EMMC芯片测试方法及其装置、计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种EMMC芯片测试方法，包括：主控模块通过传输模块将系统镜像文件发送至测试模块；测试模块通过传输模块下载系统镜像文件；测试模块运行系统镜像文件，并启动测试线程和收发线程；测试模块通过测试线程对插接于测试模块的EMMC芯片进行测试以生成测试结果；以及测试模块通过收发线程将测试结果发送至主控模块。本发明专利技术公开的EMMC芯片测试方法能够解决嵌入式设备的兼容性测试的问题。此外，本发明专利技术还公开一种EMMC芯片测试装置以及计算机可读存储介质。机可读存储介质。机可读存储介质。

【技术实现步骤摘要】
EMMC芯片测试方法及其装置、计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及电子产品测试
，特别涉及一种EMMC芯片测试方法及其装置、计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]EMMC(Embedded Multi Media Card)做为嵌入式市场上存储设备的主流，以低功耗、高速读写、数据安全、系统稳定等特性，广泛应用在手机、平板、汽车等工业领域。
[0003]EMMC测试装置能够在EMMC生产过程的验证阶段排除EMMC研发的不可控因素。市面上很多半导体制造商都研发有全自动EMMC ATE设备，用于对EMMC的电信号、协议等进行测试。由于EMMC产品在实际的平台(ARM)上运行会存在不稳定的现象，因此，EMMC需要经过兼容性测试后才能确保产品质量，然而，现有的测试装置并未考虑到嵌入式设备的兼容性测试。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的是提出一种EMMC芯片测试方法及其装置、计算机可读存储介质，旨在解决嵌入式设备的兼容性测试的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提出一种EMMC芯片测试方法，所述EMMC芯片测试方法包括：
[0006]主控模块通过传输模块将系统镜像文件发送至测试模块；
[0007]所述测试模块通过所述传输模块下载所述系统镜像文件；
[0008]所述测试模块运行所述系统镜像文件，并启动测试线程和收发线程；
[0009]所述测试模块通过所述测试线程对插接于所述测试模块的EMMC芯片进行测试以生成测试结果；以及
[0010]所述测试模块通过所述收发线程将所述测试结果发送至所述主控模块。
[0011]优选地，所述系统镜像文件包括系统文件和测试程序，所述测试模块运行所述系统镜像文件包括：
[0012]所述测试模块初始化所述系统文件；以及
[0013]所述测试模块运行所述测试程序，以对所述EMMC芯片进行测试。
[0014]优选地，所述测试模块通过所述传输模块下载所述系统镜像文件之后，所述EMMC芯片测试方法还包括：
[0015]所述测试模块记录所述系统镜像文件的下载次数；
[0016]所述测试模块判断所述系统镜像文件是否下载完成；
[0017]当所述系统镜像文件下载失败时，所述测试模块判断所述下载次数是否小于预设次数；
[0018]当所述下载次数小于所述预设次数时，所述测试模块再次下载所述系统镜像文件；以及
[0019]当所述下载次数大于或者等于所述预设次数时，所述主控模块关闭所述测试模块。
[0020]优选地，所述测试模块通过所述收发线程将所述测试结果发送至所述主控模块之后，所述EMMC芯片测试方法还包括：
[0021]所述测试模块记录所述测试结果的发送次数；
[0022]所述测试模块判断是否在预设时间内接收到所述主控模块发送的确认信息；
[0023]当所述测试模块没有在预设时间内接收到所述主控模块发送的确认信息时，所述测试模块判断所述发送次数是否小于阈值；
[0024]当所述发送次数小于所述阈值时，所述测试模块再次将所述测试结果发送至所述主控模块；以及
[0025]当所述测试模块在预设时间内接收到所述主控模块发送的确认信息时，或者当所述发送次数大于或者等于所述阈值时，所述主控模块关闭所述测试模块。
[0026]优选地，所述测试模块通过所述收发线程将所述测试结果发送至所述主控模块包括：
[0027]所述测试模块通过所述收发线程将所述测试结果发送至所述传输模块，以使所述主控模块通过所述传输模块接收所述测试结果。
[0028]本专利技术进一步提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储程序指令，所述程序指令可被处理器执行以实现如上所述的EMMC芯片测试方法。
[0029]本专利技术进一步还提出一种EMMC芯片测试装置，所述EMMC芯片测试装置包括：
[0030]传输模块；
