，外壳上设置有 开关按钮安装孔；所述电源和报警器均安装在外壳内，第一探针和第二探针的 固接有绝缘介质的上端位于所述外壳内，下段分别通过两个探针孔伸出外壳外， 所述绝缘线圈位于外壳外；所述开关的开关本体位于外壳内，控制开关闭合和 断开的开关按钮安装在所述的开关按钮安装孔上。优选的是，所述第一探针和第二探针之间依次串接报警器、电源和开关。优选的是，所述报警器具有报警指示灯，所述外壳上设置有指示灯孔，所 述报警指示灯通过指示灯孔外露。优选的是，所述第一探针和第二探针的材料硬度低于液晶显示器基板上的6导电电极的材质的硬度。一种液晶显示器基板测试装置，包括电源、报警器，开关和一组导电材质 制成的探针；其中，所述一组探针包括第一探针和第二探针，所述第一探针和 第二探针之间串联接入电源，报警器和开关，第一探针和第二探针彼此未导通；在第一探针和第二探针之间设置一个探针间隙调解单元。使用该测试装置进行测试的步骤如下(1 )通过探针间隙调解单元将第一探针和第二探针之间的间距调整到与待 测液晶显示器基板上的电极之间的间距一致；(2)打开开关按钮，使开关处于导通状态，沿着所述电极的法线方向移动 液晶显示器基板测试装置；当报警器产生报警时，则相邻电极间存在短路缺陷。 一种液晶显示器基板测试装置，包括电源、报警器，开关和一组导电材质 制成的探针；其中，所述一组探针包括第一探针和第二探针，所述第一探针和 第二探针之间串联接入电源，报警器和开关，第一探针和第二探针彼此未导通； 在第一探针和第二探针之间设置一个探针间隙调解单元。所述的探针间隙调解 单元包括一层绝缘介质和一个可收放的绝缘线圈，所述绝缘介质固接在第一探 针和第二探针之间，并固接于第一探针和第二探针的上段；在第一探针和第二 探针的未设置绝缘介质的下段缠绕所述的绝缘线圈。使用该测试装置进行测试 的步骤如下(1 )通过收縮或者放松绝缘线圈将第一探针和第二探针之间的间距调整到 与待测液晶显示器基板上的电极之间的间距一致；(2)打开开关，使其处于导通状态，沿着所述电极的法线方向移动液晶显示器基板测试装置；当报警器产生报警时，则相邻电极间存在短路缺陷。本专利技术的有益效果为本专利技术所述的液晶显示器基板测试装置具有结构简 单和成本低的特点，并且可以进行较快速的和准确的检测。附图说明图1为本专利技术所述液晶显示器基板测试装置的电路连接关系示意图2为使用本专利技术所述液晶显示器基板测试装置进行测试时未出现报警时的电路连接关系示意图3为使用本专利技术所述的液晶显示器基板测试装置进行测试时出现报警时的电路连接关系示意图4为在第一探针和第二探针上设置探针间隙调解单元的连接关系示意图； 图5为显示本专利技术所述液晶显示器基板测试装置的测试方法的示意图； 图6为本专利技术液晶显示器基板测试装置的外观结构示意图。具体实施例方式现结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细的说明。一种液晶显示器基板测试装置，包括电源40、报警器20、开关30，和一组 导电材质制成的探针。其中， 一组探针包括第一探针11和第二探针12。如图l 所示，第一探针11和第二探针12之间串联接入电源40，报警器20和开关30， 如可以在第一探针11和第二探针12之间依次串接报警器20、电源40和开关 30,并且保证第一探针11和第二探针12之间彼此未导通。所应用的报警器20 可以是声或光报警系统，也可以是声光报警系统，如此，可以有效提示检测结果。所应用的一组探针优选使用低硬度导电材料，即使其低于液晶显示器基板 上的导电电极的材质的硬度，如此，探针不会对导电电极产生破坏作用。所述 的电源40可以使用能够驱动报警器的电池。因为LCD面板上电极之间的间距很小，所以探针的间距调本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示器基板测试装置，其特征在于：包括电源、报警器、开关，和一组导电材质制成的探针；其中，所述一组探针包括第一探针和第二探针，所述第一探针和第二探针之间串联接入电源，报警器和开关，第一探针和第二探针彼此未导通；在第一探针和第二探针之间设置一个探针间隙调解单元。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：宋宇红，杨顺林，邓建平，周宗文，
申请(专利权)人：深圳市宇顺电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]