[0031]主控模块，用于通过所述传输模块发送系统镜像文件；以及
[0032]测试模块，用于通过所述传输模块下载所述系统镜像文件，并运行所述系统镜像文件，以启动测试线程和收发线程，所述测试模块还用于通过所述测试线程对插接于所述测试模块的EMMC芯片进行测试以生成测试结果，通过所述收发线程将所述测试结果发送至所述主控模块。
[0033]优选地，所述EMMC芯片测试装置包括若干测试模块，每一所述测试模块均包括用于插接所述EMMC芯片的EMMC测试座。
[0034]优选地，所述传输模块为USB拓展器，所述传输模块包括若干端口，所述端口与所述测试模块一一对应连接。
[0035]优选地，所述EMMC芯片测试装置还包括电源模块，所述电源模块分别与所述主控模块和所述传输模块电性连接。
[0036]本专利技术技术方案的有益效果在于：主控模块通过传输模块将系统镜像文件导入至测试模块，多个测试模块通过传输模块同时下载系统镜像文件。测试模块采用多线程的方式，通过测试线程根据系统镜像文件对插接的EMMC芯片进行兼容性测试，等待测试完成后，通过收发线程将测试结果发送至主控模块。EMMC芯片测试方法通过传输模块桥接主控模块与测试模块之间的数据通信，使得测试模块能够下载测试文件，即系统镜像文件，并回传相应的测试结果，从而完成对EMMC芯片的兼容性测试。
附图说明
[0037]图1为本专利技术实施例提供的EMMC芯片测试方法的流程图。
[0038]图2为本专利技术实施例提供的EMMC芯片测试方法的第一子流程图。
[0039]图3为本专利技术实施例提供的EMMC芯片测试方法的第二子流程图。
[0040]图4为本专利技术实施例提供的EMMC芯片测试方法的第三子流程图。
[0041]图5为本专利技术实施例提供的EMMC芯片测试方法的应用场景示意图。
[0042]图6为本专利技术实施例提供的EMMC芯片测试装置的框架结构图。
[0043]图7为本专利技术第一实施例提供的EMMC芯片测试装置的内部结构示意图。
[0044]图8为本专利技术第二实施例提供的EMMC芯片测试装置的内部结构示意图。
[0045]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0046]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的方案进行清楚完整的描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术中的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0047]需要说明，本专利技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0048]还需要说明的是，当元件被称为“固定于”或本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种EMMC芯片测试方法，其特征在于，所述EMMC芯片测试方法包括：主控模块通过传输模块将系统镜像文件发送至测试模块；所述测试模块通过所述传输模块下载所述系统镜像文件；所述测试模块运行所述系统镜像文件，并启动测试线程和收发线程；所述测试模块通过所述测试线程对插接于所述测试模块的EMMC芯片进行测试以生成测试结果；以及所述测试模块通过所述收发线程将所述测试结果发送至所述主控模块。2.根据权利要求1所述的EMMC芯片测试方法，其特征在于，所述系统镜像文件包括系统文件和测试程序，所述测试模块运行所述系统镜像文件包括：所述测试模块初始化所述系统文件；以及所述测试模块运行所述测试程序，以对所述EMMC芯片进行测试。3.根据权利要求2所述的EMMC芯片测试方法，其特征在于，所述测试模块通过所述传输模块下载所述系统镜像文件之后，所述EMMC芯片测试方法还包括：所述测试模块记录所述系统镜像文件的下载次数；所述测试模块判断所述系统镜像文件是否下载完成；当所述系统镜像文件下载失败时，所述测试模块判断所述下载次数是否小于预设次数；当所述下载次数小于所述预设次数时，所述测试模块再次下载所述系统镜像文件；以及当所述下载次数大于或者等于所述预设次数时，所述主控模块关闭所述测试模块。4.根据权利要求2所述的EMMC芯片测试方法，其特征在于，所述测试模块通过所述收发线程将所述测试结果发送至所述主控模块之后，所述EMMC芯片测试方法还包括：所述测试模块记录所述测试结果的发送次数；所述测试模块判断是否在预设时间内接收到所述主控模块发送的确认信息；当所述测试模块没有在预设时间内接收到所述主控模块发送的确认信息时，所述测试模块判断所述发送次数是否小于阈值；当所述发送次数小于所述阈...

【专利技术属性】
技术研发人员：覃义平，高伟，
申请(专利权)人：联和存储科技江苏有限公司，
类型：发明
国别省市：